GP-L200-300C is een metallografische microscoop met hoge vergroting. Metallurgische microscoop met hoge vergroting maakt gelijktijdige observatie met een verrekijker mogelijk oculairs en extern display. Ingebouwde helderveld- en donkerveldmodi met uniforme coaxiale verticaal verlichting, het reproduceert getrouw microstructuren zoals metaalkorrels, coatings en scheuren. Het ondersteunt beeldopname, foto archivering en dimensiemeting en -analyse. Met een solide constructie, eenvoudige bediening en modulair uitbreidbaar ontwerp, het is ideaal voor industriële kwaliteitsinspectie, materiaalmetallurgische analyse, foutanalyse, onderwijs en wetenschappelijk onderzoek.
High-definition camera geïntegreerd met een trinoculair metallurgisch frame, waardoor gelijktijdig oculair kijken mogelijk is observatie op digitaal scherm via HDMI-uitgang voor real-time opname van microbeelden.
50-500 × optische vergroting, max. 2000 × digitale vergroting. Uitgerust met professionele metallurgische doelstelling lenzen voor transparante, delicate beeldvorming om micrometaalstructuren te observeren.
Het coaxiale grof-en-fijn focusmechanisme zorgt voor een soepele, stabiele scherpstelling en vermindert effectief beeldtrillingen.
De uit één stuk gegoten aluminium basis biedt een solide draagvermogen, waardoor de microscoop stabiel blijft en niet verschuift tijdens het gebruik langdurige inspectie van metallurgische plakjes.
Klassiek wit-blauw lichaam in laboratoriumstijl met standaard trinoculaire metallurgische lay-out, strak en professioneel laboratoria en kwaliteitsateliers.
Ideaal voor metaal-metallografische analyse, inspectie van waferslices, materiaaltesten, universitair onderzoek en component-storing-analyse werk.
Ingebouwde precisiemeetfunctie, ondersteunt 1080P foto-/video-opname en USB-flashdrive-opslag. Digitaal afbeeldingen zijn eenvoudig te archiveren, vergelijken en analyseren in de nabewerking.
Binoculair kijken en synchrone elektronische observatie:Real-time synchronisatie tussen oculair en monitorweergave. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen meestal observatie met alleen oculairs; extra camera Accessoires zijn vereist voor schermuitvoer.
Groot vergrotingsbereik:Tot 500× optische vergroting en 2000× elektronische vergroting voor observatie van de microstructuur. Conventionele modellen hebben beperkte elektronische zoommogelijkheden.
Directe HDMI-uitgang:Direct aansluiten op monitor via HDMI. Algemene metallurgische microscopen nodig extra camera en opnamekaart voor video-uitvoer.
Ingebouwde offline meting:Afmetingsmeting direct op de monitor. Gewoon metallurgisch microscopen ondersteunen alleen pc-gebaseerde metingen zonder in de hardware ingebouwde meetfunctie.
Offline USB-flashdrive-opslag:Leg foto's en video's vast op een USB-flashstation zonder computer. Traditionele modellen vereisen een pc voor het opslaan van afbeeldingen.
Speciaal metallurgisch optisch pad:Geoptimaliseerd voor analyse van metaal, coating en korrelstructuur. Gewone digitale microscopen hebben geen metallurgisch optisch systeem en kunnen geen metallurgische microstructuren waarnemen.
Door gebruik te maken van een native 1920 × 1080 Full-HD industriële camera, is de microscoop volledig gekalibreerd met standaard metallurgische proefmonsters. Het legt duidelijk korrelgrenzen, delaminatie van de coating, microscheurtjes en materiaal vast metallografische structuren, die consistente scherpe details over het gehele gezichtsveld opleveren.
Uitgerust met meerdere achromatische metallurgische doelstellingen voor uiterst nauwkeurige microscopische vergroting detectie. Het professionele trinoculaire ontwerp maakt synchrone dubbele observatie mogelijk via oculairs en externe monitoren, perfect geschikt voor metaalmateriaalanalyse, laagdikte-inspectie, korrelbeoordeling en diverse professionele toepassingen metallurgische testscenario's.
Het ingebouwde professionele meetsysteem legt realtime dimensionale gegevens over het beeldscherm. Het levert nauwkeurige meting van kernmetallurgische indicatoren, waaronder laagdikte, korrellengte, scheurbreedte en delaminatie-afstand en ondersteunt real-time annotatie, beeldarchivering en export van testgegevens.
Gebouwd met doorgelaten en gereflecteerde dual-path verlichting, compatibel met ondoorzichtige metalen exemplaren en transparant ingelegd exemplaren. De precisie-metallurgische microscooptafel met hoge vergroting beschikt over een soepele XY-asbeweging voor een snelle en nauwkeurige positionering van het gebied. De De volledig metalen heavy-duty behuizing garandeert een stabiele, trillingsvrije werking tijdens langdurig industrieel materiaal detectie.
Halfgeleider en elektronische componenten:IC-chips, siliciumwafels, fotolithografische plakjes, PCB's platen, FPC flexibele platen, soldeerverbindingen, pinnen. Inspectiedoelen: Observeer interne chipcircuits, wafer coatings, defecten bij koudsolderen, oxidatie, circuitkrassen en pinvervorming; micro-slice-structuren analyseren onder een maximale vergroting van 2000 ×.
Metalen materialen en metallografische exemplaren:Metallografische schijven, boren, frezen, hardware van gestempeld metaal. Inspectiedoelstellingen: metallografische korrelstructuuranalyse, warmtebehandelingsmateriaal identificatie; detecteren randafbrokkeling, microscheurtjes, bramen en schuurdiepte.
LED opto-elektronische en kunststof gegoten onderdelen:LED-chips, optisch-kunststof onderdelen, injectie en stansen producten. Inspectiedoelen: Inspecteer kleine inkepingen, oppervlaktevlekken, ruwe randen, microvreemde deeltjes, lijmdelaminering en afdichting van microdefecten.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:Connectoren, aansluitingen, microveren, kleine gestanste werkstukken. Inspectiedoelstellingen: Let op kleine openingen en vlakheid van de krimp; voer nauwkeurige lengtemetingen op pixelniveau uit, gatdiameter en steek.
Laboratorium- en industriële QC-archivering:Metallografische slice-experimentanalyse, bemonstering-inspectie van inkomende en afgewerkte goederen; foto- en video-archivering voor defecte bewijsstukken en export van QC-rapporten met formele metingen.
Max. 500 × optische vergroting en 2000 × digitale vergroting. Geschikt voor micro-analyse van metaal-metallografische structuren, wafers, coatings en poedermaterialen voor materiaallaboratoria en halfgeleider-inkomende-inspectie.
Trinoculair synchroon optisch pad: observeer monsters met binoculaire oculairs terwijl beelden worden uitgevoerd om te monitoren HDMI. Ondersteunt gelijktijdige weergave door meerdere personen voor training, discussie en dubbele controle van defecten.
Ingebouwde precisiemeetfunctie met directe HDMI-weergave. Leg Full-HD-foto's en -video's vast die rechtstreeks zijn opgeslagen naar USB-stick. Volledige meting en beeldarchivering op locatie met eenvoudige werkplekindeling.
Standaard metallurgische fase met meerdere objectieflenzen, compatibel met metaalmonsters, PCB-coatings, halfgeleiderchips en microschijfjes. Op grote schaal gebruikt in materiaallaboratoria, testen van hardwarecoating, universitair onderzoek en elektronische chip QC.
Nauwkeurige handmatige scherpstelling, grof en fijn, voorkomt beeldverschuiving. Solide, stabiele behuizing voor langdurige laboratoriumtests. Geïntegreerde Full-HD-weergave, foto- en video-opname voor routinematige micro-analyse en herinspectie van massamonsters.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Entiteit | Beschrijving |
| Product | GP-L200-300C Metallografische microscoop met hoge vergroting |
| Categorie | Industriële trinoculaire metallografische inspectiemicroscoop, digitaal meten met hoge vergroting Microscoop |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchroon kijken, metallurgische objectieflensgroep, Full-HD CMOS-beeldvorming, ingebouwde digitale meetengine, HDMI real-time beelduitvoer, lokale opslag op USB-flashdrive technologie |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500 ×; Elektronische vergroting: 200/400/800/2000 ×; Uitgangspoort: HDMI; Opnameresolutie: 1920 × 1080; Handmatig scherpstellen, ingebouwde nauwkeurige meting *(0,001 mm, kleiner meettolerantie kan worden bereikt bij hogere vergroting. Resultaten onderworpen aan kalibratie, vergroting en monsteromstandigheden)*; USB-flashdrive-opslag; Ondersteuning van real-time beeldvoorbeeld, foto- en video-opname op de monitor; **Geen ondersteuning voor pc/netwerkpoort; Alleen USB-flashdrive ondersteunt FAT32-formaat, maximale capaciteit 32 GB** |
| Typische toepassingen | Analyse van metaal-materiaal-metallografische structuur, observatie van legeringskorrels, dikte van metaalcoating detectie, inspectie van halfgeleiderwafels, observatie van PCB-dwarsdoorsneden, laboratoriumonderzoek naar nieuwe materialen, hardware-materiaal-kwaliteitscontrole |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (nabij Shanghai) |
| Productmerk | GAOPIN |
| Productmodel | GP-L200-300C |
| Oplossing | 1920 × 1080 (Full HD) |
| Effectieve pixels | 2 megapixel |
| Methode van scherpstellen | Handmatige scherpstelling (coaxiale grof- en fijnafstelling) |
| Sensor optisch formaat | 1/2" |
| Pixelgrootte | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Uitgangsinterfaces | HDMI |
| Gedetailleerde functionele introducties die overeenkomen met elke uitvoerinterface | ① HDMI kan verbinding maken met 4K-schermen, een ingebed professioneel beeldverwerkingsprogramma en functies integreren zoals autofocus, foto-opname, groottemeting, beeldweergave, beeldvergelijking, enz., met realtime muisbediening. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 1920 × 1080 |
| Meetbewerking | Ingebouwd meetsysteem op de monitor |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4-voudig schakelbaar) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, straal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie, automatische randdetectie, schaalbalk |
| Opslagmethode | USB-flashdrive |
| Modus voor het benoemen van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving van afbeeldingsbestanden |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1,3 GHz |
| Firmware-besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkeld meetsysteem gebouwd op de Linux 3.1-kernel |
| Observatie hoofd | 30° schuine trinoculaire observatiebuis, 360° draaibaar, verstelbare oogafstand |
| Observatiemethode | Helderveld / schuine verlichting / doorvallend licht / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Gereflecteerd en doorgelaten dubbelpadverlichtingssysteem, 100-240 V breedspanning; verstelbaar gloeidraadcentrum, traploos instelbare lichtintensiteit |
| Staande raamwerk | Doorgelaten en gereflecteerd rek voor twee doeleinden; coaxiaal grof-fijn focusmechanisme; grof-afstelling beroerte 33 mm, nauwkeurigheid fijnafstelling 0,002 mm met vergrendeling en eindaanslag; verlichting met halogeenlampen; Helderveldreflector met variabele diafragmastop, veldstop en kleurfilterconversie; Uitgerust met blauwfilter voor observatie van gereflecteerd licht |
| Mobiel platform | Dubbellaags mechanisch bewegend podium; podiumgrootte: 140 × 132 mm; XY-slag: 76 × 50 mm; glazen podium voor overgedragen en gereflecteerde observatie |
| Lichtbron | 6V-30W halogeenlamp voor gereflecteerd licht; 6V-30W halogeenlamp voor doorvallend licht |
| Eenvoudige polarisatie | 30° polarisatie-inzetstuk (gereflecteerd licht) + 360° draaibaar analyse-inzetstuk voor gepolariseerde observatie |
| Elektronische interface | 0,5X C-mount-interface, instelbare focus [Optioneel: 1X C-mount] |
| Oculair | Grootveld-vlakveldoculair met hoog gezichtspunt PL10X/18 mm (één oculair met schaalmarkering) |
| Metallurgische objectieflens | ★ Achromatische achromatische metallografische objectieflens met lange werkafstand ① 5XLMPL5X/0,13WD15,5mm 1 stuk; ② 10XLMPL10X/0,25 WD8,7mm 1 stuk ③ 20XLMPL20X/0,40 WD8,8 mm 1 stuk; ④ 50XLMPL50X/0,60 WD5,1 mm 1 stuk |
| Optische vergroting | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × in vier niveaus verstelbaar |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × in vier niveaus verstelbaar (uitbreidbaar tot 400-4000 ×) |
Vrijwaring:Logo's en namen van bedrijven, universiteiten en onderzoeksinstellingen verschijnen op alleen deze website geven aan dat dergelijke entiteiten microscopen van het merk GAOPIN hebben gekocht of gebruikt. Hun uiterlijk zal dat niet zijn geïnterpreteerd als aankoop van dit exacte productmodel, en impliceert geen enkele commerciële goedkeuring, co-branding, aansluiting of gezamenlijk projectpartnerschap met deze externe organisaties.
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Technisch Instituut voor Natuurkunde en Scheikunde, CAS – Microscopisch onderzoek naar lage temperaturen en speciaal-functioneel materialen
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Testen van opto-elektronische componenten en foutanalyse
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detectie van afmetingen en microfouten voor precisiebewerking onderdelen
CATL – Inspectie op microdefecten voor lithiumbatterij-elektroden en -cellen
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Geavanceerd optisch onderzoek & karakterisering van optische componenten
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Verificatie van uiterlijk en microkwaliteit van industriële standaard-onderdelen
Objectief & Oculair:Veeg de lenzen voorzichtig af met lenspapier en lensreiniger. Raak nooit optisch aan lenzen met blote handen of gebruik gewone papieren handdoeken voor het reinigen.
Hoofdgedeelte en podium:Verwijder monsterresten en metallurgisch poeder onmiddellijk. Veeg de behuizing af met a droge zachte doek; vermijd vloeistofspatten. Controleer regelmatig of de podiumschroeven goed vastzitten om verschuiven als gevolg van het vastzitten te voorkomen botsingen.
Doorgelaten en gereflecteerde lichtbron:Schakel de lichtbron uit wanneer de microscoop inactief is. Blaas stof het lichtvenster af en raak de lamp niet rechtstreeks aan.
Mechanisch focusmechanisme:Draai het focushandwiel niet met overmatige kracht. Blijf glijden sporen schoon; smeer ze nooit zelf.
Opslagomgeving:Bewaar in een droge, goed geventileerde ruimte om vocht en schimmel te weerstaan. Bedek de apparaat na gebruik afdekken met een stofkap.
A1: Het ondersteunt alleen HDMI high-definition uitvoer. Het werkt zelfstandig met een monitor zonder computeraansluiting, met eenvoudige bediening voor verschillende precisiedetectiescenario's.
A2: Het ondersteunt Full-HD foto- en video-opnamen. Bestanden kunnen worden opgeslagen via een FAT32-geformatteerde USB-flashdrive van maximaal 32 GB. Ingebouwde nauwkeurige metingen op het scherm ondersteunen maatmarkering, gegevensarchivering en rapportexport.
A3: Controleer de voeding en adapter, maak de HDMI-kabel vast en schakel over naar het juiste signaalkanaal. Start het apparaat opnieuw op naar problemen met zwart scherm, geen beeld en schermflikkering oplossen.
A4: Het maakt gebruik van een nauwkeurig ontwerp met handmatige scherpstelling. Pas het focushandwiel langzaam aan om een helder beeld te verkrijgen. Plaats het monster plat en verwijder regelmatig lensstof, vingerafdrukken en vlekken om beelden scherp en transparant te houden.
A5: Dit apparaat ondersteunt geen computerverbinding of netwerkpoortfunctie. Met een ingebouwde onafhankelijke werking systeem kan het fotograferen, opnemen, meten en opslaan rechtstreeks via een monitoraansluiting voltooien.
A6: Alleen FAT32-geformatteerde USB-flashdrives binnen 32 GB worden ondersteund; NTFS- en exFAT-formaten zijn incompatibel. Sluit de stekker opnieuw aan of formatteer de USB-flashdrive of vervang deze door een compatibele USB-flashdrive voor normale bestandsopslag.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., opgericht in 2011 en wiens oprichter sindsdien industriële expertise heeft opgebouwd 2005, is een op technologie gerichte onderneming, gespecialiseerd in het ontwerp, R&D, verkoop en after-sales service van industriële microscopen. Ons kernengineeringteam brengt meer dan tien jaar gespecialiseerde ervaring met zich mee, waardoor volwassen technologie wordt gegarandeerd en betrouwbare kwaliteit. Met meer dan honderd optische productmodellen en een wereldwijd klantenbestand is GAOPIN continu actief levert op maat gemaakte, kosteneffectieve microscopieoplossingen. Wij bieden snelle wereldwijde technische ondersteuning via onlineconferenties, video-ondersteunde begeleiding en trainingssessies op afstand. Onze productiebasis bevindt zich in Kunshan, Provincie Jiangsu (dicht bij Shanghai). Er zijn zowel fabrieksinspecties op locatie als virtuele rondleidingen door de fabriek mogelijk klanten. Neem gerust contact met ons op voor voorbeeldtestfoto's gemaakt met deze GP-L200-300C Hoge vergroting metallografisch microscoop om de beeldprestaties uit de eerste hand te evalueren.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
