GP-L600-300C metallurgische microscoop voor waferinspectie is een metallurgische microscoop voor waferinspectie, speciaal ontworpen voor materiaal-microstructuur inspectie. Uitgerust met een optisch systeem met gereflecteerd licht met hoge resolutie en DIC differentiële interferentiefunctie genereert stereo-reliëfbeelden voor het observeren van korrelstructuren, scheuren, insluitsels en coatinglagen van metalen, legeringen, halfgeleiders en andere materialen. Met ingebouwde industriële camera ondersteunt het beeldopname en op de monitor meting; Evaluatie van de korrelgrootte is beschikbaar met optionele ondersteunende software. Op grote schaal toegepast kwaliteitscontrole, faalanalyse en materiaalwetenschappelijk onderzoekscenario's.
Deze metallurgische microscoop voor waferinspectie is geschikt voor microscopische observatie van metallografische microstructuren en oppervlaktemorfologie. Het dient als een ideaal onderzoeksinstrument voor de disciplines metallurgie, mineralogie en precisie-engineering.
1. Binoculair kijken plus synchrone elektronische observatie:Oculairweergave en monitorweergave synchroon werken. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen oculairobservatie; extra camera-accessoires zijn vereist voor schermuitvoer.
2. Zeer nauwkeurig mechanisch lichaam:Stijve mechanische structuur met stabiel optisch pad, geschikt voor halfgeleider- en materiaalanalysewerk. Conventionele metallurgische microscopen leveren lagere mechanische eigenschappen precisie.
3. Directe HDMI-uitgang:Real-time beelduitvoer naar monitor via HDMI-kabel. Algemeen metallurgisch microscopen vereisen afzonderlijke camera's en opnamekaarten voor beelduitvoer.
4. Offline meting op de monitor:Afmetingsmetingen kunnen rechtstreeks op de monitor worden uitgevoerd zonder pc-aansluiting. Gewone metallurgische microscopen zijn uitsluitend afhankelijk van metingen via pc-software.
5. Offline U-schijfopslag:Bewaar foto's en video's op U-schijf zonder computer. Traditioneel modellen moeten verbinding maken met de pc om afbeeldingen op te slaan.
6. Speciaal metallurgisch optisch pad:Geoptimaliseerd voor metaalkorrels, coating, halfgeleiders en metallografische inspectie. Gewone digitale microscopen missen dit gespecialiseerde optische pad en kunnen niet visualiseren metallografische structuren.
HD-camera ingebouwd in trinoculaire behuizing voor gelijktijdige weergave via oculair en monitor. HDMI real-time microbeeld output combineert observatie- en opnameworkflows.
Ondersteunt DIC, helderveld-, donkerveld- en gepolariseerd lichtobservatie. 4-staps vergroting, optisch 50-500X, max digitaal vergroting tot 1900X, voor scherpe details voor inspectie van microkenmerken.
Dubbele focusknoppen in combinatie met een versterkte lens-cilinderconstructie zorgen voor een stabiele scherpstelling en minimaliseren het trillen van het beeld.
Dikke geïntegreerde metalen behuizing en podiumbeugel met laag zwaartepunt, voor stabiele prestaties lange duur laboratorium observatie.
Minimalistische geheel witte stijve metalen structuur met modulaire optische lay-out, zeer geschikt voor laboratoria en onderzoek instituten.
Ideaal voor waferinspectie, metallografische analyse, karakterisering van materiaal-microstructuur, academisch onderzoek en precisie-kwaliteit-evaluatie werk.
1080P foto- en video-opname, ingebouwde meting op de monitor, U-schijfopslag. Digitale afbeeldingen vereenvoudigen het archiveren van bestanden, vergelijking en post-experimentanalyse.
Mechanica:Volledig metalen constructie voor hoge stijfheid en trillingsbestendigheid. Precisie grof-fijn scherpstellen zonder speling. Uiterst nauwkeurige handmatige XY-mechanische tafel met lage slijtage en minimaal klaring. Het trinoculaire optische pad handhaaft de optische uitlijning tijdens het schakelen tussen de vergrotingen.
Optiek:Oneindigheid gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische objectieven met harde anticondenscoating. Doorvallend gereflecteerde 12V-100W halogeenlampverlichting.
Beeldvorming en meting:Industriële HDMI 1080P-camera met uitstekende anti-interferentie prestaties, geschikt voor gebruik in industriële omgevingen. Metingen worden uitgevoerd via firmware op het display.
Bedrijfsomgeving:Werktemperatuur 10-35℃, relatieve vochtigheid 30-75% RH. Stabiele prestaties onder een normale elektromagnetische fabrieksomgeving. Vermijd zware trillingen, corrosief gas en zwaar stof.
Kwaliteit & Onderhoud:Volledige fabrieksinspectie. Demonteer optische modules niet. Regelmatig stofdicht reinigen verlengt de levensduur.
Halfgeleider en micro-elektronica (kern DIC-toepassing):
Siliciumwafels, lithografische plakjes, IC-chips, PCB's, flexibele FPC-circuits, soldeerverbindingen, verpakkingscomponenten.
Inspectiedoelen: topografie van het chipoppervlak, wafer-etspatronen, nanokrassen, koudsoldeerverbindingen,
oxidatie en pinvervorming. Differentieel-interferentie-contrast (DIC) benadrukt subtiele oppervlaktehoogteverschillen
voor observatie van microcircuitsegmenten binnen een vergrotingsbereik van 190-1900×.
Metallografische metalen exemplaren:
Gelegeerde metallografische secties, staal, precisiegestempeld metalen hardware.
Inspectiedoelen: metaalkorrelstructuur, warmtebehandelingsanalyse, microscheurtjes in het oppervlak, afbrokkeling van de randen, fijne bramen,
slijtagesporen en interne materiaalonzuiverheden. Helderveld-/donkerveld-/gepolariseerd-lichtmodi beschikbaar voor metaal
observatie van de kristalstructuur.
Monsters van laboratoriumonderzoek: kristal, poeder, vezels en dunne film:
Chemische kristallen, metaalpoeder, koolstofvezel, textielvezels, optische coatingfilms.
Observeer de kristalmorfologie, deeltjescontouren, filmdelaminering en microcoatingtexturen; gepolariseerd licht
identificeert kristalpolarisatiekarakteristieken.
Opto-elektronische precisie-kunststofcomponenten:
LED-chips, optische lenzen, glassubstraten, lijm voor halfgeleiderverpakkingen.
Detecteer microporiën, nanokrassen, lijmdelaminering, luchtbellen en subtiele oneffenheden in het oppervlak.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:
Connectoren, aansluitingen, microveren, kleine gestanste werkstukken.
Nauwkeurige meting op pixelniveau voor gaten, gatdiameters, pitch- en oppervlaktehoogteverschillen; DIC visualiseert
subtiele krimpvervorming.
Universitaire laboratoria en hoogwaardige halfgeleiderkwaliteit:
Materiaalonderzoeksexperimenten, inspectie van binnenkomende goederen van wafers, observatie van metallografische monsters; foto-video
archiveren.
Uitgerust met native 1920*1080 HD-beeldvorming. Geschikt voor metallografische observatie, basishalfgeleiderinspectie en eenvoudige generatie van laboratoriumrapporten; geeft duidelijk metaalkorrels en kleine circuitdefecten weer.
Ontwerp met handmatige focus, geschikt voor statische laboratoriummonsters en laagfrequente werkstukvervanging. Stabiele scherpstelling structuur met nauwkeurige verfijning voor gedetailleerde observatie van statische monsters.
Standaard handmatig bewegend podium en verticaal trinoculair metallurgisch optisch pad voor metaalmonsters, chipplakken en middelgrote tot kleine PCB's, die reflecterende schittering effectief onderdrukken voor eenvoudige metallografische inspectie.
Dubbel vergrotingsbereik: 50-500x optische vergroting, 190-1900x digitale vergroting. Omvat beide volledige exemplaren overzicht en inspectie van microkorrels/microdefecten.
Ingebouwde meetfunctie op het apparaat, HDMI real-time output, U-schijf voor het opslaan van inspectiefoto's en metingen gegevens, voor basislaboratoriumarchiveringsdoeleinden.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Item | Beschrijving |
| Product | GP-L600-300C Waferinspectie metallurgische microscoop |
| Categorie | Trinoculaire metallurgische microscoop van laboratoriumonderzoek, ondersteunt DIC differentiële interferentie, helderveld/donkerveld/gepolariseerd licht observatie |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchroon kijken, geïntegreerde verlichting in meerdere modi (helderveld, donkerveld, polarisator, differentiële interferentie-contrast DIC), professionele hoge precisie metallurgisch objectieflensset, HD CMOS-beeldsensor, ingebouwde digitale precisiemeetmodule, HDMI real-time video-uitvoer, U-disk lokale beeldopslagtechnologie |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500×; Elektronische vergroting: 190/380/760/1900×; Uitgangsinterface: HDMI alleen; Vastlegresolutie: 1920*1080; Alleen handmatige scherpstelling; Ingebouwde nauwkeurige meetfunctie; U-schijf opslag; Monitorterminal ondersteunt HD-beeldvoorbeeld, foto-opname en video-opname; Observatie modi omvatten differentiële interferentie, helderveld, donkerveld en gepolariseerd licht. |
| Typische toepassingen | Halfgeleider-wafer-storingsanalyse, metallografisch testen van metaal-materiaal, coating-dunne-film- microstructuurobservatie, precisie-halfgeleiderpakketinspectie, nieuw-materiaal-laboratoriumonderzoek, medische-biomateriaal-observatie, micro-defect-detectie voor elektronische componenten |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (grenzend aan Shanghai) |
| Model | GP-L600-300C |
| Oplossing | 1920×1080 |
| Echte effectieve pixels | 2 Megapixels |
| Focusmethode | Alleen handmatige scherpstelling |
| Optisch formaat | 1/2" |
| Pixelgrootte | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Uitvoermethode | HDMI |
| Gedetailleerde introductie voor uitvoerinterfaces | ① HDMI maakt verbinding met 4K-compatibele beeldschermen. Ingebouwde professionele firmware voor beeldverwerking foto-opname, video-opname, dimensionale meting, beeldweergave en beeldvergelijking, bediend met de muis in realtime. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 1920*1080 |
| Scherptediepte-synthese | / |
| Beeldsteken | / |
| Meetmethode | Ingebouwd meetsysteem op de monitor |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4 schakelbare eenheden) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, radiaal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie toevoegen, automatische randdetectie, schaalbalk en meer |
| Opslagmethode | U-schijfopslag |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max. 1,3 GHz |
| Besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkelde meetfirmware gebaseerd op de Linux 3.1-kernel |
| Naamgeving van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving beschikbaar |
| Hoofd bekijken | 30° hellende trinoculaire kop van het scharniertype; Interpupilair aanpassingsbereik: 54-76 mm; twee bundelsplitsingen verhoudingen: 100:0, 0:100 |
| Observatiemodi | ★ Helderveld / Donkerveld / Gepolariseerd licht / DIC (DIC-hardware is optioneel) |
| Verlichtingssysteem | Doorvallend-gereflecteerd verlichtingssysteem met vallend licht, 100-240V breedspanningsingang, instelbaar filament midden, traploos instelbare lichtintensiteit. |
| Stellage | ① Doorvallend-gereflecteerd rek voor twee doeleinden; coaxiaal grof-fijn scherpstelmechanisme met lage handpositie.
Grofverstelslag: 33 mm; Nauwkeurigheid fijnafstelling: 0,001 mm. Voorzien van vergrendeling en begrenzing
apparaten ② Helderveld- en donkerveldreflector met variabele diafragmastop, veldstop en verstelbare middenmontage. ③ Interferentiefilter en kleurbalansplaat (wit licht) voor gereflecteerd licht optisch pad. ④ Licht-donkerveld-schakelapparaat; slots voor kleurenfilters en polariserende accessoires. |
| Mechanische fase | 4-inch handmatige mechanische fase. Podiumafmetingen: 230 mm × 215 mm; X-Y-weg: 105 mm x 105 mm. Glas monsterdragerplaat voor zowel doorgelaten als gereflecteerde observatie. |
| Lichtbron | 12V 100W halogeenlampkamer (gereflecteerd licht); 12V 100W halogeenlamp (doorvallend licht). |
| Polarisatiefunctie | 30 graden polarisatoraansluiting (gereflecteerd licht); 360° draaibare analysatoraansluiting voor gepolariseerd licht observatie. |
| Oculairs | Twee PL10X/22 mm groothoek oculairs met verstelbare dioptrie (één oculair met dradenkruis schaal). |
| Neusstuk | ★ Helder-donkerveld-neusstuk met vijf gaten |
| DIC-functie | Differentiële interferentie-contrastfunctie; Accessoires voor DIC-insteekkaarten zijn optioneel en niet inbegrepen binnen standaard configuratie. |
| Elektronische interface | 0,5X C-mount camera-interface, instelbare focus; CTV 1X is optioneel met prijsverschilcompensatie. |
| Metallurgische doelstellingen | ★ Helder-donkerveld semi-destructieve metallurgische doelstellingen ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, Werkend Afstand: 9,00 mm × 1 st ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, werkafstand: 9,00 mm × 1 st. ③ OLPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Werkafstand: 3,40 mm × 1 st ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, werkafstand: 7,50 mm × 1 st. ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, werkafstand: 2,10 mm (optioneel, niet inbegrepen in standaardpakket) |
| Optische vergroting | 50X, 100X, 200X, 500X (schakelbaar op vier niveaus) |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 190X, 380X, 760X, 1900X (schakelbaar op vier niveaus); optioneel vergrotingsbereik: 380-3800X. |
Vrijwaring:Logo's en namen van bedrijven, universiteiten en onderzoeksinstellingen verschijnen op alleen deze website geven aan dat dergelijke entiteiten microscopen van het merk GAOPIN hebben gekocht of gebruikt. Hun uiterlijk zal dat niet zijn geïnterpreteerd als aankoop van dit exacte productmodel, en impliceert geen enkele commerciële goedkeuring, co-branding, aansluiting of gezamenlijk projectpartnerschap met deze externe organisaties.
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Precisieconnector- en componentinspectie
NIO Shanghai - Precisie-inspectie voor auto-onderdelen en kabelbomen op nieuwe energie
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Microanalyse van anorganische keramiek en nieuwe energiematerialen
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Uiterlijk en microkwaliteitscontrole voor industriële standaardonderdelen
Beijing Institute of Technology – Wetenschappelijk onderzoek naar militaire materialen en opto-elektronische apparaten
GREE Electric Appliances (Hefei) - Precisiemeting van afmetingen en inspectie van defecten voor onderdelen van huishoudelijke apparaten
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. werd officieel opgericht in 2011. Onze oprichter begon met onderzoek en productie van optische inspectieapparatuur al in 2005 en een ruime ervaring in de sector opgebouwd. Wij bezorgen full-cycle-diensten die productontwerp, technische R&D, wereldwijde verkoop en uitgebreid after-sales-onderhoud. Ons interne engineeringteam heeft meer dan tien jaar ervaring in de ontwikkeling van optische systemen om stabiliteit te garanderen technische prestaties en betrouwbare productkwaliteit.
GAOPIN biedt meer dan honderd categorieën optische inspectie-instrumenten ten behoeve van industriële en laboratorium- klanten wereldwijd. Wij bieden flexibele, kosteneffectieve microscopieoplossingen op maat voor diverse industriële toepassingen kwaliteitscontrole- en laboratoriumanalyseprojecten.
Voor buitenlandse kopers bieden we tijdige wereldwijde technische ondersteuning, inclusief online video-consultaties, operationele video- tutorials en vaardigheidstraining op afstand. Onze productiefaciliteit is gevestigd in Kunshan, provincie Jiangsu (dichtbij Sjanghai). Fabrieksbezoeken ter plaatse en virtuele online rondleidingen zijn welkom. Neem contact op met ons verkoopteam voor de authenticiteit voorbeeld-testbeelden gemaakt door deze Wafer Inspection Metallurgical Microscope om te evalueren real-imaging-prestaties.
A1: Er is alleen HDMI high-definition-uitvoer aanwezig. Er is geen USB-, WIFI- of LAN-poort. Computerverbinding niet ondersteund; het werkt onafhankelijk met een monitor voor eenvoudige workflows.
A2: Controleer de voeding en bijpassende adapter; maak de HDMI-kabel stevig vast; schakel de monitor om de HDMI-signaalbron te corrigeren; start het apparaat opnieuw op om fouten met een zwart scherm en geen beeld op te lossen.
A3: Dit is een model met handmatige scherpstelling. Pas het focushandwiel langzaam aan om scherpe beelden te verkrijgen. Vergrendel de objectieflens stevig, leg hem neer leg het monster plat en reinig regelmatig lensstof en -vlekken voor helder zicht.
A4: Alleen FAT32-geformatteerde U-schijven ≤32 GB worden ondersteund. NTFS- en exFAT-formaten zijn incompatibel. Opnieuw invoegen, opnieuw formatteren of vervang deze door een compatibele U-schijf voor normaal opslaan van foto's en video's.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
