GP-L500-300C is een metallografische microscoop van onderzoekskwaliteit met een extra groot bewegend podium voor monsters van groot formaat. Metallurgische microscoop met grote vergroting en hoge vergroting levert 1080P HD-beeldvorming om duidelijke microstructuurdetails weer te geven. De trinoculaire poort ondersteunt camera-installatie voor metallografische analyseworkflows. Het is ideaal voor metallurgieobservatie van grote materialen, halfgeleiders inspectie, PCB-slice-analyse en kwaliteitscontrolescenario's in industriële laboratoria.
Deze grootschalige metallurgische microscoop met hoge vergroting is geschikt voor microscopische observatie van metallografische microstructuren en oppervlaktemorfologie. Het dient als een ideaal onderzoeksinstrument voor de disciplines metallurgie, mineralogie en precisie-engineering.
HD-camera ingebouwd in trinoculaire behuizing voor gelijktijdige weergave via oculair en monitor. HDMI real-time microbeeld output combineert observatie- en opnameworkflows.
Optische vergroting 50-800X; maximale puur digitale vergroting tot 6080x met een set lenzen met vijf objectieven. Precisie Optisch pad levert scherpe details voor micro-inspectie van wafers en chips.
Stabiele scherpstelknoppen in combinatie met de lenscilinderconstructie zorgen voor een zachte scherpstelling en verminderen beeldtrillingen.
Extra groot bewegend specimenplatform gecombineerd met een dikke metalen basis. Blijft stabiel voor monsters van groot formaat zonder wiebelen tijdens langdurige observatie.
Minimalistisch, volledig wit stijf frame in industriële stijl. Zeer geschikt voor halfgeleiderworkshops en universiteiten laboratoria.
Geoptimaliseerd voor chip-en-wafer-inspectie; ook op grote schaal toegepast voor halfgeleidertests, metallografische analyse, materiaalonderzoek en kwaliteitsevaluatiewerk.
1080P foto- en video-opname, ingebouwde nauwkeurige metingen op de monitor, U-schijfopslag. Digitale beeldverwerking vereenvoudigt het dossier archivering, beeldvergelijking en post-analysewerk.
Binoculair kijken plus synchrone elektronische observatie:Oculairweergave en monitorweergave werken synchroon. Gewone metallurgische microscopen ondersteunen alleen oculairobservatie; extra camera-accessoires zijn vereist voor schermuitvoer.
Groot podium en ultrahoge vergroting:Maximale optische vergroting bereikt 800x; maximaal puur digitale elektronische vergroting bereikt 6080X. Het extra grote bewegende podium is geschikt voor monsters van grote afmetingen. Conventionele metallurgische microscopen zijn uitgerust met kleine werktafels en bieden lagere elektronica vergroting.
Directe HDMI-uitgang:Sluit rechtstreeks aan op de monitor via HDMI-kabel. Algemene metallurgische microscopen vereisen afzonderlijke camera's en opnamekaarten voor beelduitvoer.
Offline meting op de monitor:Afmetingsmetingen kunnen rechtstreeks op de monitor worden uitgevoerd, zonder PC-verbinding. Gewone metallurgische microscopen zijn uitsluitend afhankelijk van metingen via pc-software.
Offline U-schijfopslag:Bewaar foto's en video's op U-schijf zonder computer. Traditionele modellen moet verbinding maken met de pc om afbeeldingen op te slaan.
Speciaal metallurgisch optisch pad:Geoptimaliseerd voor metaalkorrels, coating en metallografisch-materiaalanalyse. Gewone digitale microscopen missen dit gespecialiseerde optische pad en kunnen dat ook niet visualiseer metallografische structuren.
Mechanica:Volledig metalen frame voor zwaar gebruik voor hoge stijfheid en trillingsdempende prestaties. Precisie coaxiale grof-fijn focussering met vergrendeling en begrenzing, schaalverdeling fijne beweging: 0,7 μm. Groot formaat handmatige XY-trap met soepele, slijtvaste beweging. Het trinoculaire optische pad handhaaft de optische uitlijning bij het schakelen doelstellingen.
Optiek:Oneindigheid gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische doelstellingen. Gereflecteerde halogeenlamp verlichting met instelbare helderheid.
Beeldvorming en meting:2-megapixel 1080P HD CMOS-sensor, alleen HDMI-uitgang. Ingebouwde firmware de meting wordt op de monitor uitgevoerd. Vooraf gekalibreerd in de fabriek; parameters blijven bestaan na het uitschakelen; geen dagelijkse kalibratie vereist. Gegevensopslag alleen via compatibele U-schijf. PC-aansluiting, USB-poort en secundaire ontwikkelingsfuncties zijn NIET mogelijk ondersteund voor GP-L500-300C.
Kwaliteit & Onderhoud:Volledige optische fabriekskalibratie en prestatie-inspectie. Inspectie rapporten en voorbeeldmicrofoto's kunnen op verzoek worden verstrekt. Demonteer optische modules niet. Regelmatig stofdicht reinigen verlengt de levensduur.
Halfgeleiderwafeltjes en -chips (kerntoepassing):
Siliciumwafels, lithografische plakjes, IC-chips, MOS-buizen, PCB's, flexibele FPC-circuits, verpakte soldeerverbindingen.
Inspectiedoelen: interne microchipcircuits, wafercoatings, etsdefecten, verpakkingsbellen, koudsolderen
gewrichten, oxidatie en pinvervorming.
Metallografische exemplaren en hardware-snijgereedschappen:
Metallografische profielen, gelegeerd staal, boren, frezen, nauwkeurig gestanste metalen onderdelen.
Inspectiedoelen: metaalkorrelstructuur, metallografische analyse van warmtebehandeling, microscheurtjes in het oppervlak,
geavanceerde chipping, bramen, slijtagesporen en interne materiaalonzuiverheden.
Laboratoriummonsters: poeder, vezels en dunne film:
Metaalpoeder, chemisch poeder, koolstofvezel, textielvezel, films met optische coating.
Observeer de deeltjesmorfologie, vezeltextuur, filmdelaminering en microcoatingstructuren.
Opto-elektronische en precisie-kunststofcomponenten:
LED-chips, optische lenzen, spuitgietonderdelen, lijm voor halfgeleiderverpakkingen.
Detecteer microporiën, oppervlaktevlekken, ruwe randen, delaminatie, luchtbellen en kleine cosmetische gebreken.
Grote precisie-miniatuurcomponenten:
Connectoren, aansluitingen, microveren, grote gestanste werkstukken, onderdelen met lange afmetingen.
Extra groot bewegend podium biedt plaats aan extra grote monsters; nauwkeurige meting op pixelniveau voor openingen, gatdiameters,
hoogteverschillen en lineaire afmetingen.
Academische laboratoria en halfgeleiderfabriek QC:
Materiaalonderzoeksexperimenten, volledige inspectie van inkomende goederen en eindproducten voor halfgeleiders,
metallografische monsterobservatie; archivering van foto's/video's.
Uitgebreid groot platform maakt volledige observatie van wafers, grote PCB's en grote metaalplakken mogelijk zonder specimen snijden. Perfect voor de inspectie van halfgeleiderwafels, printplaten en grote hardwarecomponenten.
Stapsgewijs instelbare vergroting: optisch 50x-800x; maximale digitale vergroting tot 6080X (puur digitale zoom). Opnames het algehele uiterlijk van het werkstuk en ultrafijne details zoals chipcircuits, metaalkorrels, microkrassen en coating poriën. Ideaal voor halfgeleider-R&D-testen.
Trinoculair synchroon lichtpad maakt gelijktijdige observatie mogelijk via binoculaire oculairs en HDMI-monitor. Geschikt voor R&D-teamdiscussie, dubbele QC-hercontrole en universitair laboratoriumonderwijs om verkeerde inschattingen te verminderen.
Enkele HDMI-uitgang met ingebouwde meetfunctie op de monitor. Sla 1080P-foto's en -video's rechtstreeks op conform U-schijf. Plug-and-play met eenvoudige bedrading. Past op basisinspectiestations in halfgeleiderwerkplaatsen en klein materiaal laboratoria.
Dikke geïntegreerde anti-vibratie body samen met coaxiale handmatige grof-fijn scherpstelling. Soepel scherpstellen zonder beeldverschuiving tijdens continue inspectie gedurende lange uren. Geschikt voor dagelijkse massa-inkomende test voor wafers en circuits planken en langdurige laboratoriumanalyse met statische monsters.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Item | Beschrijving |
| Product | GP-L500-300C Metallografische microscoop van onderzoekskwaliteit |
| Categorie | Industriële onderzoekskwaliteit trinoculaire metallurgische inspectiemicroscoop met groot platform |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchroon kijken, bewegend monsterplatform met groot oppervlak, hoog vermogen metallurgisch objectieflensset, HD CMOS-beeldsensor, ingebouwde digitale precisiemeetmodule, HDMI real-time filmpje output, U-disk lokale beeldopslagtechnologie |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500/800×; Elektronische vergroting: 380/760/1520/3800/6080× (6080X is puur digitale zoom); Uitgangsinterface: alleen HDMI; Vastlegresolutie: 1920*1080; Handmatig scherpstellen; Ingebouwd nauwkeurig meetfunctie, U-schijfopslag; Monitorterminal ondersteunt HD-beeldvoorbeeld, foto-opname en filmpje opname. |
| Typische toepassingen | Inspectie van de microstructuur van wafers en halfgeleiderchips, observatie van grote elektronische componenten, metaal metallografische korrelanalyse, detectie van verpakkingscircuits, inspectie van PCB-dwarsdoorsneden, nieuw-energie-materiaal testen, laboratoriumonderzoek naar geavanceerd materiaal |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (grenzend aan Shanghai) |
| Model | GP-L500-300C |
| Oplossing | 1920×1080 |
| Echte effectieve pixels | 2 Megapixels |
| Focusmethode | Handmatig scherpstellen |
| Optisch formaat | 1/2" |
| Pixelgrootte | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Uitvoermethode | HDMI |
| Gedetailleerde functionele introducties die overeenkomen met elke uitvoerinterface | HDMI kan worden aangesloten op 4K-compatibele beeldschermen. Ingebouwde professionele firmware voor beeldverwerking foto-opname, video-opname, dimensionale meting, beeldweergave en beeldvergelijking, bediend door muis in realtime. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 1920*1080 |
| Scherptediepte-synthese | / |
| Beeldsteken | / |
| Meetmethode | Ingebouwd meetsysteem op de monitor |
| Meetnauwkeurigheid | 0,001 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4 schakelbare eenheden) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, radiaal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie toevoegen, automatische randdetectie, schaalbalk en meer |
| Opslagmethode | U-schijfopslag |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max. 1,3 GHz |
| Besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkelde meetfirmware gebaseerd op de Linux 3.1-kernel |
| Naamgeving van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving beschikbaar |
| Hoofd bekijken | 30° hellende trinoculaire kop van het scharniertype; Interpupilair aanpassingsbereik: 53 mm-75 mm |
| Observatiemodi | Helderveld / schuine verlichting / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Verlichtingssysteem met alleen gereflecteerd vallend licht, 100-240V breedspanningsingang, verstelbare gloeidraad centrum, traploos instelbare lichtintensiteit. |
| Stellage | ① Schietrek, coaxiaal grof-fijn focusmechanisme met lage handpositie, met vergrendeling en
beperkend
apparaten; Aflezingswaarde fijne beweging: 0,7 μm. Verlichting met gereflecteerd licht van een halogeenlamp. ② Helderveld reflector met variabele diafragma-stop, veldstop en kleurfilter-schakeleenheid. ③ Geel, blauw, groen filters en matglasplaat meegeleverd voor het optische pad van gereflecteerd licht. |
| Mechanische fase | ★Mechanisch bewegend podium. Podiumafmeting: 280 mm × 270 mm; XY-veerweg: 204 mm x 204 mm (8-inch veerweg). Glas preparaatdraagplaat uitsluitend voor observatie met gereflecteerd licht, geschikt voor werkstukken van grote afmetingen. |
| Lichtbron | 6V 30W halogeenlampkamer (alleen gereflecteerd licht) |
| Eenvoudige polarisatiefunctie | Push-pull-type polarisator en analysator geïnstalleerd |
| Elektronische interface | CTV 1X camera-interface met vaste focus; CTV 0,5X is optioneel met compensatie van prijsverschillen. |
| Oculairs | Twee WF10X/22 mm groothoek oculairs met individuele dioptrie-aanpassing |
| Neusstuk | ★Mingchang objectiefneusstuk met vijf gaten |
| Metallurgische doelstellingen | ★ Oneindig gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische doelstellingen ① PL L5X/0,12, werkafstand: 26,1 mm ×1 st ② PL L10X/0,25, werkafstand: 20,2 mm × 1 st. ③ PL L20X/0,40, werkafstand: 8,80 mm ×1 st ④ PL L50X/0,70, werkafstand: 3,68 mm × 1 st. ⑤ PL L80X/0,80, werkafstand: 1,25 mm ×1 st |
| Optische vergroting | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (schakelbaar op vijf niveaus) |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (schakelbaar op vijf niveaus); optioneel bereik: 190-3040X. |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Tianjin University of Commerce – Materiaallaboratoriumonderwijs, micro-imaging en archivering van experimentele gegevens
DOOV – Inspectie van assemblage van mobiele apparaten, testen van scherm en uiterlijk van componenten
GREE Electric Appliances (Hefei) - Precisiemeting van afmetingen en inspectie van defecten voor onderdelen van huishoudelijke apparaten
Lens Technology Co., Ltd. – Microfoutdetectie voor glazen afdekplaten en telefoonbeschermpanelen
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detectie van afmetingen en microfouten voor precisiebewerking onderdelen
Dabo Medical – Micromorfologische analyse voor medische hulpmiddelen en biomaterialen van het implantaattype
A1: Alleen de HDMI-interface is geschikt voor real-time monitorweergave.
A2: Het ondersteunt 1080P high-definition foto- en video-opnames. Bestanden kunnen worden opgeslagen op een FAT32-geformatteerde U-schijf 32 GB-capaciteit. Ingebouwde meettool op het scherm ondersteunt maatmarkering, gegevensopslag en meetrapportage exporteren.
A3: Probleemoplossing zonder beeld: Controleer de voeding, HDMI-kabel en monitorsignaalbron en start het apparaat opnieuw op. Problemen met wazige beelden oplossen: Pas het handwiel voor handmatige scherpstelling aan, vergrendel de objectieflens, leg het monster plat en maak de lens schoon oppervlak. U-schijfherkenningsfout: vervang of formatteer de U-schijf opnieuw (moet FAT32 en ≤32 GB zijn).
A4: Geschikt voor metallografische observatie, analyse van metaalmateriaal, testen van poedermetallurgie, precisie-elektronische componentinspectie, wetenschappelijk onderzoek en onderwijsexperimenten.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. werd officieel opgericht in 2011. Ons oprichtersteam heeft zich verzameld ervaring op het gebied van optische technologie vanaf 2005. Wij zijn een fabrikant van industriële inspectieapparatuur die full-range diensten: onafhankelijk optisch ontwerp, product-R&D, internationale verkoop en lange termijn after-sales-ondersteuning voor industriële microscopen. Onze interne engineeringspecialisten beschikken over ruim tien jaar professionele ervaring ontwikkeling van optische instrumenten, waardoor stabiele technische prestaties en consistente productbetrouwbaarheid worden gegarandeerd.
GAOPIN levert meer dan honderd categorieën optische instrumenten voor klanten over de hele wereld. Wij leveren flexibel, kosteneffectieve, op maat gemaakte microscopieoplossingen voor diverse industriële tests en laboratoriumonderzoek vereisten. Wereldwijde overzeese kopers kunnen snelle technische ondersteuning krijgen, inclusief online video-consultatie, stapsgewijze begeleiding bij de bediening en training van apparatuur op afstand. Onze fabriek bevindt zich in Kunshan, provincie Jiangsu (dicht bij Sjanghai). Fabrieksbezoeken ter plaatse en virtuele online rondleidingen zijn welkom. Neem contact met ons op voor echte monstertests afbeeldingen vastgelegd door deze metallografische microscoop van onderzoekskwaliteit voor evaluatie van de beeldkwaliteit.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
