Deze 4K Ultra HD-metallurgische microscoop met hoge vergroting is ideaal voor analyse van materiaaldefecten en workflows voor kwaliteitsaudits. metallografische microscoop met 4K Ultra HD. Dubbele weergave via binoculaire oculairs en externe monitor maakt dit mogelijk handig teamoverzicht. Draadloze gegevensoverdracht kan worden gerealiseerd door een draadloze adapter in de USB-poort aan te sluiten. Uniforme coaxiale verlichting zorgt samen met helderveld- en donkerveldmodi voor scherp zicht op korrels, coatings, scheuren en andere kleine gebreken. Ingebouwde functies voor het vastleggen van afbeeldingen en het analyseren van metingen stroomlijnen inspectieworkflows. Het trillingsdempende chassis zorgt voor een consistente beeldkwaliteit; upgradevriendelijke modulaire lay-out bezuinigingen toekomstige hardware-investeringen.
4K-camera geïntegreerd met trinoculair metallurgisch frame, ondersteunt gelijktijdige oculair- en schermweergave. Dubbel uitvoer van HDMI + Gigabit-LAN-poort om ultra-HD microbeelden in realtime vast te leggen.
Optische vergroting 50-500×, maximale digitale vergroting 2000×. Precisie optisch pad met professional metallurgische doelstellingen zorgen voor scherpe beeldvorming van micrometaaltexturen.
De geïntegreerde grove en fijne scherpsteleenheid zorgt voor een soepele en stabiele scherpstelling, waardoor de beeldtrillingen tijdens het scherpstellen aanzienlijk worden verminderd observatie.
De uit één stuk gegoten aluminium basis houdt de unit goed gebalanceerd, vrij van wiebelen of verschuiven tijdens langdurige slice-inspectie en materiaalobservatiewerk.
Klassieke wit-blauwe body in onderzoeksstijl met standaard trinoculaire metallurgische lay-out, strak en minimalistisch laboratoria en werkplaatsen voor kwaliteitsinspectie.
Geschikt voor metaal-metallografische analyse, inspectie van halfgeleiderwafels, analyse van materiaalfouten, taken op het gebied van universitair onderwijsonderzoek en het testen van de kwaliteit van componenten.
4K (3840 × 2160) foto- en video-opname. Ingebouwde metingen op de monitor en op pc-software gebaseerde metingen zijn dat wel beschikbaar; dubbele opslag via USB-flashdrive en computer. Secundaire ontwikkeling wordt ondersteund voor handig beeldarchivering, vergelijking en diepgaande data-analyse.
Binoculair kijken en synchrone elektronische observatie:Gesynchroniseerde weergave tussen oculair en monitor. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen kijken via het oculair; Er zijn extra camera-accessoires nodig voor schermuitvoer.
4K ultra-high-definition beeldvorming:3840 × 2160 4K-resolutie voor reproductie van fijne microstructuren. Gangbare metallurgische camera's zijn meestal 1080P met beperkte helderheid.
Interfaces met dubbele uitgang:HDMI + Gigabit-LAN-poort. Traditionele metallurgische apparaten meestal alleen verbinden met pc zonder netwerkpoort voor apparaatintegratie.
Dubbele meetmodi:Offline ingebouwde meting op de monitor plus pc-softwaregebaseerde meting. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen metingen aan de pc-zijde zonder in de hardware ingebouwde meetfunctie.
Dubbele opslagmodi:Offline USB-flashdrive-opslag en pc-softwareopslag; gegevensbesparing beschikbaar met of zonder computer. Conventionele modellen vereisen een pc voor het opslaan van afbeeldingen.
Secundaire ontwikkeling ondersteund:Gigabit-LAN-poort maakt systeemintegratie mogelijk voor implementatie van automatiseringsproductielijnen. Algemene metallurgische microscopen ondersteunen geen secundaire ontwikkeling integratie.
Speciaal metallurgisch optisch pad:Geoptimaliseerd voor analyse van metaal, coating en korrelstructuur. Gewone digitale microscopen hebben geen speciaal metallurgisch optisch pad en kunnen geen metallurgisch waarnemen micro-structuren.
Uitgerust met een native 4K (3840×2160) industriële camera en professioneel gekalibreerd met standaard metallurgische testmonsters produceert het systeem ultraheldere, gelijkmatig gerichte beelden. Het herstelt nauwkeurig ingewikkeld microstructuren inclusief korrelgrenzen, gelaagde coatings en microbreuken met consistente scherpte van midden tot rand.
Geconfigureerd met meerdere achromatische metallurgische doelstellingen voor microanalyse met hoge vergroting. De dubbele visie trinoculair ontwerp ondersteunt synchrone oculairweergave en digitale monitorweergave, perfect passend voor industrieel gebruik scenario's zoals metaalmateriaalidentificatie, coatingdikte-inspectie en korrelkwaliteitsbeoordeling.
Het ingebouwde professionele meetalgoritme maakt gegevensoverlay op het scherm en hoge precisie mogelijk metallurgische metingen. Het bestrijkt meerdere belangrijke indicatoren, waaronder laagdikte, korrellengte, scheurbreedte en afstand tussen de lagen, terwijl ondersteuning van real-time annotatie, beeldarchivering en testgegevensexport. Compatibel met scherptediepte-stapeling en functies voor het samenvoegen van afbeeldingen.
Dual-path doorgelaten en gereflecteerde verlichting garandeert gekwalificeerde verlichting voor diverse specimentypen. De uiterst nauwkeurig beweegbaar podium zorgt voor flexibele en nauwkeurige positionering in het veld. Effectief versterkte volledig metalen behuizing elimineert trillingen en levert stabiele prestaties voor langdurige detectie van batchmateriaal.
Halfgeleider en elektronische componenten:IC-chips, siliciumwafels, fotolithografische plakjes, PCB's platen, FPC flexibele platen, soldeerverbindingen, pinnen. Inspectiedoelen: Observeer interne chipcircuits, wafer coatings, defecten bij koudsolderen, oxidatie, circuitkrassen en pinvervorming; micro-slice-structuren analyseren onder een maximale vergroting van 2000 ×.
Metalen materialen en metallografische exemplaren:Metallografische plakjes, hardware van gestempeld metaal. Inspectiedoelen: metallografische korrelstructuuranalyse, identificatie van warmtebehandelingsmateriaal; detecteren randafbrokkeling, microscheurtjes, bramen en schuurdiepte.
LED opto-elektronische en kunststof gegoten onderdelen:LED-chips, optisch-kunststof onderdelen, injectie en stansen producten. Inspectiedoelen: Inspecteer kleine inkepingen, oppervlaktevlekken, ruwe randen, microvreemde deeltjes, lijmdelaminering en afdichting van microdefecten.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:Connectoren, aansluitingen, microveren, kleine gestanste werkstukken. Inspectiedoelstellingen: Let op kleine openingen en vlakheid van de krimp; voer nauwkeurige lengtemetingen op pixelniveau uit, gatdiameter en steek.
Laboratorium- en industriële QC-archivering:Metallografische slice-experimentanalyse, bemonstering-inspectie van inkomende en afgewerkte goederen; foto- en video-archivering voor defecte bewijsstukken en export van QC-rapporten met formele metingen.
Optische vergrotingsbereiken 50 ×-500 ×, maximale digitale vergroting tot 2000 ×, met native 3840 × 2160 4K resolutie. Het geeft duidelijk metallografische texturen, chipcoatings en kleine korrels weer, ideaal voor micro-analyse van metaal-metallografische structuren, wafers, coatings en poedermaterialen voor materiaallaboratoria en halfgeleiderinkomende inspectie.
Trinoculair optisch pad maakt gelijktijdig kijken via binoculaire oculairs en monitor mogelijk. Meerdere operators kunnen dat doen controleer micromonsters samen, perfect voor universitaire opleidingen en dubbele inspectie van defecten in fabrieken.
Uitgerust met HDMI + Gigabit-LAN-poorten. HDMI verbindt de monitor voor weergave ter plaatse; LAN-poort ondersteunt lokaal netwerk toegang voor beeldtoegang op afstand en synchrone monitoring van meerdere stations, waardoor gecentraliseerd apparatuurbeheer wordt gerealiseerd voor grootschalige laboratoria.
Twee meetoplossingen: ingebouwde meting op de monitor en op pc-software gebaseerde meting. Twee opslagmogelijkheden: USB opslag op flashdrives en computerarchivering. Gemeten gegevens en 4K-beelden kunnen worden geëxporteerd voor QC-rapporten, en de apparaat ondersteunt secundaire ontwikkeling voor productielijnintegratie.
Standaard metallurgische fase met meerdere objectieflenzen, geschikt voor metaalmonsters, wafers, coatingplakjes en micro-elektronische onderdelen. Precisie coaxiale grof-en-fijn handmatige scherpstelling met stabiel lichaam, veel gebruikt in het onderwijs, inkomende inspectie en onderzoek naar nieuw materiaal.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Entiteit | Beschrijving |
| Product | GP-L200-324K 4K Metallografische microscoop met hoge vergroting en 4K Ultra HD |
| Categorie | Industriële trinoculaire 4K metallografische inspectie- en meetmicroscoop met hoge vergroting |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchrone observatie, professionele metallurgische objectieflensgroep, 4K ultra-high-definition CMOS-beeldvorming, dubbele digitale meetengine (op het scherm en pc-software), HDMI + Gigabit-LAN dubbele signaaloverdracht, dubbele opslagtechnologie, ondersteuning voor open systemen secundaire ontwikkeling |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500 ×; Elektronische vergroting: 200/400/800/2000 ×; Dubbele uitgang: HDMI + Gigabit-LAN; 4K-opnameresolutie 3840 × 2160; Handmatig scherpstellen; Dubbele meetmodi: ingebouwd Meting op het apparaat + professionele pc-softwaremeting *(0,001 mm, kleinere meettolerantie kan worden bereikt bij een hogere vergroting. Resultaten onder voorbehoud van kalibratie, vergroting en monstername voorwaarden)*; Dubbele opslag: lokale opslag op USB-flashdrive + opslag van computerbestanden; Monitor-terminal ondersteunt afbeeldingsvoorbeeld, dimensionale metingen, foto-opname en bestandsopslag; PC-terminal ondersteunt meting en beeldarchivering, compatibel met secundaire ontwikkelingsintegratie |
| Typische toepassingen | Analyse van metaal-metallografische structuur, observatie van legeringskorrels en materiaaltextuur, laagdiktemeting, halfgeleiderwafeldetectie, PCB-dwarsdoorsnede-inspectie, precisie-hardware-storingsanalyse, universitair laboratorium-materiaalonderzoek, nieuwe-energie-materiaal-kwaliteit- testen |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (nabij Shanghai) |
| Productmerk | GAOPIN |
| Productmodel | GP-L200-324K |
| Oplossing | 3840 × 2160 (4K) |
| Effectieve pixels | 8,3 megapixel |
| Methode van scherpstellen | Handmatige scherpstelling (coaxiale grof- en fijnafstelling) |
| Sensor optisch formaat | 1/1,7" |
| Pixelgrootte | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Uitgangsinterfaces | HDMI + Gigabit-LAN |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 3840 × 2160 LAN-poort: 20 fps @1920 × 1080 |
| Meetbewerking | Ingebouwd meetsysteem op de monitor + meting op pc-software |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm *(Kleinere meettolerantie kan worden bereikt bij hogere vergroting. Resultaten afhankelijk van kalibratie, vergroting en monsteromstandigheden)* |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4-voudig schakelbaar) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, straal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie, automatische randdetectie, schaalbalk |
| Opslagmethode | USB-stick + pc-softwareopslag |
| Modus voor het benoemen van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving van afbeeldingsbestanden |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Firmware-besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkeld meetsysteem gebouwd op de Linux 3.1-kernel |
| Observatie hoofd | 30° schuine trinoculaire observatiebuis, 360° draaibaar, verstelbare oogafstand |
| Observatiemethode | Helderveld / schuine verlichting / doorvallend licht / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Gereflecteerd en doorgelaten dubbelpadverlichtingssysteem, 100-240 V breedspanning; verstelbaar gloeidraadcentrum, traploos instelbare lichtintensiteit |
| Staande raamwerk | Doorgelaten en gereflecteerd rek voor twee doeleinden; coaxiaal grof-fijn focusmechanisme; grof-afstelling beroerte 33 mm, nauwkeurigheid fijnafstelling 0,002 mm met vergrendeling en eindaanslag; verlichting met halogeenlampen; Helderveldreflector met variabele diafragmastop, veldstop en kleurfilterconversie; Uitgerust met blauwfilter voor observatie van gereflecteerd licht |
| Mobiel platform | Dubbellaags mechanisch bewegend podium; podiumgrootte: 140 × 132 mm; XY-slag: 76 × 50 mm; glazen podium voor overgedragen en gereflecteerde observatie |
| Lichtbron | 6V-30W halogeenlamp voor gereflecteerd licht; 6V-30W halogeenlamp voor doorvallend licht |
| Eenvoudige polarisatie | 30° polarisatie-inzetstuk (gereflecteerd licht) + 360° draaibaar analyse-inzetstuk voor gepolariseerde observatie |
| Elektronische interface | 0,5X C-mount-interface, instelbare focus [Optioneel: 1X C-mount] |
| Oculair | Grootveld-vlakveldoculair met hoog gezichtspunt PL10X/18 mm (één oculair met schaalmarkering) |
| Metallurgische objectieflens | Achromatische metallurgische objectieven met een lange werkafstand: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optische vergroting | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × in vier niveaus verstelbaar |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × in vier niveaus verstelbaar (uitbreidbaar tot 400-4000 ×) |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detectie van afmetingen en microfouten voor precisiebewerking onderdelen
Onderzoeksinstituut voor Fysische en Chemische Technologie van de Nucleaire Industrie – Micromorfologie-observatie & precisie-componentenanalyse van speciale materialen
DOOV – Assemblage-inspectie van mobiele apparaten, testen van scherm- en componentuiterlijk
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Geavanceerd optisch onderzoek & karakterisering van optische componenten
Tsinghua University – Onderwijs, laboratoriumbeeldvorming en experimentele data-archivering
Beijing Institute of Technology – Wetenschappelijk onderzoek naar materialen van militaire kwaliteit en opto-elektronische apparaten
Objectief & Oculair:Veeg de lenzen voorzichtig af met lenspapier en lensreiniger. Raak nooit optisch aan lenzen met blote handen of gebruik gewone papieren handdoeken voor het reinigen.
Hoofdgedeelte en podium:Verwijder monsterresten en metallurgisch poeder onmiddellijk. Veeg de behuizing af met a droge zachte doek; vermijd vloeistofspatten. Controleer regelmatig of de podiumschroeven goed vastzitten om verschuiven als gevolg van het vastzitten te voorkomen botsingen.
Doorgelaten en gereflecteerde lichtbron:Schakel de lichtbron uit wanneer de microscoop inactief is. Blaas stof het lichtvenster af en raak de lamp niet rechtstreeks aan.
Mechanisch focusmechanisme:Draai het focushandwiel niet met overmatige kracht. Blijf glijden sporen schoon; smeer ze nooit zelf.
Opslagomgeving:Bewaar in een droge, goed geventileerde ruimte om vocht en schimmel te weerstaan. Bedek de apparaat na gebruik afdekken met een stofkap.
A1: Het biedt een visuele vergroting van 50-500 × en een elektronische vergroting van 200-2000 ×. Oculair en monitor synchrone observatie is beschikbaar voor routine- en precisie-inspectie.
A2: Het ondersteunt HDMI-video-uitvoer en Gigabit-LAN-poortverbinding. Het kan zelfstandig werken met een monitor of worden aangesloten naar een PC via LAN voor beeldoverdracht en softwarebesturing.
A3: Het ondersteunt 4K-opnamen, video-opnamen en uiterst nauwkeurige metingen. De bijpassende software realiseert het scherptediepte stapelen en afbeeldingen naaien. Het ondersteunt USB-flashdrive en pc-opslag, rapportexport en secundaire ontwikkeling.
A4: Wazige beelden worden veroorzaakt door ongelijkmatige monsters, sterke vergroting, stoffige lenzen of onjuiste scherpstelling. Maak monsters plat, verminderen vergroting, maak de lens schoon en pas de focus aan voor een helder beeld.
A5: Geen HDMI-beeld: Controleer de voeding, kabelaansluiting en monitorsignaalbron en start het apparaat opnieuw op. LAN-verbinding- fout: houd pc en apparaat in hetzelfde netwerksegment, schakel de firewall uit en controleer de IP-instellingen.
A6: Ideaal voor metallografische analyse, chips, precisie-elektronica, poedermetallurgie en vezeltesten. Geschikt voor industriële kwaliteitsinspectie, wetenschappelijk onderzoek en onderwijs.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., opgericht in 2011 en wiens oprichter sindsdien industriële expertise heeft opgebouwd 2005, is een op technologie gerichte onderneming, gespecialiseerd in het ontwerp, R&D, verkoop en after-sales service van industriële microscopen. Ons kernengineeringteam brengt meer dan tien jaar gespecialiseerde ervaring met zich mee, waardoor volwassen technologie wordt gegarandeerd en betrouwbare kwaliteit. Met meer dan honderd optische productmodellen en een wereldwijd klantenbestand is GAOPIN continu actief levert op maat gemaakte, kosteneffectieve microscopieoplossingen. Wij bieden snelle wereldwijde technische ondersteuning via onlineconferenties, video-ondersteunde begeleiding en trainingssessies op afstand. Onze productiebasis bevindt zich in Kunshan, Provincie Jiangsu (dicht bij Shanghai). Er zijn zowel fabrieksinspecties op locatie als virtuele rondleidingen door de fabriek mogelijk klanten. Neem gerust contact met ons op voor voorbeeldtestbeelden gemaakt met deze GP-L200-324K 4K Hoge vergroting metallografische microscoop met 4K Ultra HD om de beeldprestaties uit de eerste hand te evalueren.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
