GP-L600-462H is een 4K Ultra HD Autofocus metallurgische microscoop voor waferinspectie. Het adopteert oneindig gecorrigeerd optisch systeem voor snel schakelen tussen helderveld- en donkerveldobservatiemodi. Bright-field wordt gebruikt voor routinematige metallografische microstructuurobservatie; donkerveld zorgt voor een verbeterd contrast voor kleine oppervlaktedefecten, krassen en deeltjesonzuiverheden. De trinoculaire poort ondersteunt camera-installatie en metallurgische analyse-software-verbinding. Zeer geschikt voor metallografisch onderzoek, halfgeleiderinspectie en workflows voor detectie van defecten aan werkstukoppervlakken.
Dit instrument is geschikt voor microscopische observatie van metallografische microstructuren en oppervlaktemorfologie. Het dient als een ideaal onderzoeksinstrument voor de disciplines metallurgie, mineralogie en precisie-engineering.
4K-camera ingebouwd in trinoculaire behuizing voor gelijktijdige weergave via oculair en monitor. Uitgang via meerdere poorten via HDMI, USB3.0 en WIFI verzenden ultra-HD microbeelden in realtime.
Ondersteunt DIC, helderveld-, donkerveld- en gepolariseerd lichtobservatie. 4-staps vergroting, optisch 50-500X, max digitaal vergroting tot 1900X, voor scherpe details voor inspectie van microkenmerken.
Ingebouwde hardware-autofocusmodule, handmatige scherpstelmodus is ook beschikbaar. Realiseert soepele, trillingsvrije scherpstelling en verbetert de efficiëntie bij het testen van massamonsters.
Dikke geïntegreerde metalen standaard en podiumbeugel met laag zwaartepunt, voor stabiele prestaties lange duur laboratorium observatie.
Modulaire optische lay-out met stijve metalen structuur, zeer geschikt voor laboratoria, onderzoeksinstituten en halfgeleider productiefaciliteiten.
Ideaal voor wafer-en-chip-inspectie; ook op grote schaal toegepast voor halfgeleidertests, metallografische analyse, materiaalonderzoek en precisie-kwaliteitsevaluatiewerk.
4K foto- en video-opname, dubbele meetmodi (ingebouwd op het scherm + pc-software). Dubbele opslag via U-schijf & computer. Scherptediepte-synthese werkt zowel op de monitor als op pc-software; De functie voor het samenvoegen van afbeeldingen is alleen beschikbaar in PC-software. Secundaire ontwikkeling ondersteund voor beeldarchivering, vergelijking en geavanceerde analyse.
1. Optische observatiemodi:Ondersteunt multi-mode optica, waaronder DIC, helderveld en donkerveld en gepolariseerd licht voor observatie van kristallen en coatingtexturen. Gewone metallurgische microscopen bieden alleen fundamenteel helderveld en kan geen ultradunne lagen en kristalmicrostructuren visualiseren.
2. Beeldvormingssysteem:Native 4K ultra-HD-camera, gesynchroniseerde oculair-en-monitorweergave. Gewoon metallurgische microscopen leveren low-definition 2K-beeldvorming en alleen oculairweergave, met wazige, vervormde beelden onder hoge vergroting.
3. Vergrotingsaanpassing:190-1900X zoom met vier snelheden, voor macrooverzicht en microdetail inspectie. Gewone metallurgische microscopen hebben minder vergrotingsmechanismen en wazige beelden bij hoog vermogen.
4. Meting en registratie:Ingebouwde nauwkeurige meting op de monitor met foto-video-opname functie. Gewone metallurgische microscopen hebben geen ingebouwde metingen en vereisen voor iedereen pc-software meet- en archiveringswerkzaamheden.
Mechanica:Volledig metalen constructie voor hoge stijfheid en trillingsbestendigheid. Hardware-autofocus module uitgerust, handmatige scherpstelling is ook beschikbaar. Nauwkeurige grof-fijn scherpstelling zonder speling. Hoge precisie handmatige XY mechanische tafel met lage slijtage en minimale speling. Het trinoculaire optische pad blijft optisch co-uitlijning tijdens het wisselen van de vergroting.
Optiek:Oneindigheid gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische objectieven met harde anticondenscoating. Doorvallend gereflecteerde 12V-100W halogeenlampverlichting.
Beeldvorming en meting:4K industriële CMOS-camera. Meerdere uitgangen: HDMI + USB3.0 + WIFI, goed anti-interferentieprestaties voor gebruik in industriële omgevingen. Ondersteunt ingebedde metingen op de monitor en PC-softwaremeting. Dual-path opslag via U-schijf en PC-software. Scherptediepte-synthese werkt beide on-monitor en pc-software; image-stitching uitsluitend ondersteund door pc-software. Secundaire ontwikkelingsinterface beschikbaar via USB3.0/WIFI.
Bedrijfsomgeving:Werktemperatuur 10-35℃, relatieve vochtigheid 30-75% RH. Stabiel onder regulier elektromagnetische fabrieksomgeving. Vermijd zware trillingen, corrosief gas en zwaar stof. Houd de WIFI-module uit de buurt sterke signaalinterferentiebronnen.
Kwaliteit & Onderhoud:Volledige fabrieksinspectie. Demonteer geen optische modules of autofocusmodule. Regelmatig stofvrij reinigen verlengt de levensduur.
Halfgeleider en micro-elektronica (kern DIC-toepassing):
Siliciumwafels, lithografische plakjes, IC-chips, PCB's, flexibele FPC-circuits, soldeerverbindingen, verpakkingscomponenten.
Inspectiedoelen: topografie van het chipoppervlak, wafer-etspatronen, nanokrassen, koudsoldeerverbindingen,
oxidatie en pinvervorming. Differential-Interference-Contrast (DIC) benadrukt subtiele verschillen in oppervlaktehoogte
voor observatie van microcircuitsegmenten binnen een vergrotingsbereik van 190-1900×.
Metallografische metalen exemplaren:
Gelegeerde metallografische secties, nauwkeurig gestempelde metalen hardware.
Inspectiedoelen: metaalkorrelstructuur, warmtebehandelingsanalyse, micro-oppervlaktescheuren, randafbrokkeling, fijne bramen,
slijtagesporen en interne materiële onzuiverheden. Helderveld-/donkerveld-/gepolariseerd-lichtmodi beschikbaar voor
observatie van metaal-kristalstructuur.
Monsters van laboratoriumonderzoek: kristal, poeder, vezels en dunne film:
Chemische kristallen, metaalpoeder, koolstofvezel, textielvezels, optische coatingfilms.
Observeer de kristalmorfologie, deeltjescontouren, filmdelaminering en microcoatingtexturen; gepolariseerd licht
identificeert kristalpolarisatiekarakteristieken.
Opto-elektronische precisie-kunststofcomponenten:
LED-chips, optische lenzen, glassubstraten, lijm voor halfgeleiderverpakkingen.
Detecteer microporiën, nanokrassen, lijmdelaminering, belletjes en subtiele oneffenheden in het oppervlak.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:
Connectoren, aansluitingen, microveren, kleine gestanste werkstukken.
Nauwkeurige meting op 4K-pixelniveau voor gaten, gatdiameters, steek- en oppervlaktehoogteverschillen; DIC visualiseert
subtiele krimpvervorming.
Universitaire laboratoria en hoogwaardige halfgeleiderkwaliteit:
Materiaalonderzoeksexperimenten, inspectie van binnenkomende goederen van wafers, observatie van metallografische monsters; foto-video
archivering, export van nauwkeurige meetrapporten via pc.
Uitgerust met native 3840*1080-compatibele 4K-beeldvorming. Geschikt voor metallografische analyse en inspectie van chipcircuits en het genereren van professionele testrapporten; laat duidelijk metaalkorrels, microkrassen en kleine microdefecten zien.
Uitgerust met hardware-autofocus, geschikt voor massaproductie-inspectie en frequente vervanging van monsters. Bereikt snel scherpstellen na monsterbeweging zonder herhaalde handmatige aanpassing om de testefficiëntie te verbeteren. Handmatige scherpstelmodus is dat ook beschikbaar voor observatie van statische monsters.
Standaard handmatig bewegend podium en verticaal trinoculair metallurgisch optisch pad voor chipplakken, klein tot middelgroot PCB's en metalen exemplaren, waardoor reflecterende schittering effectief wordt onderdrukt voor metallografische inspectie. Motoraangedreven XY-trap kan zijn geselecteerd als optionele upgrade.
Dubbel vergrotingsbereik: 50-500x optische vergroting, 190-1900x digitale vergroting. Omvat beide volledige exemplaren overzicht en inspectie van microkorrels/microdefecten.
Ondersteunt ingebouwde metingen op het apparaat en pc-softwaremetingen. Uitgerust met HDMI, USB3.0 en WIFI-uitgang havens. Foto's, video's en meetgegevens kunnen worden opgeslagen via U-schijf of computer. Secundaire ontwikkeling ondersteund voor integratie van productielijnen en traceerbaarheid van laboratoriumgegevens.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Item | Beschrijving |
| Product | GP-L600-462H Waferinspectie metallurgische microscoop met 4K Ultra HD en autofocus |
| Categorie | Trinoculaire metallurgische microscoop van laboratoriumonderzoek, ondersteunt DIC differentiële interferentie, helderveld/donkerveld/gepolariseerd licht observatie |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchroon kijken, geïntegreerde verlichting in meerdere modi (helderveld, donkerveld, polarisator, differentiële interferentie-contrast DIC), uiterst nauwkeurige professional metallurgisch objectieflensset, 4K ultra-HD CMOS-beeldsensor, hardware autofocusmodule, driekanaals transmissie (HDMI+USB3.0+WIFI), dubbel meetsysteem, scherptedieptesynthese en algoritme voor beeldstitching, open architectuur die de integratie van secundaire ontwikkeling ondersteunt |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500×; Elektronische vergroting: 190/380/760/1900×; Drievoudige uitgangspoorten: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-opnameresolutie: 3840×2160; Hardware-autofocus uitgerust (ook handmatige scherpstelling). beschikbaar); Dubbele meetmodi: ingebouwde nauwkeurige meting + aangepaste pc-softwaremeting; Dubbele opslagmodi: U-schijfopslag + computersoftwareopslag; Monitorterminal ondersteunt dimensionaal meting, HD-beeldvoorbeeld, foto-video-opname, scherptediepte-synthese; PC-terminal ondersteunt dimensionale metingen, bestandsopslag, scherptedieptesynthese en beeldstitching; Steunen voor de hele eenheid secundaire ontwikkelingsintegratie. |
| Typische toepassingen | Halfgeleider-wafer-fout-analyse, metaal-materiaal metallografische inspectie, coating-dunne-film- microstructuurobservatie, precisie-halfgeleiderpakkettesten, geavanceerd materiaallaboratoriumonderzoek, medische-biomateriaal-observatie, micro-defect-detectie voor elektronische componenten |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (grenzend aan Shanghai) |
| Model | GP-L600-462H |
| Oplossing | 3840×2160 |
| Echte effectieve pixels | 8.300.000 pixels |
| Focusmethode | autofocus |
| Optisch formaat | 1/1,8" |
| Pixelgrootte | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Uitvoermethode | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Gedetailleerde functionele introducties die overeenkomen met elke uitvoerinterface | ① HDMI maakt verbinding met 4K-compatibele beeldschermen. Ingebouwde professionele firmware voor beeldverwerking
hardwaregestuurde autofocus, foto-opname, video-opname, dimensionale meting, beeldweergave
en
beeldvergelijking, in realtime met de muis bediend. ② USB 3.0 wordt aangesloten op de computer, meegeleverd hoogwaardige professionele beeldverwerkingssoftware voor het vastleggen van foto's, maatmetingen, scherptedieptefusie en beeldstitching. ③ WIFI-module kan worden aangesloten op laptops of mobiele apparaten; realtime beeldoverdracht, fotografie en opslag via bijpassende software. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 3840×2160 USB3.0: 30 fps bij 3840×2160; 60 fps @1920×1080 WIFI: 30 fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Scherptediepte-synthese | Ondersteund door zowel HDMI on-monitor firmware als pc-software |
| Beeldsteken | Alleen ondersteund door pc-software |
| Meetmethode | Ingebouwd meetsysteem op de monitor + meting via pc-software |
| Meetnauwkeurigheid | 0,002-0,005 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4 schakelbare eenheden) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, radiaal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie toevoegen, automatische randdetectie, schaalbalk en meer |
| Opslagmethode | U-schijfopslag + pc-softwareopslag |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkelde meetfirmware gebaseerd op de Linux 3.1-kernel |
| Naamgeving van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving beschikbaar |
| Hoofd bekijken | 30° hellende trinoculaire kop van het scharniertype; Interpupilair aanpassingsbereik: 54-76 mm; twee bundelsplitsingen verhoudingen: 100:0, 0:100 |
| Observatiemodi | ★ Helderveld / Donkerveld / Gepolariseerd licht / DIC (DIC-hardware is optioneel) |
| Verlichtingssysteem | Doorvallend-gereflecteerd verlichtingssysteem met vallend licht, 100-240V breedspanningsingang, instelbaar filament midden, traploos instelbare lichtintensiteit. |
| Stellage | ① Doorvallend-gereflecteerd rek voor twee doeleinden; coaxiaal grof-fijn scherpstelmechanisme met lage handpositie.
Grofverstelslag: 33 mm; Nauwkeurigheid fijnafstelling: 0,001 mm. Voorzien van vergrendeling en begrenzing
apparaten. ② Helderveld- en donkerveldreflector met variabele diafragmastop, veldstop en verstelbare middenmontage. ③ Interferentiefilter en kleurbalansplaat (wit licht) voor gereflecteerd licht optisch pad. ④ Licht-donkerveld-schakelapparaat; slots voor kleurenfilters en polariserende accessoires. |
| Mechanische fase | 4-inch handmatige mechanische fase. Podiumafmetingen: 230 mm × 215 mm; X-Y-weg: 105 mm x 105 mm. Glas monsterdragerplaat voor zowel doorgelaten als gereflecteerde observatie. |
| Lichtbron | 12V 100W halogeenlampkamer (gereflecteerd licht); 12V 100W halogeenlamp (doorvallend licht). |
| Polarisatiefunctie | 30 graden polarisatoraansluiting (gereflecteerd licht); 360° draaibare analysatoraansluiting voor gepolariseerd licht observatie. |
| Oculairs | Twee PL10X/22 mm groothoek oculairs met verstelbare dioptrie (één oculair met dradenkruis schaal). |
| Neusstuk | ★ Helder-donkerveld-neusstuk met vijf gaten |
| DIC-functie | Differentiële interferentie-contrastfunctie; Accessoires voor DIC-insteekkaarten zijn optioneel en niet inbegrepen binnen standaard configuratie. |
| Elektronische interface | 0,5X C-mount camera-interface, instelbare focus; CTV 1X is optioneel met prijsverschilcompensatie. |
| Metallurgische doelstellingen | ★ Helder-donkerveld semi-destructieve metallurgische doelstellingen ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, Werkend Afstand: 9,00 mm × 1 st ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, werkafstand: 9,00 mm × 1 st. ③ OLPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Werkafstand: 3,40 mm × 1 st ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, werkafstand: 7,50 mm × 1 st. ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, werkafstand: 2,10 mm (optioneel, niet inbegrepen in standaardpakket) |
| Optische vergroting | 50X, 100X, 200X, 500X (schakelbaar op vier niveaus) |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 190X, 380X, 760X, 1900X (schakelbaar op vier niveaus); optioneel vergrotingsbereik: 380-3800X. |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Testen van opto-elektronische componenten en foutanalyse
Xi'an Jiaotong Universiteit - Experimentele observatie op het gebied van geavanceerde materiaalwetenschappen en precisie-optica
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Geavanceerd optisch onderzoek & karakterisering van optische componenten
Tianjin University of Commerce – Materiaallaboratoriumonderwijs, micro-imaging en experimentele data-archivering
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Microanalyse van anorganische keramiek en nieuwe energiematerialen
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detectie van afmetingen en microfouten voor nauwkeurig bewerkte onderdelen
A1: Uitgerust met HDMI-, USB3.0- en WIFI-interfaces. Het ondersteunt directe monitorweergave en bekabelde/draadloze pc verbinding voor collaboratieve detectie.
A2: Het ondersteunt 4K ultra-HD foto- en video-opname. Bestanden kunnen worden opgeslagen op een FAT32-geformatteerde U-schijf van maximaal 32 GB capaciteit of computeropslag. Ondersteunt nauwkeurige metingen op het scherm en via pc-software, met gegevensbesparing en rapport-export-functies.
A3: Controleer de voeding en bijpassende adapter; maak de HDMI-kabel stevig vast en schakel de monitor naar de juiste signaalbron; start het apparaat opnieuw op om problemen met zwart scherm, geen beeld en schermflikkering op te lossen.
A4: Dit model ondersteunt hardware-autofocus en dubbele modi voor handmatige scherpstelling. U kunt autofocus inschakelen voor snelle beeldvorming of handmatig afstemmen. Vergrendel de objectieflens stevig, leg het monster plat en verwijder regelmatig lensstof en vingerafdrukken scherp beeldvorming.
A5: Het ondersteunt USB-bekabelde en WIFI draadloze pc-verbinding. Installeer officiële meetsoftware, schakel de firewall uit of onderscheppingsprogramma's, sluit de hardware opnieuw aan en start de software opnieuw op voor normale herkenning.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. werd officieel opgericht in 2011. Ons oprichtersteam heeft rijke rijkdommen opgebouwd optische-inspectie-instrumenten-industrie-ervaring vanaf 2005. Wij leveren full-cycle-diensten die productontwerp, interne R&D, wereldwijde verkoop en uitgebreide after-sales-onderhoudsdiensten. Onze Het deskundige engineeringteam heeft meer dan tien jaar ervaring in de ontwikkeling van optische instrumenten stabiele technische prestaties en betrouwbare productkwaliteit.
GAOPIN levert meer dan honderd categorieën optische testinstrumenten industriële en laboratoriumklanten wereldwijd. Wij ontwikkelen flexibele, kosteneffectieve microscopie-oplossingen op maat voor diverse-industriële-kwaliteitscontrole en laboratoriumanalyseprojecten.
Voor buitenlandse kopers bieden wij responsieve, wereldwijde technische ondersteuning, inclusief online-consulten op afstand, praktische video-tutorials en live-training voor bediening van apparatuur op afstand. Onze productiefaciliteit bevindt zich in Kunshan, Provincie Jiangsu (dicht bij Shanghai). Fabrieksbezoeken ter plaatse en virtuele online rondleidingen zijn welkom. Neem contact op onze verkoopteam voor authentieke monstertestfoto's gemaakt met deze Wafer Inspection Metallurgical Microscope met 4K Ultra-HD en Autofocus om de prestaties van echte beeldvorming te evalueren.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
