Deze metaalanalyse-metallurgische microscoop met 4K Ultra HD is ontwikkeld voor micro-inspectie van materialen en is een krachtige metaalanalyse-metallurgische microscoop. Microscoop met 4K UltraHD. Het beschikt over hoogwaardige, oneindig gecorrigeerde optica en levert scherpe beelden voor zowel transparante als transparante beelden ondoorzichtig monsters. Het modulaire ontwerp ondersteunt flexibele upgrades na verkoop van functies voor helder veld en gepolariseerd licht. Versterkt anti-vibratie chassis elimineert beeldverschuiving bij sterke vergroting. Gebruiksvriendelijke bediening en ruim podium maken langdurig continu testen mogelijk. Selecteerbare gecombineerde modules verlagen de vervangingskosten van de hele machine, ideaal voor professioneel industrieel inspectie- en metallurgisch analysewerk.
4K-camera geïntegreerd met trinoculair metallurgisch frame, waardoor gelijktijdige oculair- en schermweergave mogelijk is. Dubbele uitgang poorten: HDMI en Gigabit-LAN voor real-time ultraheldere micro-beeldopname.
Optische vergroting 50-600 ×, maximale digitale vergroting 4560 × met objectiefzoom met vier snelheden. Precisie optisch pad legt kleine microdetails vast van halfgeleiders, poeders en vezelmonsters.
De dikke basis van gegoten aluminium garandeert een evenwichtige gewichtsverdeling, vrij van wiebelen of verschuiven tijdens langdurig gebruik slice-inspectie en materiaalanalyse.
Minimalistische wit-blauwe trinoculaire lay-out, professionele laboratoriumesthetiek voor onderzoekslaboratoria en industrieel kwaliteitscontrole workshops.
Zeer geschikt voor het testen van halfgeleiderwafels, metaalmetallografische analyse, poeder-en-vezelobservatie, universitair onderzoek en testen van de kwaliteit van componenten.
Ondersteunt native 4K-foto- en video-opname. Dubbele meetmodi: ingebouwde meting op de monitor en PC-softwaregebaseerd meting. Dubbele opslag: lokale opslag op USB-flashdrive + archivering via pc-software. Scherptediepte stapelen en image-stitching is beschikbaar via pc-software; secundaire ontwikkelingsinterface ondersteund voor handig beeldarchivering, vergelijking en geavanceerde data-analyse.
Binoculair kijken en synchrone elektronische observatie:Gesynchroniseerde weergave tussen oculair en monitor. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen kijken via het oculair; extra camera-accessoires zijn vereist voor schermuitvoer.
Native 4K ultra-high-definition beeldvorming:Levert 3840 × 2160 4K-resolutie. Meest conventioneel metallurgische microscopen zijn beperkt tot een resolutie van 1080P.
Interfaces met dubbele uitgang:HDMI + Gigabit-LAN-netwerkpoort. Meestal traditionele metallurgische apparaten hebben alleen een PC-USB-aansluiting en hebben geen netwerktransmissiemogelijkheden.
Dubbele meetmodi:Offline ingebouwde metingen op de monitor plus pc-softwaregebaseerde metingen. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen metingen aan de pc-zijde zonder in de hardware ingebouwde meetfunctie.
Dubbele opslagmodi:Offline USB-flashdrive-opslag en pc-softwareopslag; gegevens opslaan met of zonder host-PC. Conventionele modellen vereisen een pc voor beeldopslag.
Geavanceerde beeldverwerkingsfuncties op pc:Functies voor het stapelen van scherptediepte en het samenvoegen van afbeeldingen zijn beschikbaar via ondersteunende pc-software. Algemene metallurgische microscopen hebben dergelijke algoritmefuncties niet.
Secundaire ontwikkeling ondersteund:Gigabit-LAN maakt systeemintegratie mogelijk voor geautomatiseerde productielijnimplementatie. Algemene metallurgische microscopen kunnen secundaire ontwikkeling niet ondersteunen integratie.
Modulair uitbreidbaar optisch pad:Ondersteunt het toevoegen van gepolariseerd licht en andere observatiemodules zonder de hele unit te vervangen. Gewone digitale microscopen missen een speciaal metallurgisch optisch pad en kunnen dat ook niet observeer fijne metallurgische microstructuren.
Door gebruik te maken van een native 3840 × 2160 4K industriële beeldsensor en gekalibreerd met nationale standaard metallurgische kalibratieglaasjes, het apparaat bereikt een high-fidelity herstel van microscopische morfologieën zoals metaalkorrels structuren, microtexturen van halfgeleiderwafels, vormen van poederdeeltjes en eigenschappen van vezelweefsel. Het realiseert zich uniforme full-field beelddefinitie zonder perifere onscherpte of signaalverzwakking.
Uitgerust met een viertraps objectief variabel vergrotingssysteem, dekt het instrument een totale vergroting bereik van 380-4560×. Het voldoet aan dubbele toepassingsvereisten: macroscopisch scannen met laag vermogen en volledige weergave ultra-high-power microscopische microstructuur fijne analyse, volledig toepasbaar op universitair wetenschappelijk onderzoek, materiaalanalyse en industriële hoge-precisiekwaliteitsinspectie.
De ingebedde professionele metallurgische meetmodule ondersteunt zeer nauwkeurige dimensionele berekeningen en realtime grafische annotatie. Het integreert high-definition snapshots met één klik en langdurige dynamische video-opnames functies. Alle inspectiegegevens en beeldbestanden ondersteunen export en permanente archivering en bieden ondersteuning voor geldige gegevens academisch- experimentele rapporten en traceerbaarheidssystemen van industriële kwaliteit.
De professionele trinoculaire optische buis realiseert synchrone optische oculairobservatie en digitale weergave-imaging. Het doorgelaten en gereflecteerde verlichtingssysteem met twee paden is compatibel met ondoorzichtige metalen exemplaren, transparante poedervezel gesneden monsters en halfgeleiderwafelmaterialen. De precisie XY-as mechanisch bewegend podium beschikt over ultrasoepele transmissie en hoge positioneringsnauwkeurigheid, waardoor efficiënte en nauwkeurige monsterdetectie mogelijk is.
Halfgeleider en micro-elektronica:Siliciumwafels, fotolithografische plakjes, IC-chips, printplaten, FPC flexibele circuits. Inspectiedoelen: microchipcircuits, coatingdefecten, wafelfouten, koude soldeerdefecten, circuitkrassen en pin-vervorming; observeer micron-plakstructuren onder een maximale vergroting van 4560 ×.
Metallografische metalen exemplaren:Metallografische schijfjes, staallegeringen, boren, frezen, precisie-gestempelde hardware. Inspectiedoelstellingen: metallografische korrelstructuuranalyse, identificatie van warmtebehandelingsmateriaal; detecteren randafbrokkeling, microscheurtjes, bramen en schuurdiepte.
Laboratoriummonsters: Poeder en vezels:Metaalpoeder, chemisch poeder, koolstofvezel, textielvezel, dunnefilmmaterialen. Inspectiedoelstellingen: Observeer de deeltjesmorfologie, vezeltextuur, filmdelaminering en micro-materiaal-structuren.
Opto-elektronische en precisie-kunststof onderdelen:LED-chips, optische lenzen, spuitgietonderdelen, afdichtingslijm. Inspectiedoelen: Detecteer microporiën, oppervlaktevlekken, ruwe randen, lijmbelletjes en kleine cosmetische gebreken.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:Connectoren, terminals, microveren, miniatuur-gestempelde werkstukken. Inspectiedoelen: Observeer kleine openingen en vlakheid van de krimp; op pixelniveau uitvoeren nauwkeurige meting van lengte, gatdiameter en spoed.
Laboratorium- en industriële QC-archivering:Materiaalonderzoekexperimenten, inkomende en afgewerkte goederen monstername-inspectie; foto- en video-archivering voor defecte bewijsstukken en export van formele QC-metingen rapporten.
Max. 600× optische vergroting en tot 4560× digitale vergroting met native 3840×2160 4K-resolutie. Het duidelijk toont kleine structuren zoals metaalkorrels, wafeltexturen, ultradunne coatings en microscheuren, ideaal voor hoogwaardige analyse van chips, nieuwe materialen en gegalvaniseerde onderdelen.
Twee meetoplossingen: snelle ingebouwde meting op de monitor, uiterst nauwkeurige professionele meting via PC-software. Twee opslagmethoden: lokale opslag op USB-flashdrive en batch-archivering op pc voor afbeeldingen en meetgegevens.
Trinoculair synchroon optisch pad maakt gelijktijdig kijken via binoculaire oculairs en 4K-monitor mogelijk. Meerdere operators kunnen hetzelfde micromonster samen controleren, perfect voor universitair materiaalonderwijs QC-dubbele controle en R&D-teambespreking om verkeerde inschattingen te verminderen.
Professioneel metallurgisch podium met meerdere doelstellingen, geschikt voor metalen exemplaren, PCB-coatings, halfgeleiderchips, mineraalschijfjes en dunnefilmmaterialen. Coaxiale grove en fijne handmatige scherpstelling met zware anti-vibratie body, stabiel voor inkomende inspectie, onderzoek naar nieuwe materialen en langdurige statische laboratoriumanalyse.
Uitgerust met een Gigabit-LAN-poort, ondersteunt netwerkbeeldoverdracht en secundaire ontwikkelingsdocking. Geschikt voor multi-station-lab-beheer en geautomatiseerde fabriekswerkstation-integratieprojecten.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Entiteit | Beschrijving |
| Product | GP-L300-324K Metallurgische microscoop voor metaalanalyse met 4K Ultra HD |
| Categorie | Industriële onderzoekskwaliteit trinoculaire 4K krachtige metallografische inspectie- en meetmicroscoop |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchrone observatie, krachtige speciale metallurgische techniek objectieflensgroep, 4K ultra-high-definition CMOS-beeldsensor, dubbele digitale meetmotor (op het scherm en PC-software), HDMI + Gigabit-LAN tweekanaals signaaloverdracht, dubbele opslagtechnologie, scherptediepte aan pc-zijde stapelen & image-stitching-algoritme, open architectuur ter ondersteuning van secundaire ontwikkeling |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/400/600 ×; Elektronische vergroting: 380/760/3040/4560 ×; Dubbele uitgang poorten: HDMI + Gigabit-LAN; Opnameresolutie: 3840 × 2160 (4K); Handmatig scherpstellen; Dubbele meetmodi: ingebouwd Meting op het apparaat + professionele pc-software-meting *(0,001 mm, kleinere meettolerantie kan zijn bereikt onder een hogere vergroting. Resultaten onder voorbehoud van kalibratie, vergroting en monstername voorwaarden)*; Dubbele opslag: lokale opslag op USB-flashdrive *(Alleen FAT32-geformatteerde USB-flashdrive tot 32 GB ondersteund)* + computerbestandsopslag; Monitorterminal ondersteunt HD-beeldvoorbeeld, dimensionale metingen, foto-&- video-opname; PC-terminal ondersteunt metingen, scherptediepte-stapeling, beeld-stitching en beeldarchivering, compatibel met secundaire ontwikkelingsintegratie |
| Typische toepassingen | Halfgeleiderwafelinspectie, metaal-metallografische structuuranalyse, poeder-&-vezel-microstructuur- detectie, inspectie van legeringskorrels, testen van materiaalcoatingdikte, analyse van PCB-dwarsdoorsneden, precisie-analyse van defecten aan elektronische componenten, universitair laboratorium-onderzoek naar nieuwe materialen, nieuwe-energie-materiaal-kwaliteitscontrole |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (nabij Shanghai) |
| Productmerk | GAOPIN |
| Productmodel | GP-L300-324K |
| Oplossing | 3840 × 2160 |
| Effectieve pixels | 8,3 megapixel |
| Methode van scherpstellen | Handmatig scherpstellen |
| Sensor optisch formaat | 1/1,7" |
| Pixelgrootte | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Uitgangsinterfaces | HDMI + Gigabit-LAN |
| Gedetailleerde functionele introducties die overeenkomen met elke uitvoerinterface | ① HDMI kan verbinding maken met 4K-schermen, een ingebed professioneel beeldverwerkingsprogramma en functies integreren
zoals autofocus, foto-opname, groottemeting, beeldweergave, beeldvergelijking, enz., met
realtime muisbediening. ② LAN Gigabit Ethernet-poort, die kan worden aangesloten op routers, switches, of computers voor netwerkoverdracht van videobeelden. Computers binnen hetzelfde netwerksegment kunnen dat wel tegelijkertijd beelden in realtime verzenden via beeldverwerkingssoftware en dergelijke functies uitvoeren als foto's maken en opslaan. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 3840 × 2160 Gigabit-LAN: 20 fps @1920 × 1080 |
| Stapelen met scherptediepte | Alleen beschikbaar via pc-software |
| Afbeelding-stiksel | Alleen beschikbaar via pc-software |
| Meetbewerking | Ingebouwd meetsysteem op de monitor + meting op pc-software |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4-voudig schakelbaar) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, straal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie, automatische randdetectie, schaalbalk |
| Opslagmethode | USB-stick + pc-softwareopslag |
| Modus voor het benoemen van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving van afbeeldingsbestanden |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Firmware-besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkeld meetsysteem gebouwd op de Linux 3.1-kernel |
| Observatie hoofd | 30° schuine trinoculaire observatiebuis, 360° draaibaar, verstelbare oogafstand (53-75 mm) |
| Observatiemethode | Helderveld / schuine verlichting / doorvallend licht / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Gereflecteerd en doorgelaten dubbelpadverlichtingssysteem, 100-240 V breedspanning; verstelbaar gloeidraadcentrum, traploos instelbare lichtintensiteit |
| Staande raamwerk | ① Frame voor twee doeleinden voor transmissie en reflectie, lage handpositie grof en micro-coaxiaal
scherpstellen
mechanisme. Grove micro-coaxiale scherpstelling, uitgerust met vergrendelings- en begrenzingsinrichtingen, microrasterwaarde:
2um. Verlichting van halogeenlampen. ② Helderveldreflector met variabele diafragmastop, veldstop en kleurfilterconversieapparaat. ③ Configureer het blauwfilter en de matglasplaat voor reflectie. |
| Mobiel platform | Dubbellaags mechanisch bewegend podium; podiumgrootte: 210 × 140 mm; XY-slag: 75 × 50 mm; glazen podium voor overgedragen en gereflecteerde observatie |
| Lichtbron | 6V-30W halogeenlamp voor gereflecteerd licht; 12V-50W halogeenlamp voor doorvallend licht |
| Eenvoudige polarisatie | 30° polarisatie-inzetstuk (gereflecteerd licht) + 360° draaibaar analyse-inzetstuk voor gepolariseerde observatie |
| Elektronische interface | 1X C-mount interface, niet-instelbare focus [Optioneel: 0,5X C-mount voor prijscompensatie] |
| Oculair | Twee WF10X/22 mm groothoek-vlakveldoculairs (één oculair met schaalmarkering) |
| Metallurgische objectieflens | ★ Oneindige achromatische objectieflens met vlak veld ① PL L5X/0,12 werkafstand: 26,1 mm per stuk stuk; ② PL L10X/0,25 werkafstand: 20,2 mm 1 stuk ③ PL L40X/0,60 werkafstand: 3,98 mm per stuk stuk; ④ PL L60X/0,70 werkafstand: 3,18 mm 1 stuk ⑤ PL L100X/0,85 werkafstand: 0,40 mm 0 stuks [standaard niet inbegrepen optioneel] |
| Optische vergroting | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × in vier niveaus verstelbaar |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × in vier niveaus verstelbaar (uitbreidbaar tot 190-2280 ×) |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Geavanceerd optisch onderzoek & karakterisering van optische componenten
DOOV – Assemblage-inspectie van mobiele apparaten, testen van scherm- en componentuiterlijk
NIO Shanghai – Precisie-inspectie voor nieuwe energie-auto-onderdelen en kabelboomassemblages
Beijing Institute of Technology – Wetenschappelijk onderzoek naar materialen van militaire kwaliteit en opto-elektronische apparaten
GREE Electric Appliances (Hefei) - Precisiemeting van afmetingen en inspectie van defecten voor componenten van huishoudelijke apparaten
Technisch Instituut voor Natuurkunde en Scheikunde, CAS – Microscopisch onderzoek naar lage temperaturen en speciale functionele materialen
Objectief & Oculair:Blaas het stof weg met een luchtblazer en veeg de lenzen vervolgens voorzichtig schoon met lenspapier lensreiniger. Raak optische lenzen nooit met blote handen aan en gebruik voor het reinigen geen gewoon keukenpapier.
Hoofdgedeelte en podium:Verwijder monsterresten en metallurgisch poeder onmiddellijk. Veeg de behuizing af met a droge zachte doek; vermijd vloeistofspatten. Controleer regelmatig of de podiumschroeven goed vastzitten om verschuiven als gevolg van het vastzitten te voorkomen botsingen.
Doorgelaten en gereflecteerde lichtbron:Schakel de lichtbron uit wanneer de microscoop inactief is. Blaas stof het lichtvenster af en raak de lamp niet rechtstreeks aan.
Mechanisch focusmechanisme:Draai het focushandwiel niet met overmatige kracht. Blijf glijden sporen schoon; smeer ze nooit zelf.
Opslagomgeving:Bewaar in een droge, goed geventileerde ruimte om vocht en schimmel te weerstaan. Bedek de apparaat na gebruik afdekken met een stofkap.
Software & Kalibratie:Kalibreer de meetschaal voordat u metingen uitvoert. Volledig dicht bijbehorende software voordat u de stroom afsluit. Demonteer het apparaat niet zonder toestemming; contact opnemen after-sales service bij storingen.
A1: Visuele vergroting: 50-600 ×; Elektronische vergroting: 380-4560 ×. Synchroon kijken via oculair en monitor is beschikbaar.
A2: Het ondersteunt HDMI-video-uitvoer en Gigabit-LAN-poort. Het kan rechtstreeks op de monitor worden aangesloten of via de camera toegang krijgen LAN-netwerk met een computer.
A3: Opnameresolutie: 3840 × 2160 (4K). Het ondersteunt ingebouwde metingen op het scherm en is gebaseerd op pc-software meting. Bestanden kunnen worden opgeslagen op een USB-stick of via pc-software.
A4: ①Controleer de voeding van de microscoop; ②Zorg ervoor dat de HDMI-kabel stevig is aangesloten; ③Selecteer de juiste HDMI-ingangsbron aan monitoren; ④Start de microscoophost opnieuw.
A5: ①Sluit de netwerkkabel aan tussen apparaat en switch/PC; ②Stel PC-IP in op hetzelfde netwerksegment als de camera; ③Draai uit PC-firewall; ④Verifieer de IP-instellingen van het apparaat en maak opnieuw verbinding.
A6: Dit model maakt gebruik van een ontwerp met handmatige scherpstelling. Draai het focushandwiel langzaam. Zorg ervoor dat de objectieflens op zijn plaats klikt. Plaats het monster plat en verwijder het stof op de objectieflens.
A7: Gebruik een FAT32-geformatteerde USB-flashdrive met een capaciteit van 32 GB. Plaats de USB-flashdrive opnieuw of formatteer hem opnieuw om het opnieuw te proberen.
A8: Ja, secundaire ontwikkeling wordt ondersteund. Geschikt voor metallografische analyse, metaalmaterialen, poedermetallurgie, halfgeleidercomponenten-observatie, wetenschappelijk onderzoek en onderwijsscenario's.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., opgericht in 2011 en wiens oprichter sindsdien industriële expertise heeft opgebouwd 2005, is een op technologie gerichte onderneming, gespecialiseerd in het ontwerp, R&D, verkoop en after-sales service van industriële microscopen. Ons kernengineeringteam brengt meer dan tien jaar gespecialiseerde ervaring met zich mee, waardoor volwassen technologie wordt gegarandeerd en betrouwbare kwaliteit. Met meer dan honderd optische productmodellen en een wereldwijd klantenbestand is GAOPIN continu actief levert op maat gemaakte, kosteneffectieve microscopieoplossingen. Wij bieden snelle wereldwijde technische ondersteuning via onlineconferenties, video-ondersteunde begeleiding en trainingssessies op afstand. Onze productiebasis bevindt zich in Kunshan, Provincie Jiangsu (dicht bij Shanghai). Er zijn zowel fabrieksinspecties op locatie als virtuele rondleidingen door de fabriek mogelijk klanten. Neem gerust contact met ons op voor voorbeeldtestafbeeldingen gemaakt door deze GP-L300-324K Metal Analysis Metallurgical Microscoop met 4K Ultra HD om de beeldprestaties uit de eerste hand te evalueren.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
