GP-L700-324K is een 4K metallurgische microscoop met lange werkafstand van onderzoekskwaliteit, 4K Ultra HD, uitgerust met oneindig gecorrigeerde plan-achromatische lange-werkafstand-doelstellingen. 4K Ultra HD Metallurgische microscoop met lange werkafstand biedt voldoende werkafstand en levert vlakke, scherpe beelden over het hele gezichtsveld met goed gecorrigeerde chromatische aberratie en beeldveld kromming. Het ingebouwde 4K-beeldvormingssysteem legt fijne microdetails vast. Trinoculaire poort ondersteunt beeldanalysesoftware verbinding. Ideaal voor metallografisch onderzoek, inspectie van halfgeleiderwafels en workflows voor analyse van oppervlaktedefecten.
Deze 4K Ultra HD metallurgische microscoop met lange werkafstand is geschikt voor het testen van precisiecomponenten, geïntegreerde schakelingen en producten van verpakkingsmateriaal.
Mechanica:Volledig metalen constructie voor hoge stijfheid en trillingsbestendigheid. Extra lang werkafstand voor monsterobservatie op grote hoogte. Nauwkeurige grof-fijn scherpstelling zonder speling. Slijtvast handmatige XY mechanische fase. Het trinoculaire optische pad handhaaft de optische uitlijning bij het schakelen tussen objectieven.
Optiek:Oneindigheid gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische objectieven met harde anticondenscoating. Gereflecteerd licht 6V-30W halogeenlampverlichting.
Beeldvorming en meting:8,3 Megapixel 4K industriële CMOS-camera. Dubbele uitgang: HDMI + Gigabit-LAN poort, goede anti-interferentieprestaties voor gebruik in industriële omgevingen. Ondersteunt ingebouwde metingen op de monitor en pc-softwaremeting. Vooraf gekalibreerd in de fabriek; parameters blijven bestaan na het uitschakelen; nee dagelijkse kalibratie vereist. Dual-path opslag via U-schijf en PC-software. Scherptedieptesynthese en image-stitching alleen beschikbaar op pc-software. Secundaire ontwikkelingsinterface beschikbaar via Gigabit-LAN.
Bedrijfsomgeving:Werktemperatuur 10-35℃, relatieve vochtigheid 30-75% RH. Stabiel onder reguliere fabrieks-elektromagnetische omgeving. Vermijd zware trillingen, corrosief gas en zwaar stof.
Kwaliteit & Onderhoud:Volledige fabrieksinspectie. Demonteer optische modules niet. Regelmatig stofdicht reinigen verlengt de levensduur.
1. Vergroting:380-3800X hoge vergroting met vier snelheden voor korrel-en-chip-microstructuur observatie. Gewone metallurgische microscopen hebben een lagere maximale vergroting en wazige beelden bij hoog vermogen. en kan geen kleine metaalkorrels waarnemen.
2. Beeldvormingssysteem:Native 4K-camera van onderzoekskwaliteit, gesynchroniseerde oculair-en-monitorweergave. Gewone metallurgische microscopen gebruiken een low-definition 2K-camera en alleen oculairweergave.
3. Meting en opslag:Ingebouwde nauwkeurige meting op de monitor, foto-video-opname voor archivering van testbewijs. Gewone metallurgische microscopen hebben geen ingebouwde metingen en vereisen hiervoor pc-software al het werk voor het meten en opslaan van bestanden.
4. Toepassingsbereik:Geoptimaliseerd voor nauwkeurige inspectie van wafers, halfgeleiderchips en metaal granen. Gewone metallurgische microscopen zijn alleen geschikt voor eenvoudige observatie van metaalschijfjes met slechte prestaties voor monsters van fijne chipkwaliteit.
4K-camera ingebouwd in trinoculaire behuizing voor gelijktijdige weergave via oculair en monitor. Dubbele poortuitgang via HDMI en Gigabit-LAN verzendt ultraheldere micrografieken in realtime.
Precisie meerlaagse lens optisch pad met vierstapsvergroting; maximale digitale vergroting tot 3800X, leveren scherpe microstructuurdetails op micronniveau voor inspectie van wafers, spanen en korrels.
Gecoördineerde focusknoppen en versterkte lens-cilinderconstructie zorgen voor een stabiele, trillingsvrije scherpstelling, perfect geschikt voor fijne inspectie onder ultrahoge vergroting. Alleen handmatige scherpstelling.
Extra grote dikke vierkante metalen basis zorgt voor een stabiele gewichtsbalans, waardoor verschuiven of schudden tijdens het gewicht wordt geëlimineerd lang continu observatie met hoog vermogen.
Stevige zwart-witte metalen behuizing met afzonderlijke afneembare lichtbronmodule, minimalistisch professioneel ontwerp voor laboratoria en productielijnen voor halfgeleiders.
Geoptimaliseerd voor wafer-en-chip-inspectie; ook op grote schaal toegepast op metallografische analyse, geavanceerd materiaalonderzoek, academisch onderwijs en precisie-industrieel kwaliteitscontrolewerk.
4K foto- en video-opname, dubbele meetmodi (ingebouwd op het scherm + pc-software). Dubbele opslag via U-schijf & computer. De functies voor scherptedieptesynthese en beeldstitching draaien uitsluitend op ondersteunende pc-software. Secundaire ontwikkeling ondersteund via LAN-poort voor beeldarchivering, vergelijking en geavanceerde gegevensanalyse.
Halfgeleider en micro-elektronica (kerntoepassing):
Siliciumwafels, lithografische plakjes, IC-chips, MOS-buizen, PCB's, flexibele FPC-circuits, verpakte soldeerverbindingen.
Inspectiedoelen: microchipcircuitpatronen, defecten bij het etsen van wafels, krassen op de coating, verpakkingsbellen,
koudsoldeerverbindingen, oxidatie en pin-vervorming.
Metallografische metalen exemplaren en metaalsnijgereedschappen:
Gelegeerde metallografische secties, stalen plakjes, nauwkeurig gestempeld metalen hardware.
Inspectiedoelen: metaalkorrelstructuur, warmtebehandeling-metallografische analyse, micro-oppervlaktescheuren,
snijkant-chips, bramen, slijtagesporen en interne materiaalonzuiverheden.
Laboratoriumonderzoeksmonsters: kristal, poeder en dunne film:
Enkel-/polykristallen, metaalpoeder, chemisch poeder, optische coatingfilms, ultradunne filmmaterialen.
Observeer microkristalroosters, ultrafijne deeltjesmorfologie, filmdelaminering en microcoatingtexturen.
Opto-elektronische precisie-kunststofcomponenten:
LED-chips, lenzen van optisch glas, halfgeleiderverpakkingslijm.
Detecteer microporiën, nanokrassen, lijmdelaminering, belletjes en subtiele oneffenheden in het oppervlak.
Miniatuur precisiecomponenten:
Connectoren, klemmen, microveren, kleine precisiegestanste werkstukken.
Nauwkeurige meting op 4K-pixelniveau voor gaten, gatdiameters, steek- en oppervlaktehoogteverschillen; subtiel observeren
krimp-vervorming.
Universitaire laboratoria en hoogwaardige halfgeleiderkwaliteit:
Materiaalonderzoeksexperimenten, metallurgie-onderwijsanalyse, inspectie van inkomende en afgewerkte goederenwafels;
foto-video-archivering, export van nauwkeurige meet-QC-rapporten via pc.
Uitgerust met native 3840*2160 4K ultra-HD-beeldvorming. Geschikt voor wafer-metallografische inspectie en metaal-materiaal-analyse; toont duidelijk korrelgrenzen, microkrassen en kleine microdefecten.
Ontwerp met handmatige focus past bij laboratoriumonderzoeksmonsters en universitair materiaalonderzoek. Uniforme stabiele fijnafstemming ondersteunt langdurige observatie van statische monsters.
Onafhankelijke gesplitste coaxiale lichtbron voor halfgeleiderwafels, metaalmonsters en precieze PCB-plakken. Verticaal coaxiale verlichting onderdrukt metaalreflecterende schittering en herstelt echte metallografische texturen.
Dubbel vergrotingsbereik: 50-500x optische vergroting, 380-3800x digitale vergroting. Omvat beide volledige exemplaren overzicht en inspectie van microkorrels/microdefecten.
Ondersteunt ingebouwde metingen op het apparaat en pc-softwaremetingen. Uitgerust met HDMI en Gigabit-LAN dubbele uitgang havens. Foto's, video's en meetgegevens kunnen worden opgeslagen via een compatibele U-schijf of computer. Secundaire ontwikkeling ondersteund voor productielijnintegratie en traceerbaarheid van laboratoriumgegevens.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Item | Beschrijving |
| Productmodel | GP-L700-324K Metallurgische microscoop met lange werkafstand en 4K Ultra HD |
| Productcategorie | Hoogwaardige verticale metallurgische microscoop van onderzoekskwaliteit met gesplitste verticale verlichting Licht Bron |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchroon kijken, gesplitste onafhankelijke coaxiale verticale lichtbronmodule, metallurgische objectieflensset met hoge resolutie, 4K ultra-HD CMOS-beeldsensor, dubbel meetsysteem (op het apparaat ingebouwde nauwkeurige meting + pc-softwaremeting), HDMI+Gigabit-LAN tweekanaals signaal transmissie, dubbele opslagoplossing, open architectuur die docking voor secundaire ontwikkeling ondersteunt |
| Belangrijkste specificaties | Optische vergroting: 50/100/200/500×; Elektronische vergroting: 380/760/1520/3800×; Dubbele uitgang interfaces: HDMI + Gigabit-LAN-poort; 4K-opnameresolutie: 3840×2160; Focusmodus: Handmatig scherpstellen; Dubbele meetmodi: ingebouwde nauwkeurige meting + speciale pc-softwaremeting; Dubbele opslag modi: lokale U-schijfopslag + pc-softwareopslag; Functies van de monitorterminal: dimensionale meting, HD beeldweergave, foto-archivering; PC-terminalfuncties: dimensionale meting, foto-opslag; Opmerking: Ondersteunt de integratie van secundaire ontwikkeling. |
| Typische toepassingsscenario's | Wafer-&-chip-grain-observatie, halfgeleider-verpakkingsdefect-inspectie, metaalkorrel metallografische structuuranalyse, precisiecircuit-detectie van kleine fouten, elektronische componentstoringen analyse, nieuw-materiaal-laboratorium-wetenschappelijk onderzoek |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Fabrieksadres | Kunshan City, provincie Jiangsu, China (grenzend aan Shanghai) |
| Model | GP-L700-324K |
| Oplossing | 3840×2160 |
| Echte effectieve pixels | 8,3 Megapixels |
| Focusmethode | Handmatig scherpstellen |
| Optisch formaat | 1/1,7" |
| Pixelgrootte | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Uitvoermethode | HDMI + Gigabit Ethernet LAN-poort |
| Gedetailleerde functionele introducties die overeenkomen met elke uitvoerinterface | ① HDMI maakt verbinding met 4K-compatibele beeldschermen. Ingebouwde professionele firmware voor beeldverwerking
foto-opname, video-opname, dimensionale meting, beeldweergave en beeldvergelijking, bediend
met de muis in realtime. ② Gigabit LAN-poort maakt verbinding met routers, switches of computers voor een netwerk afbeelding transmissie. Computers binnen hetzelfde netwerksegment kunnen realtime video ontvangen en opname activeren via bijpassende software. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 3840×2160 Gigabit-LAN: 20 fps @1920×1080 |
| Scherptediepte-synthese | / |
| Beeldsteken | / |
| Meetmethode | Ingebouwd meetsysteem op de monitor + meting via pc-software |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4 schakelbare eenheden) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, radiaal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie toevoegen, automatische randdetectie, schaalbalk en meer |
| Opslagmethode | U-schijfopslag + pc-softwareopslag |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max. 1,4 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkelde meetfirmware gebaseerd op de Linux 3.1-kernel |
| Naamgeving van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving beschikbaar |
| Hoofd bekijken | 30° hellende trinoculaire kop van het scharniertype; Interpupilair aanpassingsbereik: 53-75 mm |
| Observatiemodi | Helderveld / schuine verlichting / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Verlichtingssysteem met vallend licht, 100-240V breedspanningsingang, verstelbaar gloeidraadcentrum, traploos instelbare lichtintensiteit. |
| Stellage | ① Schietrek, coaxiaal grof-fijn scherpstelmechanisme met vergrendelings- en begrenzingsinrichtingen;
Aflezingswaarde fijne beweging: 2 μm. Verlichting met gereflecteerd licht van een halogeenlamp. ② Helderveld reflector met variabele diafragma-stop, veldstop en kleurfilter-schakeleenheid. ③ Geel, blauw, groene filters en matglasplaat meegeleverd voor het optische pad van gereflecteerd licht. |
| Mechanische fase | Basisafmeting: 300 mm × 240 mm; Podiumafmetingen: 185 mm × 140 mm; X-Y-weg: 35 mm x 30 mm. Geschikt voor het observeren van werkstukken op relatief grote hoogte. |
| Lichtbron | 6V 30W halogeenlampkamer (alleen gereflecteerd licht). |
| Eenvoudige polarisatiefunctie | Push-pull-type polarisator en analysator geïnstalleerd |
| Elektronische interface | 1X C-mount camera-interface, niet-instelbare focus; CTV 0.5X is optioneel bij prijsverschil compensatie. |
| Oculairs | Twee WF10X/22 mm groothoek oculairs met individuele dioptrie-aanpassing |
| Neusstuk | ★Mingchang objectiefneusstuk met vijf gaten |
| Metallurgische doelstellingen | ★ Oneindig gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische doelstellingen ① PL L5X/0,12, werkafstand: 26,1 mm ×1 st ② PL L10X/0,25, werkafstand: 20,2 mm × 1 st. ③ PL L20X/0,40, werkafstand: 8,80 mm ×1 st ④ PL L50X/0,70, werkafstand: 3,68 mm × 1 st. ⑤ PL L100X/0,85, werkafstand: 0,40 mm (optioneel, niet inbegrepen in standaardpakket) |
| Optische vergroting | 50X, 100X, 200X, 500X (schakelbaar op vier niveaus) |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 380X, 760X, 1520X, 3800X (schakelbaar op vier niveaus); optioneel vergrotingsbereik: 190-1900X. |
Vrijwaring:Logo's en namen van bedrijven, universiteiten en onderzoeksinstellingen verschijnen op alleen deze website geven aan dat dergelijke entiteiten microscopen van het merk GAOPIN hebben gekocht of gebruikt. Hun uiterlijk zal dat niet zijn geïnterpreteerd als aankoop van dit exacte productmodel, en impliceert geen enkele commerciële goedkeuring, co-branding, aansluiting of gezamenlijk projectpartnerschap met deze externe organisaties.
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Huawei Electronics – Inspectie van inkomend materiaal en QC van de productielijn voor elektronische componenten
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Microscopisch-dimensionale inspectie voor geautomatiseerde precisie-bewerkte onderdelen
NIO Shanghai – Precisie-inspectie voor nieuwe energie-auto-onderdelen en kabelbomen
Tsinghua University – Onderwijs, laboratoriumbeeldvorming en experimentele data-archivering
Dabo Medical – Micromorfologie-analyse van implantaat-medische hulpmiddelen en biomaterialen
Fudan University – Micro-nanomaterialen en biomedisch microscopisch observatieonderzoek
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. werd officieel opgericht in 2011. Ons oprichtersteam heeft rijke rijkdommen opgebouwd optische-inspectie-instrumenten-industrie-ervaring vanaf 2005. Wij leveren full-cycle-diensten die productontwerp, interne R&D, wereldwijde verkoop en uitgebreide after-sales-onderhoudsdiensten. Onze Het deskundige engineeringteam heeft meer dan tien jaar ervaring in de ontwikkeling van optische instrumenten stabiele technische prestaties en betrouwbare productkwaliteit.
GAOPIN levert meer dan honderd categorieën optische testinstrumenten industriële en laboratoriumklanten wereldwijd. Wij ontwikkelen flexibele, kosteneffectieve microscopie-oplossingen op maat voor diverse-industriële-kwaliteitscontrole en laboratoriumanalyseprojecten.
Voor buitenlandse kopers bieden wij responsieve, wereldwijde technische ondersteuning, inclusief online-consulten op afstand, praktisch- video-tutorials en live-training voor bediening van apparatuur op afstand. Onze productiefaciliteit bevindt zich in Kunshan, Jiangsu Provincie (dicht bij Shanghai). Fabrieksbezoeken ter plaatse en virtuele online rondleidingen zijn welkom. Neem dan contact op met onze verkoopteam voor authentieke monstertestfoto's gemaakt door deze metallurgische microscoop met lange werkafstand 4K Ultra HD om real-imaging-prestaties te evalueren.
A1: Uitgerust met dubbele interfaces van HDMI high-definition uitgang en LAN-poort. Het ondersteunt real-time beeldvorming door verbinden rechtstreeks op een monitor en computerverbinding via netwerkkabel. Zonder USB- en WIFI-interfaces ondersteunt het beide onafhankelijke bediening en computer-samenwerking.
A2: Het ondersteunt 4K ultra-HD foto- en video-opnamen en slaat bestanden op via FAT32 U-schijf (binnen 32G). Het ondersteunt dubbel nauwkeurige metingen op het scherm en pc-software, inclusief maatmarkering, gegevensopslag en meetrapport-export functies, die voldoen aan de vereisten voor nauwkeurige detectie en archivering.
A3: Controleer de voeding van het apparaat en de bijpassende adapter, maak de HDMI-kabel stevig vast, schakel de monitor naar de overeenkomstige HDMI- signaalkanaal, start het apparaat opnieuw op om problemen met een zwart scherm en geen beeld op te lossen.
A4: Door gebruik te maken van een zeer nauwkeurig handmatig focusontwerp, past u het focushandwiel langzaam aan voor een helder beeld. Objectieflens vergrendelen stevig, plaats het monster plat en verwijder regelmatig stof en vlekken op de lens met professioneel gereedschap om ervoor te zorgen dat de lens helder en helder is nauwkeurige beeldvorming.
A5: Zorg ervoor dat het apparaat en de computer zijn ingesteld op hetzelfde IP-segment, computer-firewall en onderscheppingssoftware uitschakelen, Sluit de netwerkkabel opnieuw stevig aan, start het apparaat en de ondersteunende meetsoftware opnieuw op voor een normale verbinding.
A6: Het apparaat ondersteunt alleen FAT32 U-schijven binnen 32G en ondersteunt geen NTFS en exFAT U-schijven met grote capaciteit. Voor herkenningsfout, sluit de U-schijf opnieuw aan of formatteer hem, of vervang hem door een compatibele U-schijf voor normale bestandsopslag.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
