Metallografische microscoop van onderzoekskwaliteit met 4K Ultra HD en Autofocus Large-Stage 4K metallurgische microscoop. 4K Autofocus Metallurgische microscoop van onderzoekskwaliteit gebruikt Vergrotingsaanpassing in 5 stappen, met een vergroting van 380× tot 6080×. Het extra grote bewegende podium kan dat vasthouden monsters van groot formaat. Ultraheldere 4K-beelden leveren scherpe en delicate microstructuurdetails. De trinoculaire poort kan zijn verbonden met camera's en metallografische analysesoftware, zeer geschikt voor observatie van grote metalen, halfgeleiders inspectie, PCB-plakanalyse, wetenschappelijk onderzoek en kwaliteitscontrole.
Dit instrument is geschikt voor microscopische observatie van metallografische microstructuren en oppervlaktemorfologie. Het dient als een ideaal onderzoeksinstrument voor de disciplines metallurgie, mineralogie en precisie-engineering.
4K-camera ingebouwd in trinoculaire behuizing voor gelijktijdige weergave via oculairs en externe monitor. Multi-poort uitgang via HDMI, USB3.0 en WIFI verzenden ultra-HD microbeelden in realtime.
Optische vergroting 50-800×; De maximale puur digitale vergroting bereikt 6080x met een set met vijf objectieven. Precisie Optisch pad levert scherpe details voor micro-inspectie van chips en wafers.
Ingebouwde hardware-autofocusmodule maakt een soepele, trillingsvrije scherpstelling mogelijk en verhoogt de efficiëntie bij massamonsters testen; handmatige scherpstelmodus is ook beschikbaar.
Extra groot bewegend preparaatplatform gecombineerd met dikke geïntegreerde metalen basis. Blijft stabiel voor monsters van groot formaat zonder wiebelen tijdens langdurige observatie.
Minimalistisch geïntegreerd stijf metalen frame in laboratoriumstijl, perfect geschikt voor halfgeleiderwerkplaatsen, universiteiten laboratoria en QC-faciliteiten.
Ideaal voor chip-en-wafer-inspectie; ook op grote schaal toegepast voor halfgeleidertests, metallografische analyse, materiaalonderzoek en kwaliteitsevaluatiewerk.
Ondersteunt 4K foto- en video-opname, dubbele meetmodi (ingebouwd op het scherm + pc-software). Dubbele opslag via U-schijf & computer. Scherptediepte-synthese werkt zowel op de monitor als op pc-software; De functie voor het samenvoegen van afbeeldingen is alleen beschikbaar binnen PC-software. Secundaire ontwikkeling wordt ondersteund voor beeldarchivering, vergelijking en geavanceerde analyse.
Monsterstadium:GP-L500-462H maakt gebruik van een groot bewegend podium voor grootformaat chips/wafels met breed reisbereik. Gewone metallurgische microscopen zijn alleen uitgerust met een klein podium voor kleine monsters en vereisen frequente herpositionering van het monster.
Vergrotingsbereik:380-6080X hoge vergroting met vijf snelheden, voor scherpe details voor klein inspectie van chipcircuits. Gewone metallurgische microscopen hebben minder vergrotingsmechanismen en een lager maximum vergroting, wat resulteert in wazige beelden bij hoog vermogen.
Beeldvorming en meting:Native 4K-camera van onderzoekskwaliteit, ingebouwde meting op de monitor, foto-video-opslagfunctie. Gewone metallurgische microscopen gebruiken een low-definition 2K-camera zonder ingebouwde camera metingen, voor analysewerkzaamheden is pc-software verplicht.
Toepassingsgebied:Geoptimaliseerd voor wafers, halfgeleiders en elektronische onderdelen met grote precisie inspectie. Gewone metallurgische microscopen zijn alleen geschikt voor kleine metaalschijfjes en presteren slecht voor grote chip-exemplaren.
Mechanica:Volledig metalen constructie voor hoge stijfheid en trillingsbestendigheid. Hardware-autofocus module uitgerust. Nauwkeurige grof-fijn scherpstelling zonder speling. Grote handmatige XY-trap met lage slijtage en minimale speling. Het trinoculaire optische pad handhaaft de optische uitlijning bij het schakelen tussen objectieven.
Optiek:Oneindigheid gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische objectieven met harde anticondenscoating. Gereflecteerd licht 6V-30W halogeenlampverlichting.
Beeldvorming en meting:8,3 megapixel 4K CMOS-camera van industriële kwaliteit. Interfaces met meerdere uitgangen: HDMI + USB3.0 + WIFI, met uitstekende anti-interferentieprestaties voor toepassingen in industriële omgevingen. Ondersteunt zowel ingebedde metingen op het scherm als op pc-software gebaseerde metingen. Dual-path opslag: USB-flashstation en pc-software. De scherptediepte-stapelfunctie is beschikbaar op het scherm en via pc-software; het beeldsteken functie wordt alleen ondersteund door pc-software. Secundaire ontwikkelingsinterface is toegankelijk via USB3.0 / WIFI.
Bedrijfsomgeving:Werktemperatuur 10-35℃, relatieve vochtigheid 30-75% RH. Stabiel onder regulier elektromagnetische fabrieksomgeving. Vermijd zware trillingen, corrosief gas en zwaar stof. Houd de WIFI-module uit de buurt sterke signaalinterferentiebronnen.
Kwaliteit & Onderhoud:Volledige fabrieksinspectie. Demonteer geen optische modules of autofocusmodule. Regelmatig stofvrij reinigen verlengt de levensduur.
Halfgeleiderwafeltjes en -chips (kerntoepassing):
Siliciumwafels, lithografische plakjes, IC-chips, MOS-buizen, PCB's, flexibele FPC-circuits, verpakte soldeerverbindingen.
Inspectiedoelen: interne microchipcircuits, wafercoatings, etsdefecten, verpakkingsbellen, koudsolderen
gewrichten, oxidatie en pinvervorming.
Metallografische monsters en onderdelen voor metaalsnijden:
Metallografische secties, gelegeerd staal, nauwkeurig gestempelde metalen onderdelen.
Inspectiedoelen: metaalkorrelstructuur, metallografische analyse van warmtebehandeling, microscheurtjes in het oppervlak,
geavanceerde chipping, bramen, slijtagesporen en interne materiaalonzuiverheden.
Laboratoriummonsters: poeder, vezels en dunne film:
Metaalpoeder, chemisch poeder, koolstofvezel, textielvezel, films met optische coating.
Observeer de deeltjesmorfologie, vezeltextuur, filmdelaminering en microcoatingstructuren.
Opto-elektronische en precisie-kunststofcomponenten:
LED-chips, optische lenzen, spuitgietonderdelen, lijm voor halfgeleiderverpakkingen.
Detecteer microporiën, oppervlaktevlekken, ruwe randen, delaminatie, luchtbellen en kleine cosmetische gebreken.
Grote precisie-miniatuurcomponenten:
Connectoren, aansluitklemmen, microveren, grote gestanste werkstukken, onderdelen met lange afmetingen.
Extra groot bewegend podium biedt plaats aan extra grote monsters; Nauwkeurige meting op 4K-pixelniveau voor gaten en gaten
diameters, hoogteverschillen en lineaire afmetingen.
QC van academische laboratoria en halfgeleiderfabrieken:
Materiaalonderzoeksexperimenten, volledige inspectie van inkomende goederen en eindproducten voor halfgeleiders,
metallografische monsterobservatie; foto-/video-archivering, verbinding maken met pc om professionele meet-QC te exporteren
rapporten.
Dit toestel beschikt over native 3840*2160 4K-beeldvorming. Het is geschikt voor nauwkeurige inspectie van halfgeleiders, PCB's en materiaalplakken en export van testrapporten, waarbij kleine texturen en microdefecten duidelijk zichtbaar worden.
Hardware-autofocus uitgerust. Geschikt voor massaproductie-inspectie en frequente monstervervanging. Bereikt snel scherpstellen na monsterbeweging zonder herhaalde handmatige aanpassing.
Het grote bewegende podium en het verticale trinoculaire metallurgische optische pad zijn ontworpen voor grote wafers, op volledige grootte PCB's en metaalmonsters, waardoor reflecterende schittering effectief wordt onderdrukt.
Dubbel vergrotingsbereik: 50-800x optische vergroting, 380-6080x digitale vergroting. Dekt beide totaal-exemplaar observatie en inspectie van microkorrels/microdefecten.
Ondersteunt ingebouwde metingen op het apparaat en pc-softwaremetingen. Uitgerust met HDMI, USB3.0 en WIFI-uitgang havens. Foto's, video's en meetgegevens kunnen worden opgeslagen via U-schijf of computer. Secundaire ontwikkeling ondersteund voor integratie van productielijnen en traceerbaarheid van laboratoriumgegevens.
Verzending in neutrale verpakking is op verzoek mogelijk.
| Item | Beschrijving |
| Product | GP-L500-462H Metallografische microscoop van onderzoekskwaliteit met 4K Ultra HD en autofocus |
| Categorie | Industrieel onderzoekskwaliteit groot platform 4K autofocus metallurgische inspectie en meting Microscoop |
| Kerntechnologieën | Trinoculair optisch systeem voor synchroon kijken, bewegend monsterplatform met groot oppervlak, hoog vermogen metallurgisch objectieflensset, 4K ultra-HD CMOS-beeldsensor, hardware autofocusmodule, driekanaals transmissie (HDMI+USB3.0+WIFI), dubbel meetsysteem, scherptedieptesynthese en algoritme voor beeldstitching, open architectuur die secundaire ontwikkeling ondersteunt |
| Belangrijkste specificaties | Visuele vergroting: 50/100/200/500/800×; Elektronische vergroting: 380/760/1520/3800/6080× (6080X is puur digitale zoom); Drievoudige uitgangspoorten: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-opnameresolutie: 3840×2160; Hardware autofocus uitgerust; Dubbele meetmodi: ingebouwde nauwkeurige meting + speciale pc-software meting; Dubbele opslagmodi: lokale U-schijfopslag + pc-softwareopslag; Monitorterminal ondersteunt dimensionaal meting, HD-beeldvoorbeeld, foto-video-opname, scherptediepte-synthese; PC-terminal ondersteunt dimensionale metingen, bestandsopslag, scherptedieptesynthese en beeldstitching; Steunen voor de hele eenheid secundaire ontwikkelingsintegratie. |
| Typische toepassingen | Inspectie van microstructuren van halfgeleiderwafels en chips, observatie van grote elektronische componenten, metaal metallografische korrelstructuuranalyse, detectie van verpakkingscircuits, inspectie van PCB-dwarsdoorsneden, precisie-analyse van defecten aan elektronische componenten, testen van de kwaliteit van nieuwe energiematerialen, universitair geavanceerd materiaallaboratoriumonderzoek |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin precisie-instrument Co., Ltd. |
| Locatie van de fabrikant | Kunshan, Jiangsu, China (grenzend aan Shanghai) |
| Model | GP-L500-462H |
| Oplossing | 3840×2160 |
| Echte effectieve pixels | 8,3 Megapixels |
| Focusmethode | autofocus |
| Optisch formaat | 1/1,8" |
| Pixelgrootte | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Uitvoermethode | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Gedetailleerde functionele introducties die overeenkomen met elke uitvoerinterface | ① HDMI maakt verbinding met 4K-compatibele beeldschermen. Ingebouwde professionele firmware voor beeldverwerking
hardwaregestuurde autofocus, foto-opname, video-opname, dimensionale meting, beeldweergave
en
beeldvergelijking, in realtime met de muis bediend. ② USB 3.0 wordt aangesloten op de computer, meegeleverd hoogwaardige professionele beeldverwerkingssoftware voor het vastleggen van foto's, maatmetingen, scherptedieptefusie en beeldstitching. ③ WIFI-module kan worden aangesloten op laptops of mobiele apparaten; realtime beeldoverdracht, fotografie en opslag via bijpassende software. |
| Framesnelheid | HDMI: 60 fps bij 3840×2160 USB3.0: 30 fps bij 3840×2160; 60 fps @1920×1080 WIFI: 30 fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Scherptediepte-synthese | Ondersteund door zowel HDMI on-monitor firmware als pc-software |
| Beeldsteken | Alleen ondersteund door pc-software |
| Meetmethode | Ingebouwd meetsysteem op de monitor + meting via pc-software |
| Meetnauwkeurigheid | 0,002-0,005 mm |
| Meeteenheden | mm / μm / mil / inch (4 schakelbare eenheden) |
| Meetinstrumenten | Lengte, hoek, radiaal, cirkel, veelhoek, polylijn, hart-op-hart afstand, rechthoek, annotatie toevoegen, automatische randdetectie, schaalbalk en meer |
| Opslagmethode | U-schijfopslag + pc-softwareopslag |
| Weergavetaal | Vereenvoudigd Chinees / Engels (omschakelbaar) |
| Verwerker | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz hoofdbesturingsprocessor |
| Besturingssysteem | Onafhankelijk ontwikkelde meetfirmware gebaseerd op de Linux 3.1-kernel |
| Naamgeving van afbeeldingen | Automatische of handmatige naamgeving beschikbaar |
| Hoofd bekijken | 30° hellende trinoculaire kop van het scharniertype; Interpupilair aanpassingsbereik: 53 mm-75 mm |
| Observatiemodi | Helderveld / schuine verlichting / eenvoudige polarisatie |
| Verlichtingssysteem | Verlichtingssysteem met alleen gereflecteerd vallend licht, 100-240V breedspanningsingang, verstelbare gloeidraad centrum, traploos instelbare lichtintensiteit. |
| Stellage | ① Schietrek, coaxiaal grof-fijn focusmechanisme met lage handpositie, met vergrendeling en
beperkend
apparaten; Aflezingswaarde fijne beweging: 0,7 μm. Verlichting met gereflecteerd licht van een halogeenlamp. ② Helderveld reflector met variabele diafragma-stop, veldstop en kleurfilter-schakeleenheid. ③ Geel, blauw, groen filters en matglasplaat meegeleverd voor het optische pad van gereflecteerd licht. |
| Mechanische fase | ★Mechanisch bewegend podium. Podiumafmeting: 280 mm × 270 mm; XY-veerweg: 204 mm x 204 mm (8-inch veerweg). Glas preparaatdraagplaat uitsluitend voor observatie met gereflecteerd licht, geschikt voor werkstukken van grote afmetingen. |
| Lichtbron | 6V 30W halogeenlampkamer (alleen gereflecteerd licht) |
| Simpele polarisatie | Pull-push-polarisator en polarisator |
| Elektronische interface | CTV 1X camera-interface met vaste focus; CTV 0,5X is optioneel met compensatie van prijsverschillen. |
| Oculairs | Twee WF10X/22 mm groothoek oculairs met individuele dioptrie-aanpassing |
| Neusstuk | ★Mingchang objectiefneusstuk met vijf gaten |
| Metallurgische doelstellingen | ★ Oneindig gecorrigeerde plan-achromatische metallurgische doelstellingen ① PL L5X/0,12, werkafstand: 26,1 mm ×1 st ② PL L10X/0,25, werkafstand: 20,2 mm × 1 st. ③ PL L20X/0,40, werkafstand: 8,80 mm ×1 st ④ PL L50X/0,70, werkafstand: 3,68 mm × 1 st. ⑤ PL L80X/0,80, werkafstand: 1,25 mm ×1 st |
| Optische vergroting | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (schakelbaar op vijf niveaus) |
| Elektronische vergroting | Ongeveer. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (schakelbaar op vijf niveaus); optioneel bereik: 190-3040X. |
GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Microanalyse van anorganische keramiek en nieuwe energiematerialen
Onderzoeksinstituut voor Fysische en Chemische Technologie van de Nucleaire Industrie – Observatie van micromorfologie en precisie-componentenanalyse voor speciale materialen
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Geavanceerd optisch onderzoek en optische componenten karakterisering
Tsinghua University – Onderwijs, laboratoriumbeeldvorming en experimentele data-archivering
Beijing Institute of Technology – Wetenschappelijk onderzoek naar militaire materialen en opto-elektronische apparaten
DOOV – Assemblage-inspectie van mobiele apparaten, testen van scherm- en componentuiterlijk
A1: Uitgerust met HDMI-, USB3.0- en WIFI-interfaces. Het ondersteunt directe monitorweergave en bekabelde/draadloze pc verbinding.
A2: Het ondersteunt 4K ultra-HD foto- en video-opname. Bestanden kunnen worden opgeslagen op een FAT32-geformatteerde U-schijf van maximaal 32 GB capaciteit of computeropslag. Ondersteunt precisiemetingen op het scherm en via pc-software, met gegevensbesparende en rapport-exportfuncties.
A3: Het ondersteunt hardware-autofocus, scherptediepte-synthese, beeldstitching aan de pc-zijde en secundaire ontwikkeling. Op grote schaal toegepast voor metallografische analyse, halfgeleiderinspectie, precisie-componentinspectie, wetenschappelijk onderzoek, onderwijs en hoogwaardige industriële precisiedetectie.
A4: Probleemoplossing zonder beeld: Controleer de voeding, HDMI-kabel en monitorsignaalbron en start het apparaat opnieuw op. Problemen met wazige beelden oplossen: Pas het handwiel voor handmatige scherpstelling aan, leg het monster plat en maak het lensoppervlak schoon. Netwerkstoring probleemoplossing: plaats pc en apparaat binnen hetzelfde IP-segment, schakel de firewall uit en sluit de netwerkkabel opnieuw aan. U-schijf-fout probleemoplossing: U-schijf vervangen of opnieuw formatteren (moet FAT32 en ≤32 GB zijn).
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. werd officieel opgericht in 2011. Onze oprichters hebben zich verzameld praktische kennis van optische instrumenten vanaf 2005. Wij leveren volledige ondersteuning, inclusief op maat gemaakt optisch ontwerp, interne R&D, internationale verkoop en uitgebreide after-sales-onderhoudsdiensten. Onze bekwaam technisch team beschikt over meer dan tien jaar expertise op het gebied van microscopieontwikkeling, waardoor stabiele technische prestaties worden gegarandeerd consistente productbetrouwbaarheid.
GAOPIN levert meer dan 100 categorieën optische testinstrumenten, ten behoeve van industriële en laboratoriumklanten over de hele wereld. Wij richten ons op het leveren van flexibele, kosteneffectieve, op maat gemaakte microscopie-inspectie-oplossingen voldoen diverse testvereisten.
Voor buitenlandse kopers bieden wij responsieve, wereldwijde technische ondersteuning, inclusief online-consulten op afstand, praktische video-tutorials en live-training voor bediening van apparatuur op afstand. Onze productiefaciliteit bevindt zich in Kunshan, Provincie Jiangsu, met gemakkelijke toegang tot vervoer naar Shanghai. Fabrieksbezoeken ter plaatse en virtuele online rondleidingen zijn mogelijk welkom. Neem contact op met ons verkoopteam voor authentieke monstertestfoto's gemaakt met dit Research-niveau metallografische microscoop met 4K Ultra HD en autofocus om real-imaging-prestaties te evalueren.
Adres
Gebouw 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, China
Tel
