De GP-L600-324K 4K Ultra HD metallurgische microscoop voor waferinspectie is een metallurgische microscoop van onderzoekskwaliteit voor waferinspectie met 4K Ultra HD. Het neemt een oneindig gecorrigeerd optisch systeem, met een optionele Nomarski DIC-module voor het detecteren van oppervlaktehoogte op nanoschaal variaties. Het instrument ondersteunt observatie met helder veld en gepolariseerd licht. De trinoculaire poort vergemakkelijkt camera-installatie en verbinding met software voor metallurgische analyse. Het is geschikt voor workflows inclusief metallografisch onderzoek, halfgeleiderinspectie en materiaalfoutanalyse.
Deze 4K Ultra HD metallurgische microscoop voor waferinspectie is geschikt voor microscopische observatie van metallografische microstructuren en oppervlaktemorfologie. Het dient als een ideaal onderzoeksinstrument voor de disciplines metallurgie, mineralogie en precisie-engineering.
| Item | Beschrijving |
| Product | GP-L600-324K Waferinspectie metallurgische microscoop met 4K Ultra HD |
| Categorie | Trinoculaire metallurgische microscoop van laboratoriumonderzoekskwaliteit, compatibel met DIC differentiële interferentie, helderveld/donkerveld/gepolariseerd licht observatie |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchroon kijken, geïntegreerde verlichting in meerdere modi (helderveld, donkerveld, polarisator, differentiële interferentie-contrast DIC), uiterst nauwkeurige professional metallurgisch objectieflensset, 4K ultra-HD CMOS-beeldsensor, dubbel meetsysteem (ingebouwd op de monitor meting + pc-softwaremeting), HDMI+Gigabit-LAN tweekanaals signaaloverdracht, dubbele opslag technologie, open architectuur die toegang tot secundaire ontwikkeling ondersteunt |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500×; Elektronische vergroting: 190/380/760/1900×; Dubbele uitgang interfaces: HDMI + Gigabit-LAN-poort; 4K-opnameresolutie: 3840×2160; Alleen handmatige scherpstelling; Dubbele meting modi: ingebouwde nauwkeurige meting + aangepaste pc-softwaremeting; Dubbele opslagmodi: U-schijf opslag + opslag van computersoftware; Monitorterminal: afmetingsmeting, HD-beeldvoorbeeld, foto-archivering; PC-terminal: afmetingsmeting, foto-opslag; De hele eenheid ondersteunt het koppelen van secundaire ontwikkelingen. |
| Typische toepassingen | Halfgeleider-wafer-fout-analyse, metaal-materiaal metallografische inspectie, coating-dunne-film- microstructuur-observatie, precisie-halfgeleiderpakket-testen, geavanceerd materiaal-laboratorium- onderzoek, observatie van medische biomaterialen, detectie van microdefecten voor elektronische componenten |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (grenzend aan Shanghai) |
4K-camera ingebouwd in trinoculaire behuizing voor gelijktijdige weergave via oculair en monitor. Dubbele poortuitgang via HDMI en Gigabit-LAN verzendt ultra-HD microbeelden in realtime.
Ondersteunt DIC, helderveld-, donkerveld- en gepolariseerd lichtobservatie. 4-staps vergroting, optisch 50-500X, max digitaal vergroting tot 1900X, voor scherpe details voor inspectie van microkenmerken.
Dubbele coaxiale focusknoppen in combinatie met een versterkte lens-cilinderconstructie zorgen voor een stabiele scherpstelling en minimaliseren het beeld schudden.
De dikke, geïntegreerde metalen standaard en podiumbeugel verlagen het zwaartepunt, waardoor de microscoop stabiel blijft langdurige inspectie van onderzoekskwaliteit.
Modulaire optische lay-out met stijve metalen behuizing, zeer geschikt voor laboratoria, onderzoeksinstituten en halfgeleiders productiefaciliteiten.
Geoptimaliseerd voor wafer-en-chip-inspectie; ook op grote schaal toegepast voor halfgeleidertests, metallografische analyse, materiaalonderzoek en precisie-kwaliteitsevaluatiewerk.
4K foto- en video-opname, dubbele meetmodi (ingebouwd op het scherm + pc-software). Dubbele opslag via U-schijf & computer. De functies voor scherptedieptesynthese en beeldstitching draaien uitsluitend op ondersteunende pc-software. Secundaire ontwikkeling is dat wel ondersteund via LAN-poort voor beeldarchivering, vergelijking en geavanceerde analyse.
1. Optische observatiemodi:Ondersteunt multi-mode optica, waaronder DIC, helderveld en donkerveld en gepolariseerd licht voor observatie van kristal- en coatingtextuur. Gewone metallurgische microscopen bieden alleen fundamenteel helderveld en kan geen ultradunne lagen en kristalmicrostructuren visualiseren.
2. Beeldvormingssysteem:Native 4K ultra-HD-camera, gesynchroniseerde oculair-en-monitorweergave. Gewoon metallurgische microscopen maken gebruik van een low-definition 2K-camera, waarbij alleen oculairweergave met vervormde hoge vergroting mogelijk is uitgang.
3. Vergrotingsaanpassing:Vergrotingsbereik met vier versnellingen van 190-1900X, voor macro-overzicht en micro-detailinspectie. Gewone metallurgische microscopen hebben minder vergrotingsmechanismen en onscherpe beelden hoog vermogen.
4. Meting en registratie:Ingebouwde nauwkeurige meting op de monitor met foto-video-opname vermogen. Gewone metallurgische microscopen hebben geen ingebouwde metingen en vereisen pc-software voor alle analyses en archivering.
Halfgeleider en micro-elektronica (kern DIC-toepassing):
Siliciumwafels, lithografische plakjes, IC-chips, PCB's, flexibele FPC-circuits, soldeerverbindingen, verpakkingscomponenten.
Inspectiedoelen: topografie van het chipoppervlak, wafer-etspatronen, nanokrassen, koudsoldeerverbindingen,
oxidatie en pinvervorming. Differential-Interference-Contrast (DIC) benadrukt subtiele verschillen in oppervlaktehoogte
voor observatie van microcircuitsegmenten binnen een vergrotingsbereik van 190-1900×.
Metallografische metalen exemplaren:
Gelegeerde metallografische secties, staal, precisiegestempeld metalen hardware.
Inspectiedoelen: metaalkorrelstructuur, warmtebehandelingsanalyse, microscheurtjes in het oppervlak, afbrokkeling van de randen, fijne bramen,
slijtagesporen en interne materiaalonzuiverheden. Helderveld-/donkerveld-/gepolariseerd-lichtmodi voor metaalkristal
structuur observatie.
Laboratoriummonsters: kristal, poeder, vezels en dunne film:
Chemische kristallen, metaalpoeder, koolstofvezel, optische coatingfilms.
Observeer de kristalmorfologie, deeltjescontouren, filmdelaminering en microcoatingtexturen; gepolariseerd licht
identificeert kristalpolarisatiekarakteristieken.
Opto-elektronische en precisie-kunststofcomponenten:
LED-chips, optische lenzen, glassubstraten, lijm voor halfgeleiderverpakkingen.
Detecteer microporiën, nanokrassen, lijmdelaminering, luchtbellen, vlekken en subtiele oneffenheden in het oppervlak.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:
Connectoren, aansluitingen, microveren, kleine gestanste werkstukken.
Nauwkeurige meting op 4K-pixelniveau voor gaten, gatdiameters, steek- en oppervlaktehoogteverschillen; DIC visualiseert
subtiele krimpvervorming.
Universitaire laboratoria en hoogwaardige halfgeleiderkwaliteit:
Materiaalonderzoeksexperimenten, inspectie van binnenkomende goederen van wafers, observatie van metallografische monsters; foto-video
archivering, export van nauwkeurig gemeten QC-rapporten via aangesloten pc.
Mechanica:Volledig metalen constructie voor hoge stijfheid en trillingsbestendigheid. Precisie grof-fijn scherpstellen zonder speling. Uiterst nauwkeurige handmatige XY-mechanische tafel met lage slijtage en minimaal klaring. Het trinoculaire optische pad handhaaft de optische uitlijning bij het schakelen tussen objectieven.
Optiek:Oneindigheid gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische objectieven met harde anticondenscoating. Doorvallend gereflecteerde 12V-100W halogeenlampverlichting.
Beeldvorming en meting:8,3 Megapixel 4K industriële CMOS-camera. Dubbele uitgang: HDMI + Gigabit-LAN poort, goede anti-interferentieprestaties voor gebruik in industriële omgevingen. Ondersteunt ingebouwde metingen op de monitor en pc-softwaremeting. Dual-path opslag via U-schijf en PC-software. Scherptedieptesynthese en image-stitching alleen beschikbaar op pc-software. Secundaire ontwikkelingsinterface beschikbaar via Gigabit-LAN.
Uitgerust met native 3840*2160 4K-beeldvorming. Geschikt voor metallografische analyse, chipcircuitinspectie en professionele testrapporten genereren, waarbij metaalkorrels, microkrassen en kleine microdefecten duidelijk zichtbaar zijn.
Ontwerp met handmatige focus, geschikt voor statische laboratoriummonsters en laagfrequente werkstukvervanging. Stabiel fijnafstemming knoppen voor langdurige nauwkeurige observatie van statische monsters.
Standaard handmatig bewegend podium en verticaal trinoculair metallurgisch optisch pad voor chipplakken, klein tot middelgroot PCB's en metalen exemplaren, waardoor reflecterende schittering effectief wordt onderdrukt voor metallografische inspectie.
Dubbel vergrotingsbereik: 50-500x optische vergroting, 190-1900x digitale vergroting. Omvat beide volledige exemplaren overzicht en inspectie van microkorrels/microdefecten.
Ondersteunt ingebouwde metingen op het apparaat en pc-softwaremetingen. Uitgerust met HDMI + Gigabit-LAN-poort. Foto's, video's en meetgegevens kunnen worden opgeslagen via een compatibele U-schijf of computer. Secundaire ontwikkeling ondersteund voor integratie van productielijnen en traceerbaarheid van laboratoriumgegevens.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Model | GP-L600-324K |
| Oplossing | 3840×2160 |
| Echte effectieve pixels | 8.300.000 pixels |
| Focusmethode | Handmatig scherpstellen |
| Optisch formaat | 1/1,7" |
| Pixelgrootte | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Uitvoermethode | HDMI + Gigabit Ethernet LAN-poort |
| Gedetailleerde functionele introducties die overeenkomen met elke uitvoerinterface | ① HDMI maakt verbinding met 4K-compatibele beeldschermen. Ingebouwde professionele firmware voor beeldverwerking
foto-opname, video-opname, dimensionale meting, beeldweergave en beeldvergelijking, bediend
met de muis in realtime. ② Gigabit LAN-poort maakt verbinding met routers, switches of computers voor een netwerk afbeelding transmissie. Computers binnen hetzelfde netwerksegment kunnen realtime video ontvangen en opname activeren via bijpassende software. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 3840×2160 Gigabit-LAN: 20 fps @1920×1080 |
| Scherptediepte-synthese | / |
| Beeldsteken | / |
| Meetmethode | Ingebouwd meetsysteem op de monitor + meting via pc-software |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4 schakelbare eenheden) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, radiaal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie toevoegen, automatische randdetectie, schaalbalk en meer |
| Opslagmethode | U-schijfopslag + pc-softwareopslag |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkelde meetfirmware gebaseerd op de Linux 3.1-kernel |
| Naamgeving van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving beschikbaar |
| Hoofd bekijken | 30° hellende trinoculaire kop van het scharniertype; Interpupilair aanpassingsbereik: 54-76 mm; twee bundelsplitsingen verhoudingen: 100:0, 0:100 |
| Observatiemodi | ★ Helderveld / Donkerveld / Gepolariseerd licht / DIC (DIC-hardware is optioneel) |
| Verlichtingssysteem | Doorvallend-gereflecteerd verlichtingssysteem met vallend licht, 100-240V breedspanningsingang, instelbaar filament midden, traploos instelbare lichtintensiteit. |
| Stellage | ① Doorvallend-gereflecteerd rek voor twee doeleinden; coaxiaal grof-fijn scherpstelmechanisme met lage handpositie.
Grofverstelslag: 33 mm; Nauwkeurigheid fijnafstelling: 0,001 mm. Voorzien van vergrendeling en begrenzing
apparaten. ② Helderveld- en donkerveldreflector met variabele diafragmastop, veldstop en verstelbare middenmontage. ③ Interferentiefilter en kleurbalansplaat (wit licht) voor gereflecteerd licht optisch pad. ④ Licht-donkerveld-schakelapparaat; slots voor kleurenfilters en polariserende accessoires. |
| Mechanische fase | 4-inch handmatige mechanische fase. Podiumafmetingen: 230 mm × 215 mm; X-Y-weg: 105 mm x 105 mm. Glas monsterdragerplaat voor zowel doorgelaten als gereflecteerde observatie. |
| Lichtbron | 12V 100W halogeenlampkamer (gereflecteerd licht); 12V 100W halogeenlamp (doorvallend licht). |
| Polarisatiefunctie | 30 graden polarisatoraansluiting (gereflecteerd licht); 360° draaibare analysatoraansluiting voor gepolariseerd licht observatie. |
| Oculairs | Twee PL10X/22 mm groothoek oculairs met verstelbare dioptrie (één oculair met dradenkruis schaal). |
| Neusstuk | ★ Helder-donkerveld-neusstuk met vijf gaten |
| DIC-functie | Differentiële interferentie-contrastfunctie; Accessoires voor DIC-insteekkaarten zijn optioneel en niet inbegrepen binnen standaard configuratie. |
| Elektronische interface | 0,5X C-mount camera-interface, instelbare focus; CTV 1X is optioneel met prijsverschilcompensatie. |
| Metallurgische doelstellingen | ★ Helder-donkerveld semi-destructieve metallurgische doelstellingen ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, Werkend Afstand: 9,00 mm × 1 st ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, werkafstand: 9,00 mm × 1 st. ③ OLPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Werkafstand: 3,40 mm × 1 st ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, werkafstand: 7,50 mm × 1 st. ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, werkafstand: 2,10 mm (optioneel, niet inbegrepen in standaardpakket) |
| Optische vergroting | 50X, 100X, 200X, 500X (schakelbaar op vier niveaus) |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 190X, 380X, 760X, 1900X (schakelbaar op vier niveaus); optioneel vergrotingsbereik: 380-3800X. |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Tianjin University of Commerce – Materiaallaboratoriumonderwijs, micro-imaging en experimentele data-archivering
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detectie van afmetingen en microfouten voor nauwkeurig bewerkte onderdelen
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Precisieconnector- en componentinspectie
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Geavanceerd optisch onderzoek & karakterisering van optische componenten
Xi'an Jiaotong Universiteit - Experimentele observatie op het gebied van geavanceerde materiaalwetenschappen en precisie-optica
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Microanalyse van anorganische keramiek en nieuwe energiematerialen
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. werd officieel opgericht in 2011. Ons oprichtersteam heeft zich verzameld diepgeworteld expertise op het gebied van optische inspectie-instrumentatie die teruggaat tot 2005. Wij zijn een technologiegerichte onderneming leveren volledige cyclusdiensten met betrekking tot ontwerp, R&D, wereldwijde verkoop en after-salesondersteuning voor industriële microscopen. Onze kern Het technische team beschikt over meer dan tien jaar gespecialiseerde ervaring in de ontwikkeling van optische instrumenten bewezen stabiele technologie en consistente, betrouwbare kwaliteit.
GAOPIN onderhoudt een uitgebreide productcatalogus met meer dan honderd optische instrumentmodellen voor de hele wereld klanten. Wij ontwikkelen flexibele, kosteneffectieve microscopieoplossingen op maat voor diverse industriële inspectie- en laboratoriumonderzoekseisen.
Er is snelle wereldwijde technische ondersteuning beschikbaar voor buitenlandse klanten, inclusief online vergaderingen, stapsgewijze videobegeleiding en trainingssessies op afstand. Onze productiebasis is gevestigd in Kunshan, Jiangsu Provincie (dicht bij Sjanghai). Fabrieksbezoeken ter plaatse en virtuele online rondleidingen zijn welkom. Neem hiervoor contact op met ons verkoopteam authentieke voorbeeldtestbeelden gemaakt door deze Wafer Inspection Metallurgical Microscope met 4K Ultra HD evalueren real-world beeldprestaties.
A1: Uitgerust met dubbele interfaces van HDMI high-definition uitgang en LAN-poort. Het ondersteunt real-time beeldvorming door directe aansluiting op een monitor en computeraansluiting via netwerkkabel. Zonder USB- en WIFI-interfaces kan het ondersteunt zowel onafhankelijke werking als computersamenwerking.
A2: Het ondersteunt 4K ultra-HD foto- en video-opname. Bestanden kunnen worden opgeslagen op een FAT32-geformatteerde U-schijf van maximaal 32 GB capaciteit of computeropslag. Ondersteunt nauwkeurige metingen op het scherm en via pc-software, met gegevensbesparende en rapport-exportfuncties.
A3: Controleer de voeding en bijpassende adapter; maak de HDMI-kabel stevig vast; schakel de monitor om de HDMI-signaalbron te corrigeren; start het apparaat opnieuw op om fouten met een zwart scherm en geen beeld op te lossen.
A4: Dit is een model met handmatige scherpstelling. Pas het focushandwiel langzaam aan voor scherpe beelden. Vergrendel de objectieflens stevig, leg hem neer monster plat en verwijder regelmatig lensstof en vlekken.
A5: Zorg ervoor dat microscoop en pc zich binnen hetzelfde IP-segment bevinden; schakel firewall- en onderscheppingssoftware uit; opnieuw gaan zitten netwerkkabel; start het apparaat opnieuw op en ondersteun de meetsoftware om een normale verbinding tot stand te brengen.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
