Deze metallurgische microscoop met hoge vergroting en autofocus is gebouwd voor gedetailleerde beoordeling van materiaalmonsters en is een capabele metallografische microscoop met hoge vergroting en Autofocus. Het maakt dual-view-observatie mogelijk via binoculaire oculairs en een extern display. USB-poort compatibel draadloze adapter ondersteunt draadloze gegevensoverdracht. Uitgerust met helderveld- en donkerveldmodi en zelfs coaxiale verlichting brengt microdefecten zoals korrels, coatings en scheuren scherp aan het licht. Het integreert beeld snapshot- en meet-analysefuncties. Anti-vibratie stabiel chassis zorgt voor consistente beeldprestaties, terwijl de modulaire lay-out die klaar is voor een upgrade, de updatekosten in een later stadium verlaagt.
4K-camera geïntegreerd met trinoculaire metallurgische standaard, waardoor gelijktijdige oculair- en schermweergave mogelijk is. Meerdere uitgangen poorten, waaronder HDMI, USB3.0 en WiFi voor real-time ultra-HD microbeeldopname.
Optische vergroting 50-500×, maximale digitale vergroting 2000×. Precisie optisch pad met professional metallurgische doelstellingen leveren scherpe beelden op van micrometaaltexturen en korrelstructuren.
Ingebouwde autofocusmodule maakt snelle, stabiele scherpstelling mogelijk zonder handmatige bediening, vermindert beeldtrillingen en aanzienlijk verhoogt inspectie-efficiëntie voor ongelijke metallografische monsters.
De uit één stuk gegoten aluminium basis houdt de unit goed gebalanceerd, vrij van wiebelen of verschuiven tijdens langdurige slice-inspectie en materiaalobservatiewerk.
Klassieke wit-blauwe body in onderzoeksstijl met standaard trinoculaire metallurgische lay-out, strak en minimalistisch laboratoria en werkplaatsen voor kwaliteitsinspectie.
Geschikt voor metaal-metallografische analyse, inspectie van halfgeleiderwafels, analyse van materiaalfouten, taken op het gebied van universitair onderwijsonderzoek en het testen van de kwaliteit van componenten.
Ondersteunt 4K (3840 × 2160) foto- en video-opname. Ingebouwde metingen op de monitor en op pc-software gebaseerde metingen beschikbaar; dubbele opslag via USB-flashdrive en computer. Ondersteunt scherptedieptestapeling, beeldstitching en secundaire ontwikkeling voor gemakkelijke beeldarchivering, vergelijking en diepgaande data-analyse.
Binoculair kijken en synchrone elektronische observatie:Gesynchroniseerde weergave tussen oculair en monitor. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen kijken via het oculair; Er zijn extra camera-accessoires nodig voor schermuitvoer.
4K ultra-high-definition beeldvorming + autofocus:Native 4K-resolutie plus hardware-autofocus voor exemplaren met oneffen oppervlak. Gangbare metallurgische apparaten zijn volledig afhankelijk van handmatige scherpstelling met een lagere beeldresolutie.
Interfaces met drie uitgangen:HDMI + USB3.0 + WiFi draadloze transmissie. Traditioneel metallurgisch apparaten maken doorgaans alleen verbinding met een pc zonder draadloze transmissiefunctie.
Dubbele meetmodi:Offline ingebouwde meting op de monitor plus pc-softwaregebaseerde meting. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen metingen aan de pc-zijde zonder in de hardware ingebouwde meetfunctie.
Dubbele opslagmodi:Offline USB-flashdrive-opslag en pc-softwareopslag; gegevensbesparing beschikbaar met of zonder computer. Conventionele modellen vereisen een pc voor beeldopslag.
Geavanceerd beeldverwerkingsalgoritme:Ingebouwde scherptedieptestapeling en beeldstitching voor metallografische monsters met ongelijke hoogte. Algemene metallurgische microscopen missen dergelijke ingebedde algoritmefuncties.
Secundaire ontwikkeling ondersteund:Netwerkcompatibel systeem maakt automatisering van de productielijn mogelijk integratie. Algemene metallurgische microscopen ondersteunen de integratie van secundaire ontwikkeling niet.
Speciaal metallurgisch optisch pad:Geoptimaliseerd voor metaalkorrels, coating en materiaal-metallografische analyse. Gewone digitale microscopen hebben geen speciaal optisch pad en kunnen niet goed waarnemen metallurgische microstructuren.
Geïntegreerd met een native 3840 × 2160 4K-beeldsensor en gekalibreerd met standaard metallurgische resolutie-sjablonen, de apparatuur bereikt een uniforme scherpte over het hele veld. Het maakt duidelijke identificatie van microscopische kenmerken mogelijk inclusief metalen korrelgrenzen, delaminatie van de platen, microscheuren aan het oppervlak en metallurgische weefsels zonder perifere onscherpte.
Het gebruik van hoogwaardige achromatische metallurgische doelstellingen voor krachtige microscopische observatie en analyse. De verbeterde trinoculaire optische buis realiseert synchrone optische weergave en digitale beeldvorming, volledig toepasbaar op metaal-microstructuur-onderzoek, coating-dikte-inspectie, korrelkwaliteit-beoordeling en scenario's voor industriële kwaliteitscontrole.
Het speciale metallurgische meetsysteem biedt real-time parameter-overlay op het scherm en multidimensionale data-analyse. Het meet nauwkeurig kritische metallurgische parameters zoals filmdikte, korreldimensie, breukbreedte en stratificatie-opening, en ondersteunt directe annotatie, specimen-beeldopslag en inspectie-gegevens-export. Compatibel met scherptediepte-stapeling en beeld-stitching-functies.
Dual-path doorgelaten en gereflecteerde verlichting garandeert gekwalificeerde verlichting voor diverse soorten exemplaren. De Het nauwkeurige mechanische platform met XY-as zorgt voor soepele bewegingen en snelle doelpositionering. De rigide volledig metalen chassis biedt uitstekende anti-vibratieprestaties en zorgt voor een stabiele en betrouwbare werking gedurende langere tijd professionele metallurgische testen.
Halfgeleider en elektronische componenten:IC-chips, siliciumwafels, fotolithografische plakjes, PCB's platen, FPC flexibele platen, soldeerverbindingen, pinnen. Inspectiedoelen: Observeer interne chipcircuits, wafercoatings, defecten bij koudsolderen, oxidatie, krassen op circuits en pinvervorming; analyseren micro-slice-structuren onder een maximale vergroting van 2000 ×.
Metalen materialen en metallografische exemplaren:Metallografische schijven, boren, frezen, hardware van gestempeld metaal. Inspectiedoelstellingen: metallografische korrelstructuuranalyse, identificatie van warmtebehandelingsmateriaal; detecteren randafbrokkeling, microscheurtjes, bramen en schuurdiepte.
LED opto-elektronische en kunststof gegoten onderdelen:LED-chips, optisch-kunststof onderdelen, injectie en stansen producten. Inspectiedoelen: Inspecteer kleine inkepingen, oppervlaktevlekken, ruwe randen, microvreemde deeltjes, lijmdelaminering en afdichtingsmicrodefecten.
Zeer nauwkeurige miniatuurcomponenten:Connectoren, aansluitingen, microveren, kleine gestanste werkstukken. Inspectiedoelen: Observeer kleine openingen en vlakheid van de krimp; voer nauwkeurige lengtemetingen op pixelniveau uit, gatdiameter en steek.
Laboratorium- en industriële QC-archivering:Metallografische slice-experimentanalyse, bemonstering-inspectie van inkomende en afgewerkte goederen; foto- en video-archivering voor defecte bewijsstukken en export van QC-rapporten met formele metingen.
Optische vergrotingsbereiken 50 ×-500 ×, maximale digitale vergroting tot 2000 ×. Ingebouwde autofocus elimineert herhaalde handmatige scherpstelling voor ongelijke monsters. Native 4K-resolutie van 3840 × 2160 legt duidelijk vast metallografische texturen, wafercoatings en microchipsporen, waardoor de efficiëntie van laboratoriuminspectie voor bulkmonsters aanzienlijk wordt vergroot.
Poorten met drie uitgangen: HDMI, USB3.0 en WiFi. HDMI-aansluitmonitor voor weergave ter plaatse; USB3.0 maakt snelle PC- analyse; WiFi-draadloos uitzenden naar telefoons en tablets voor kabelloze observatie op afstand, geschikt voor spot-sampling en groepsles-discussie.
Twee meetoplossingen: ingebouwde metingen op de monitor en metingen op pc-softwarebasis. Uitgerust met stapelen van scherptediepte en beeldstitching om volledig gefocuste foto's te maken van ongelijke preparaten en naadloze panoramische weergaven van grote monsters. Ondersteunt secundaire ontwikkeling voor productielijnintegratie, ideaal voor onderzoek naar nieuwe materialen en analyse van coatingtolerantie.
Het trinoculaire-synchrone ontwerp maakt gelijktijdige weergave via binoculaire oculairs en 4K-monitor mogelijk. Leraren en QC-inspecteurs kunnen hetzelfde micromonster samen observeren, perfect voor universitaire opleidingen en dubbele inspectie van gebreken in fabrieken.
Twee opslagopties: direct opslaan op een USB-flashdrive voor 4K-foto's/video's, en pc-software-archivering voor massa-afbeeldingen-&-meetgegevens. Vastgelegde records en dimensierapporten kunnen voor lange termijn worden geëxporteerd en opgeslagen, voldoen aan de traceerbaarheidseisen van fabrieks-QC, universiteitslaboratoriumrapporten en inspectie van binnenkomende halfgeleiders.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Entiteit | Beschrijving |
| Product | GP-L200-462H 4K Metallografische microscoop met hoge vergroting en autofocus |
| Categorie | Industriële trinoculaire 4K-autofocus met hoge vergroting Metallografische inspectie en meting Microscoop |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchrone observatie, professionele metallurgische objectieflensset, 4K ultra-high-definition CMOS-beeldvorming, autofocusmodule, meerkanaals signaaloverdracht, dubbele digitale meetengine, stapelen van scherptediepte en algoritme voor het samenvoegen van afbeeldingen, ondersteuning voor open systemen secundaire ontwikkeling |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500 ×; Elektronische vergroting: 200/400/800/2000 ×; Drievoudige uitgang: HDMI + USB3.0 + WiFi; 4K-opnameresolutie 3840 × 2160; Autofocusontwerp; Dubbele meetmodi: ingebouwd Meting op het apparaat + professionele pc-software-meting *(0,001 mm, kleinere meettolerantie kan worden bereikt bij een hogere vergroting. Resultaten onder voorbehoud van kalibratie, vergroting en monstername voorwaarden)*; Dubbele opslag: lokale opslag op USB-flashdrive + opslag van computerbestanden; Monitor-terminal ondersteunt beeldvoorbeeld, dimensionale metingen, foto- en video-opname; PC-terminal ondersteunt meting en beeldarchivering, compatibel met secundaire ontwikkelingsintegratie |
| Typische toepassingen | Analyse van metaal-metallografische structuur, observatie van legeringskorrels en materiaaltextuur, laagdiktemeting, halfgeleiderwafeldetectie, PCB-dwarsdoorsnede-inspectie, precisie-hardware-storingsanalyse, universitair laboratorium-materiaalonderzoek, nieuwe-energie-materiaal-kwaliteit- testen |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (nabij Shanghai) |
| Productmerk | GAOPIN |
| Productmodel | GP-L200-462H |
| Oplossing | 3840 × 2160 (4K) |
| Effectieve pixels | 8,3 megapixel |
| Methode van scherpstellen | Autofocus |
| Sensor optisch formaat | 1/1,8" |
| Pixelgrootte | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Uitgangsinterfaces | HDMI + USB3.0 + WiFi |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 3840 × 2160 USB3.0: 30 fps bij 3840 × 2160 / 60 fps bij 1920 × 1080 WiFi: 30 fps @3840× 2160/60 fps @1920×1080 |
| Meetbewerking | Ingebouwd meetsysteem op de monitor + meting op pc-software |
| Meetnauwkeurigheid | 0,002-0,005 mm *(Kleinere meettolerantie kan worden bereikt bij hogere vergroting. Resultaten onderwerp tot kalibratie, vergroting en monsteromstandigheden)* |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4-voudig schakelbaar) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, straal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie, automatische randdetectie, schaalbalk |
| Opslagmethode | USB-stick + pc-softwareopslag |
| Modus voor het benoemen van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving van afbeeldingsbestanden |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Firmware-besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkeld meetsysteem gebouwd op de Linux 3.1-kernel |
| Observatie hoofd | 30° schuine trinoculaire observatiebuis, 360° draaibaar, verstelbare oogafstand |
| Observatiemethode | Helderveld / schuine verlichting / doorvallend licht / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Gereflecteerd en doorgelaten dubbelpadverlichtingssysteem, 100-240 V breedspanning; verstelbaar gloeidraadcentrum, traploos instelbare lichtintensiteit |
| Staande raamwerk | Doorgelaten en gereflecteerd rek voor twee doeleinden; coaxiaal grof-fijn focusmechanisme; grof-afstelling beroerte 33 mm, nauwkeurigheid fijnafstelling 0,002 mm met vergrendeling en eindaanslag; verlichting met halogeenlampen; Helderveldreflector met variabele diafragmastop, veldstop en kleurfilterconversie; Uitgerust met blauwfilter voor observatie van gereflecteerd licht |
| Mobiel platform | Dubbellaags mechanisch bewegend podium; podiumgrootte: 140 × 132 mm; XY-slag: 76 × 50 mm; glazen podium voor overgedragen en gereflecteerde observatie |
| Lichtbron | 6V-30W halogeenlamp voor gereflecteerd licht; 6V-30W halogeenlamp voor doorvallend licht |
| Eenvoudige polarisatie | 30° polarisatie-inzetstuk (gereflecteerd licht) + 360° draaibaar analyse-inzetstuk voor gepolariseerde observatie |
| Elektronische interface | 0,5X C-mount-interface, instelbare focus [Optioneel: 1X C-mount] |
| Oculair | Grootveld-vlakveldoculair met hoog gezichtspunt PL10X/18 mm (één oculair met schaalmarkering) |
| Metallurgische objectieflens | Achromatische metallurgische objectieven met een lange werkafstand: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optische vergroting | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × in vier niveaus verstelbaar |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × in vier niveaus verstelbaar (uitbreidbaar tot 400-4000 ×) |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
NIO Shanghai – Precisie-inspectie voor nieuwe energie-auto-onderdelen en kabelboomassemblages
GREE Electric Appliances (Hefei) - Precisiemeting van afmetingen en inspectie van defecten voor componenten van huishoudelijke apparaten
Huawei Electronics – Inspectie van inkomend materiaal en QC van de productielijn voor elektronische componenten
DOOV – Assemblage-inspectie van mobiele apparaten, testen van scherm- en componentuiterlijk
Lenstechnologie – Microfoutdetectie voor glazen afdekplaten en telefoonbeschermpanelen
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Testen van opto-elektronische componenten en foutanalyse
Objectief & Oculair:Veeg de lenzen voorzichtig af met lenspapier en lensreiniger. Raak nooit optisch aan lenzen met blote handen of gebruik gewone papieren handdoeken voor het reinigen.
Hoofdgedeelte en podium:Verwijder monsterresten en metallurgisch poeder onmiddellijk. Veeg de behuizing af met a droge zachte doek; vermijd vloeistofspatten. Controleer regelmatig of de podiumschroeven goed vastzitten om verschuiven als gevolg van het vastzitten te voorkomen botsingen.
Doorgelaten en gereflecteerde lichtbron:Schakel de lichtbron uit wanneer de microscoop inactief is. Blaas stof het lichtvenster af en raak de lamp niet rechtstreeks aan.
Mechanisch focusmechanisme:Draai het focushandwiel niet met overmatige kracht. Blijf glijden sporen schoon; smeer ze nooit zelf.
Opslagomgeving:Bewaar in een droge, goed geventileerde ruimte om vocht en schimmel te weerstaan. Bedek de apparaat na gebruik afdekken met een stofkap.
Software & Kalibratie:Kalibreer de meetschaal voordat u metingen uitvoert. Volledig dicht bijbehorende software voordat u de stroom afsluit. Demonteer het apparaat niet zonder toestemming; contact opnemen after-sales service bij storingen.
A1: Visuele vergroting: 50-500 ×; Elektronische vergroting: 200-2000 ×. Synchrone observatie via oculair en monitor is beschikbaar voor routine- en precisie-inspectie.
A2: Het ondersteunt HDMI-, USB3.0- en WiFi-uitvoer. Het kan rechtstreeks met monitoren en pc's werken, of draadloos werken schermprojectie via WiFi-verbinding.
A3: Het ondersteunt 4K-opnamen, video-opnamen en uiterst nauwkeurige metingen. De bijpassende software realiseert het scherptediepte stapelen en afbeeldingen naaien. Het ondersteunt USB-flashdrive en pc-opslag, rapportexport en secundaire ontwikkeling. Geschikt voor metaalmetallografie, chips, vezels, poedermetallurgie, precisie-elektronica-inspectie, wetenschappelijk onderzoeks- en onderwijsscenario's.
A4: Controleer de status van de voeding en de HDMI-kabelverbindingen, bevestig dat de monitor op de juiste stand staat signaalingangskanaal. Start de microscoophost opnieuw op. Als de fout aanhoudt, neem dan contact op met de klantenservice.
A5: Ideaal voor metallografische analyse, chips, precisie-elektronica, poedermetallurgie en vezeltesten. Geschikt voor industriële kwaliteitsinspectie, wetenschappelijk onderzoek en onderwijswerk.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., opgericht in 2011 en wiens oprichter sindsdien industriële expertise heeft opgebouwd 2005, is een op technologie gerichte onderneming, gespecialiseerd in het ontwerp, R&D, verkoop en after-sales service van industriële microscopen, waaronder de metallografische microscoop met hoge vergroting en autofocus. Ons kernengineeringteam brengt meer dan tien jaar gespecialiseerde ervaring, waardoor volwassen technologie en betrouwbare kwaliteit worden gegarandeerd. Met meer dan één honderd optische productmodellen en een wereldwijd klantenbestand, levert GAOPIN voortdurend op maat gemaakte, kosteneffectieve producten microscopie oplossingen. We bieden snelle wereldwijde technische ondersteuning via online conferenties, video-ondersteunde begeleiding, en trainingen op afstand. Onze productiebasis is gevestigd in Kunshan, provincie Jiangsu (dicht bij Shanghai). Beide Fabrieksinspecties ter plaatse en virtuele rondleidingen door de fabriek zijn beschikbaar voor klanten. Neem gerust contact met ons op voor voorbeeldtestbeelden gemaakt door deze GP-L200-462H 4K autofocus metallurgische microscoop om de beeldvorming te evalueren prestatie uit de eerste hand.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
