Deze metallurgische microscoop voor metaalanalyse is geoptimaliseerd voor nauwkeurige microscopische inspectie van monsters en is een zeer betrouwbare metaalanalyse Metallurgische microscoop. Het ondersteunt hoogwaardige, oneindig gecorrigeerde optica en een modulair raamwerk flexibele uitbreiding van helder veld, gepolariseerd licht en andere observatiemodi om te voldoen aan de veranderende testvereisten. De Het versterkte trillingsdempende chassis zorgt voor stabiele beelden en vermindert effectief meetfouten observatie met hoge precisie. Geoptimaliseerde bedieningsonderdelen verminderen vermoeidheid van de machinist tijdens langere werksessies. Vrij Combineerbare modules voorkomen vervanging van de hele machine, waardoor de upgradekosten worden verlaagd, terwijl er voldoende werkruimte is gereserveerd geschikt voor monsters van verschillende afmetingen.
Ingebouwde HD CCD-camera ondersteunt gelijktijdige oculair- en monitorweergave met real-time HDMI-microbeelduitvoer.
50-600 × optische en max. 4560 × digitale vergroting met objectief zoomsysteem met 4 snelheden, waarmee kleine micro-details nauwkeurig.
Grove en fijne scherpstelling zorgt voor stabiele beeldvorming met minimale trillingen voor langdurige observatie.
Basis van gegoten aluminium uit één stuk zorgt voor een stabiele werking zonder wiebelen tijdens langdurige inspecties.
Minimalistische wit-blauwe trinoculaire structuur, professioneel ogend voor laboratorium- en kwaliteitsinspectiescenario's.
Geschikt voor halfgeleider-, metallografie-, poeder- en vezelinspectie, wetenschappelijk onderzoek en testen van industriële kwaliteit werk.
Ondersteunt 1080P foto- en video-opnamen, metingen op de monitor en USB-flashdrive-opslag voor gemakkelijk gebruik beeldarchivering en data-analyse.
Binoculair kijken en synchrone elektronische observatie:Gesynchroniseerde weergave tussen oculair en monitor. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen kijken via het oculair; Er zijn extra camera-accessoires nodig voor schermuitvoer.
Hoge vergrotingsmogelijkheid:Tot 600× optische vergroting en maximaal 4560× digitaal vergroting voor ultrafijne microstructuuranalyse. Conventionele metallurgische apparaten hebben een lager maximum digitale vergrotingsprestaties.
HDMI standalone-gebruik:Werkt zelfstandig met een monitor via HDMI-uitgang, geen PC nodig voor meten en vastleggen. Traditionele metallurgische microscopen zijn voor digitaal gebruik meestal afhankelijk van een hostcomputer functies.
Ingebouwde offline-meting:Directe meting op de monitor zonder pc-software. Gewoon metallurgische microscopen ondersteunen alleen metingen aan de pc-zijde zonder in de hardware ingebouwde meetfunctie.
Offline USB-flashdrive-opslag:Sla foto's en video's op een USB-stick op zonder computer. Conventionele modellen vereisen een pc voor beeldopslag.
Modulair uitbreidbaar optisch pad:Ondersteunt het toevoegen van gepolariseerd licht en andere observatiemodules zonder het hele apparaat te vervangen. Algemene metallurgische microscopen hebben een beperkte upgradeflexibiliteit.
Speciaal metallurgisch optisch pad:Geoptimaliseerd voor metaalkorrels, coating en materiaal-metallografische analyse. Gewone digitale microscopen missen een speciaal metallurgisch optisch pad en kunnen dat ook niet observeer metallurgische microstructuren.
Uitgerust met een native 1920 × 1080 Full-HD industriële camera en volledig gekalibreerd met standaard metallurgische exemplaren, deze microscoop gebruikt een sensor met hoge resolutie om microstructuren van metaalkorrels, halfgeleiderwafels, te herstellen poederdeeltjes en vezeltexturen. Het levert heldere details over het hele veld zonder randvervaging of beeld verzwakking.
Met een objectief zoomsysteem met 4 snelheden biedt het een totaal vergrotingsbereik van 380–4560×. Het ondersteunt volledige oppervlakte scannen bij lage vergroting en ultrafijne microscopische analyse bij hoge vergroting, voldoet aan diverse eisen voor universitair laboratoriumonderzoek en fabrieksprecisiekwaliteitsinspectie.
De ingebouwde professionele meetmodule maakt uiterst nauwkeurige maatvoering en real-time berekeningen mogelijk annotatie op het scherm. Het ondersteunt high-definition fotografie met één klik en langdurige video-opname. Allemaal meetgegevens en afbeeldingen kunnen worden geëxporteerd en gearchiveerd voor het samenstellen van experimentele rapporten en kwaliteit-traceerbaarheid.
De trinoculaire buis maakt synchrone oculairobservatie en digitale monitorweergave mogelijk. De overgedragen en gereflecteerd dual-light-systeem is compatibel met ondoorzichtige metalen werkstukken en transparant ingelegde monsters. De precisie XY-as mechanische fase zorgt voor soepele bewegingen en snelle doelpositionering.
Halfgeleider en micro-elektronica:Siliciumwafels, fotolithografische plakjes, IC-chips, printplaten, FPC flexibele platen. Inspectiedoelen: Observeer interne chipcircuits, wafercoatings, koudsoldeerdefecten, oxidatie, circuitkrassen en pin-vervorming; analyseer micro-slice-structuren onder een maximale vergroting van 4560 ×.
Metallografische metalen exemplaren:Metallografische plakjes, hardware van gestempeld metaal. Inspectiedoelen: Metallografische korrelstructuuranalyse, identificatie van warmtebehandelingsmateriaal; detecteren randafbrokkeling, microscheurtjes, bramen en schuurdiepte.
Poeder- en vezellaboratoriummonsters:Metaalpoeder, chemisch poeder, koolstofvezel, textielvezel, dunnefilmmaterialen. Inspectiedoelstellingen: Observeer de deeltjesmorfologie, vezeltextuur, filmdelaminering en micro-materiaal-structuren.
Opto-elektronische en precisie-kunststof onderdelen:LED-chips, optische lenzen, spuitgietonderdelen. Inspectiedoelen: Detecteer microporiën, oppervlaktevlekken, ruwe randen, lijmbellen en cosmetische microdefecten.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:Connectoren, aansluitingen, microveren, kleine gestanste werkstukken. Inspectiedoelen: Observeer kleine openingen en vlakheid van de krimp; voer nauwkeurige lengtemetingen op pixelniveau uit, gatdiameter en steek.
Laboratorium- en industriële QC-archivering:Metallografische slice-experimentanalyse, bemonstering-inspectie van inkomende en afgewerkte goederen; foto- en video-archivering voor defecte bewijsstukken en export van QC-rapporten met formele metingen.
Max. 600 × optische vergroting en 4560 × digitale vergroting identificeren duidelijk metallografische korrels, wafel-sporen, coatingdefecten en poeder-microstructuren. Zeer geschikt voor laboratoria voor nieuwe materialen en precisie-halfgeleider-inkomende-inspectie.
Trinoculair optisch pad maakt gelijktijdig kijken via binoculaire oculairs en monitor mogelijk. Meerdere operators kunnen dat doen controleer micromonsters bij elkaar, perfect voor universitaire opleidingen en dubbele inspectie van fabrieksfouten.
Ingebouwd meetsysteem op de monitor. 1080P-foto's en -video's kunnen rechtstreeks op een USB-flashstation worden opgeslagen. Alleen een monitor is vereist voor volledige inspectieworkflows, ideaal voor snel op te zetten fabriekswerkstations.
Wordt geleverd met meerdere metallurgische doelstellingen en dubbele doorgelaten en gereflecteerde verlichting. Compatibel met metaalmonsters, wafels, poedervezelmonsters en dunnefilmmaterialen. Op grote schaal gebruikt bij galvanisatie-inspectie, universitair materiaalonderzoek en elektronische inkomende QC.
Nauwkeurige handmatige scherpstelling, grof en fijn, met anti-vibratie heavy-duty body. Ondersteunt herinspectie van massamonsters, materiaalonderzoek en routinematige metallografische analyse.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Entiteit | Beschrijving |
| Product | GP-L300-300C Metallurgische microscoop voor metaalanalyse |
| Categorie | Industriële onderzoekskwaliteit trinoculaire krachtige metallografische inspectiemicroscoop |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchrone observatie, krachtige metallurgische objectieflensgroep, Full-HD CMOS-beeldsensor, ingebouwde engine voor digitale precisiemeting, HDMI real-time video-uitgang, lokaal USB-flashdrive-beeldopslag-technologie |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/400/600 ×; Elektronische vergroting: 380/760/3040/4560 ×; Uitgangsinterface: HDMI; Opnameresolutie: 1920 × 1080 (Full HD); Handmatig scherpstellen; Ingebouwde nauwkeurige meetfunctie; USB-flashdrive-opslag *(Alleen FAT32-geformatteerde USB-flashdrive tot 32 GB ondersteund)*; Monitor-terminal ondersteunt HD-beeldvoorbeeld, foto-opname en video-opname *(Meetnauwkeurigheid: 0,001 mm, kleiner meettolerantie kan worden bereikt bij hogere vergroting. Resultaten onderworpen aan kalibratie, vergroting en monsteromstandigheden)* |
| Typische toepassingen | Halfgeleiderwafer-observatie, metaal-metallografische structuuranalyse, poeder-&-vezel-microstructuur- detectie, inspectie van legeringskorrels, analyse van materiaalcoating, laboratoriumonderzoek naar nieuw materiaal, precisie-kwaliteitscontrole van elektronische componenten |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (nabij Shanghai) |
| Productmerk | GAOPIN |
| Productmodel | GP-L300-300C |
| Oplossing | 1920 × 1080 (Full HD) |
| Effectieve pixels | 2 megapixel |
| Methode van scherpstellen | Handmatig scherpstellen |
| Sensor optisch formaat | 1/2" |
| Pixelgrootte | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Uitgangsinterfaces | HDMI |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 1920 × 1080 |
| Stapelen met scherptediepte | Niet beschikbaar |
| Afbeelding-stiksel | Niet beschikbaar |
| Meetbewerking | Ingebouwd meetsysteem op de monitor |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm *(Kleinere meettolerantie kan worden bereikt bij hogere vergroting. Resultaten afhankelijk van kalibratie, vergroting en monsteromstandigheden)* |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4-voudig schakelbaar) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, straal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie, automatische randdetectie, schaalbalk |
| Opslagmethode | USB-flashdrive |
| Modus voor het benoemen van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving van afbeeldingsbestanden |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1,3 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Firmware-besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkeld meetsysteem gebouwd op de Linux 3.1-kernel |
| Observatie hoofd | 30° schuine trinoculaire observatiebuis, 360° draaibaar, verstelbare oogafstand (53-75 mm) |
| Observatiemethode | Helderveld / schuine verlichting / doorvallend licht / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Gereflecteerd en doorgelaten dubbelpadverlichtingssysteem, 100-240 V breedspanning; verstelbaar gloeidraadcentrum, traploos instelbare lichtintensiteit |
| Staande raamwerk | Doorgelaten en gereflecteerd rek voor twee doeleinden; coaxiaal grof-fijn focusmechanisme; grof-afstelling beroerte, fijnafstelling nauwkeurigheid 0,002 mm met vergrendeling en eindaanslag; verlichting met halogeenlampen; Helderveld reflector met variabele diafragma-stop, veldstop en kleurfilterconversie; Uitgerust met blauwfilter en matglasplaat voor observatie van gereflecteerd licht |
| Mobiel platform | Dubbellaags mechanisch bewegend podium; podiumgrootte: 210 × 140 mm; XY-slag: 75 × 50 mm; glazen podium voor overgedragen en gereflecteerde observatie |
| Lichtbron | 6V-30W halogeenlamp voor gereflecteerd licht; 12V-50W halogeenlamp voor doorvallend licht |
| Eenvoudige polarisatie | 30° polarisatie-inzetstuk (gereflecteerd licht) + 360° draaibaar analyse-inzetstuk voor gepolariseerde observatie |
| Elektronische interface | 1X C-mount interface, niet-instelbare focus [Optioneel: 0,5X C-mount voor prijscompensatie] |
| Oculair | Twee WF10X/22 mm groothoek-vlakveldoculairs (één oculair met schaalmarkering) |
| Metallurgische objectieflens | Achromatische metallurgische objectieven met oneindig vlak veld: PL L5X/0,12 WD26,1 mm; PL L10X/0,25 WD20,2 mm; PL L40X/0,60 WD3,98 mm; PL L60X/0,70 WD3,18 mm; PL L100X/0,85 WD0,40 mm (optioneel, niet standaard inbegrepen configuratie) |
| Optische vergroting | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × in vier niveaus verstelbaar |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × in vier niveaus verstelbaar (uitbreidbaar tot 190-2280 ×) |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Technisch Instituut voor Natuurkunde en Scheikunde, CAS – Microscopisch onderzoek naar lage temperaturen en speciale functionele materialen
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Testen van opto-elektronische componenten en foutanalyse
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detectie van afmetingen en microfouten voor nauwkeurig bewerkte onderdelen
CATL – Micro-defect-inspectie voor lithiumbatterij-elektroden en -cellen
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Geavanceerd optisch onderzoek & karakterisering van optische componenten
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Uiterlijk en microkwaliteitscontrole van industriële standaardonderdelen
Objectief & Oculair:Veeg de lenzen voorzichtig af met lenspapier en lensreiniger. Raak nooit optisch aan lenzen met blote handen of gebruik gewone papieren handdoeken voor het reinigen.
Hoofdgedeelte en podium:Verwijder monsterresten en metallurgisch poeder onmiddellijk. Veeg de behuizing af met a droge zachte doek; vermijd vloeistofspatten. Controleer regelmatig of de podiumschroeven goed vastzitten om verschuiven als gevolg van het vastzitten te voorkomen botsingen.
Doorgelaten en gereflecteerde lichtbron:Schakel de lichtbron uit wanneer de microscoop inactief is. Blaas stof het lichtvenster af en raak de lamp niet rechtstreeks aan.
Mechanisch focusmechanisme:Draai het focushandwiel niet met overmatige kracht. Blijf glijden sporen schoon; smeer ze nooit zelf.
Opslagomgeving:Bewaar in een droge, goed geventileerde ruimte om vocht en schimmel te weerstaan. Bedek de apparaat na gebruik afdekken met een stofkap.
Software & Kalibratie:Kalibreer de meetschaal voordat u metingen uitvoert. Volledig dicht bijbehorende software voordat u de stroom afsluit. Demonteer het apparaat niet zonder toestemming; contact opnemen after-sales service bij storingen.
A1: Het ondersteunt alleen HDMI high-definition uitvoer. Het werkt zelfstandig met een monitor zonder computeraansluiting, met eenvoudige bediening voor verschillende precisiedetectiescenario's.
A2: Het ondersteunt 2K high-definition foto- en video-opnamen. Bestanden kunnen worden opgeslagen via maximaal 32 GB FAT32-geformatteerde USB flashdrive. Ingebouwde nauwkeurige metingen op het scherm ondersteunen maatmarkering, gegevensarchivering en rapportexport.
A3: Controleer de voeding en adapter, maak de HDMI-kabel vast en schakel over naar het juiste signaalkanaal. Start de opnieuw op apparaat om problemen met zwart scherm, geen beeld en schermflikkering op te lossen.
A4: Het maakt gebruik van een nauwkeurig ontwerp met handmatige scherpstelling. Pas het focushandwiel langzaam aan om een helder beeld te verkrijgen. Plaats de monster vlak en reinig regelmatig lensstof, vingerafdrukken en vlekken om beelden scherp en transparant te houden.
A5: Dit apparaat ondersteunt geen computerverbinding of netwerkpoortfunctie. Met een ingebouwde zelfstandig opererende- systeem kan het fotograferen, opnemen, meten en opslaan rechtstreeks via een monitoraansluiting voltooien.
A6: Alleen FAT32-geformatteerde USB-flashdrives binnen 32 GB worden ondersteund, met uitzondering van NTFS- en exFAT-formaten. Sluit opnieuw aan of formatteer de USB-flashdrive of vervang deze door een compatibele USB-flashdrive voor normale bestandsopslag.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., opgericht in 2011 en wiens oprichter sindsdien industriële expertise heeft opgebouwd 2005, is een op technologie gerichte onderneming, gespecialiseerd in het ontwerp, R&D, verkoop en after-sales service van industriële microscopen. Ons kernengineeringteam brengt meer dan tien jaar gespecialiseerde ervaring met zich mee, waardoor volwassen technologie wordt gegarandeerd en betrouwbare kwaliteit. Met meer dan honderd optische productmodellen en een wereldwijd klantenbestand is GAOPIN continu actief levert op maat gemaakte, kosteneffectieve microscopieoplossingen. Wij bieden snelle wereldwijde technische ondersteuning via onlineconferenties, video-ondersteunde begeleiding en trainingssessies op afstand. Onze productiebasis bevindt zich in Kunshan, Provincie Jiangsu (dicht bij Shanghai). Er zijn zowel fabrieksinspecties op locatie als virtuele rondleidingen door de fabriek mogelijk klanten. Neem gerust contact met ons op voor voorbeeldtestafbeeldingen gemaakt door deze GP-L300-300C Metal Analysis Metallurgical Microscoop om de beeldprestaties uit de eerste hand te evalueren.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
