Digitale microscoop met hoge vergroting en dubbele lichtbron

Gaopin GP-306S-4K 4K-meetmicroscoop met dubbele lichtbron. Deze digitale microscoop met hoge vergroting en Dubbel Lichtbron, 4K Ultra HD levert parfocale zoom van 63X tot 414X, waardoor scherpe beelden behouden blijven door vergroting aanpassing. Het is uitgerust met een 4K-beeldvormingsmodule en een nauwkeurige monoculaire zoomlens. De basis heeft een ingebouwde bovenkant en onderkant dubbele lichtbronnen: bovenlicht voor inspectie van de oppervlaktetopografie, doorvallend licht aan de onderkant om de contouren van te bekijken semi-transparante monsters. Ingebouwde meetinstrumenten maken snelle annotatie van afmetingen, momentopnamen en video-opnamen mogelijk. voldoet aan de vereisten voor observatie met hoge vergroting en precisiemetingen voor kleine componenten.

Verschil met conventionele op het lichaam gemonteerde microscopen

Verschil met gewone microscopen:Gewone krachtige microscopen ondersteunen alleen reflectie oppervlakteverlichting en hebben beperkte mogelijkheden voor dunne of semi-transparante monsters. Dit elektron met hoge vergroting Microscoop met dubbele lichtbron integreert bovenlicht en doorvallend onderlicht. Eén machine bereikt beide gereflecteerde en helderveld-doorgelaten observatie. 63–414x parfocale zoom en 4K-beeldvorming zorgen voor superieure metingen nauwkeurigheid voor zowel oppervlaktedefecten als interne contourinspectie.

Producttoepassingen

Toepassingsgebied:Ideaal voor microscopische observatie en maatmeting van chippennen, micro mallen, precisieveren, connectorcontacten en dunne pakkingen. Het detecteert microscheurtjes, defecten en vlakheid, en kan lichtdoorlatende contouren van dunne werkstukken bekijken. Op grote schaal gebruikt in laboratoria en productie-QC voor halfgeleiders accessoires en precisievormindustrieën.

Technische specificaties

Bewijs en betrouwbaarheid ter plaatse (testen uit de eerste hand)

1. Stabiele dubbele lichtbron

Schakelbaar coaxiaal bovenlicht en doorvallend onderlicht, geschikt voor transparante en ondoorzichtige werkstukken.

2. Betrouwbare 4K-beelden

Resolutie van 3840×2160, scherpe, vervormingsvrije beelden, vangt kleine bramen en soldeerdefecten op voor kwaliteitscontrolebewijs.

3. Stabiele zoom en focus

Snelle herfocussering na het zoomen, geen beelddrift voor herhaalde monstervergelijking.

4. Stabiele uitvoer en opslag

HDMI+USB-uitgang, foto/video met één klik. Software ondersteunt metingen en traceerbare markering.

5. Trillingsbestendige structuur

Robuuste basis en metalen standaard, anti-onscherpte bij kleine trillingen in de werkplaats voor langdurige productie-inspectie.

Overzicht productentiteit

63-414 Voor welke producten is dit detectiebereik geschikt?

1. Inspectie van fijne PCB-sporen en micro-soldeerverbindingen:Let op fijne PCB-circuits, BGA-soldeer ballen, identificeer koud soldeer, soldeerkralen, circuitgaten en soldeermaskerkrassen. 63–414X onthult microschaal defecten aan soldeerverbindingen.

2. Kwaliteitscontrole voor chips en halfgeleiderpinnen:IC-chips, MOS-buizen en connectorpinnen. Detecteer pincorrosie, vervorming, overmatig soldeer en verpakkingsscheuren, observeer pinsteek en micro-oppervlaktefouten.

3. Microscreening van precisie-miniatuurhardware:Kleine gedraaide onderdelen, precisieterminals en micro veren. Inspecteer microscheurtjes, gaatjes in de coating, bramen aan de randen en defecten in de dwarsdoorsnede na het krimpen.

4. Inspectie van precisie-kunststof- en siliconenonderdelen:Micro-spuitgietonderdelen, afdichtringen en precisie-kunststofbehuizingen. Controleer oppervlaktegaatjes, laslijnen, materiaaltekorten en fijne krassen om te evalueren vormkwaliteit.

5. Observatie van de micromorfologie van het materiaaloppervlak:Metaalbeplating, coatings, poeder en vezels monsters. Observeer de oppervlaktekorrels en textuur voor materiaalvergelijking en voorlopige analyse van defecten.

6. Micro-afmetingen van precisiewerkstukken:Met meetsoftware meet u de lijn breedte, openingen, opening, afschuining en andere kleine geometrische afmetingen, die voldoen aan de precisie-inspectie-eisen voor laboratoria en productielijnen.

Unieke ontwerpvoordelen

1. Parfocaal optisch systeem met continue zoom met 63x–414x hoge vergroting

Het maakt gebruik van een coaxiale zoomlens met hoge vergroting en een vergroting van 63x tot 414x. Het professionele parfocale ontwerp houdt de focus stabiel tijdens het zoomen zonder opnieuw scherp te stellen. Levert uitstekende optische resolutie voor observatie van micro componenten, kleine scheurtjes en microbramen.

2. Dubbel onafhankelijk verstelbaar verlichtingssysteem

Uitgerust met bovenring gereflecteerd licht en onder doorvallend licht met aparte helderheidsregeling. Het weerspiegelde licht inspecteert oppervlaktedefecten van PCB's, metalen onderdelen en gouden vingers; doorgelaten licht wordt gebruikt voor contour controle van transparante platen en dunne films. Het vermindert reflectie en schaduw, compatibel met beide transparanten en niet-transparante monsters.

3. Native 4K Ultra-HD-beeldvorming en ingebed meetsysteem

Ingebouwde 4K industriële CMOS-sensor voert realtime 4K-video uit via HDMI. Geïntegreerde meetfunctie ondersteunt lengte, hoek, straal, oppervlaktemeting direct op de monitor. Er is geen pc nodig voor inspectie van defecten ter plaatse dimensieverificatie, met momentopname en video-opname beschikbaar.

4. HDMI + USB dubbele synchrone uitgang

HDMI wordt rechtstreeks op de monitor aangesloten voor realtime previews op locatie op productielijnen. USB-verbinding maakt pc mogelijk functies waaronder dieptestapeling, beeldstitching, batch-archivering van afbeeldingen en export van meetrapporten. Het voldoet aan zowel snelle workshop-QC als geavanceerde laboratoriumanalyses.

5. Stijve kolomstandaard en transparant monsterplatform

De verticale metalen hefkolom beschikt over een soepele hoogteverstelling en een grote trillingsbestendigheid om het beeld te behouden stabiel, zelfs in fabrieksomgevingen. De basis wordt geleverd met een lichtdoorlatende fase voor doorvallend licht observatie, uitgerust met monsterhouders om kleine monsters te fixeren voor langdurige continue inspectie.

Dagelijks onderhoud van de elektronenmicroscoop

Zorg voor optische lenzen:Gebruik alleen professioneel optisch lensdoekje of een stofvrije microvezeldoek om af te vegen lensoppervlakken. Gebruik nooit keukenpapier of een ruwe doek om krassen op de lenscoating te voorkomen. Voor vingerafdrukken en olie Bij vlekken kunt u een kleine hoeveelheid optisch schoonmaakmiddel op de doek aanbrengen. Druppel geen vloeistof rechtstreeks op de lens. Vermijd door het optische oppervlak van de lens met de hand aan te raken.

Onderhoud van camera, lenscilinder en standaard:Reinig de 4K-camera, zoomcilinder en metalen kolom met droge stofvrije zachte doek. Stel het hele apparaat niet bloot aan water. Houd alcohol, aceton en andere sterk bijtende stoffen oplosmiddelen weg om verf en gedrukte markeringen te beschermen. Houd alle connectoren droog om metaaloxidatie en -schade te voorkomen contact opnemen.

Podium- en focusmechanisme:Verwijder stof van het zwarte podium met een droge, zachte doek. Schoon stof aan stel de knoppen en kolomgeleiderails regelmatig scherp. Er kan een kleine hoeveelheid droog vet worden aangebracht. Vloeibare smeermiddelen wel verboden, om te voorkomen dat olie druipt en lenzen en monsters vervuilt. Bedien de focusknop voorzichtig, draai niet met geweld om schade aan de tandwielen te voorkomen.

Voeding en gebruiksomgeving:Gebruik de originele voedingsadapter. Plaats het apparaat op een droge, omgeving met weinig stof, uit de buurt van hoge temperaturen, vochtigheid en zware trillingen. Schakel de adapter uit en koppel deze los wanneer het langere tijd niet wordt gebruikt.

Hoe u een model kiest

1. Werkstukken voor inspectie met gemiddelde en hoge vergroting:Monsters vereisen 63×–414× vergroting om microscheurtjes, bramen en oppervlaktedefecten waar te nemen.

2. Transparante en ondoorzichtige monsters:Keurt dubbele lichtbron goed. Geschikt voor ondoorzichtige onderdelen zoals metaal en kunststof, maar ook transparante en semi-transparante werkstukken zoals films, glas en dunne plakjes.

3. Precisie-dimensionale meting vereist:Producten waarvoor meting op micronniveau nodig is lengte, hoek en boog, met gegevensverzameling en het genereren van kwaliteitsinspectierapporten.

4. Kleine precisiecomponenten:Printplaten, elektronische componenten, precisiemallen, kleine hardware en andere precisiewerkstukken.

5. Beeldarchivering en traceerbaarheid nodig:Producten waarvoor foto- en video-opname vereist is om op te slaan afbeeldingen van defecten voor procestraceerbaarheid, kwaliteitsarchief en bewijs van klachten van klanten.

6. Maatwerk:Ondersteunt neutrale verzending

Gezaghebbende partners en klanten

GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:

Tsinghua University – Microscopisch wetenschappelijk onderzoek en geavanceerde materiaalkarakterisering

GREE Electric (Hefei) – Inspectie van microdefecten en kwaliteitscontrole van componenten

Dabo Medical – Micro-oppervlaktekwaliteitsinspectie van medische implantaten

ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Testen van opto-elektronische componenten en foutanalyse

Over GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., opgericht in 2011, waarvan de oprichter industriële expertise heeft opgebouwd is sinds 2005 een op technologie gerichte onderneming gespecialiseerd in het ontwerp, R&D, verkoop en after-sales service van industriële microscopen. Met een kerntechnisch team met meer dan tien jaar professionele knowhow, beschikt de bedrijf garandeert bewezen technologieën en consistente productbetrouwbaarheid. GAOPIN biedt er meer dan honderd optische productmodellen en bedient klanten over de hele wereld, waarbij hij zich toelegt op het leveren van op maat gemaakte, kosteneffectieve microscopieoplossingen. We bieden snelle wereldwijde technische ondersteuning voor online conferenties, video-ondersteunde bedieningsbegeleiding en trainingssessies op afstand. Onze productiebasis is gevestigd in Kunshan, Provincie Jiangsu, in de nabijheid van Shanghai. Zowel fabrieksinspecties ter plaatse als virtuele rondleidingen door de fabriek zijn mogelijk beschikbaar voor klanten. Neem gerust contact met ons op voor voorbeeldtestbeelden gemaakt met deze High-Magnification Digitale microscoop met dubbele lichtbron, 4K Ultra HD, zodat u de beeldprestaties direct kunt beoordelen.

Veelgestelde vragen

Vraag 1: Wat is het vergrotingsbereik van de GP-306S-4K dual-light microscoop en wat is de zoomfunctie ervan?

A1: Het biedt een vergroting van 63X tot 414X met parfocale zoom. De focus blijft consistent bij het schakelen vergrotingsniveaus, het elimineren van herhaaldelijk herfocusseren en het aanzienlijk verbeteren van de efficiëntie voor batchmonsters inspectie.

Vraag 2: Welke inspectiescenario's zijn geschikt voor de twee verlichtingsmodi van dit dual-light-model?

A1: Het toplicht wordt gebruikt om oppervlaktedefecten op werkstukken te controleren. Het ingebouwde doorgelaten bodemlicht op de basis verlicht transparante en semi-transparante monsters voor het observeren van interne contouren en randstructuren. Eén eenheid verzorgt zowel oppervlakte-inspectie als analyse van doorschijnende monsters.

Vraag 3: Hoe zijn de beeldprestaties van de GP-306S-4K en ondersteunt deze metingen en het opslaan van records?

A1: Uitgerust met een 4K high-definition beeldvormingssysteem met een resolutie van 3840×2160. De ondersteunende software ondersteunt nauwkeurige maatmeting. Er zijn foto- en video-opnamen beschikbaar waarmee inspecteurs afbeeldingen kunnen opslaan en meetgegevens voor traceerbaarheid van kwaliteit.

Vraag 4: Welke voordelen heeft het basis- en standaardontwerp van dit systeem?

A4: Het heeft een speciale witte basis met een transparant venster voor observatie van doorvallend licht, gecombineerd met een verticale standaard met één pijler. Het scherpstelhandwiel heeft een soepele en stabiele demping. De hele structuur is solide en bestand tegen kleine trillingen in de werkplaats, ideaal voor langdurige kwaliteitscontrole.

Vraag 5: Is er een computer nodig voor observatie bij het bedienen van deze microscoop?

A5: Het kan rechtstreeks op een monitor worden aangesloten voor liveweergave, foto-opname en video-opname zonder pc. Geavanceerd functies zoals softwaremeting en gegevensexport worden flexibel beschikbaar na aansluiting op een computer aanpassing aan de behoeften van verschillende werkstations.A3: Fluctuaties worden veroorzaakt door inconsistente handmatige puntselectie, werkstukafwijking, onscherpe afbeeldingen of ongeldige kalibratie. Bevestig het werkstuk, zorg voor een duidelijke handmatige scherpstelling, verenig selectiestandaarden en voer nauwkeurige herkalibratie uit om de meetstabiliteit en herhaalbaarheid te verbeteren.

Vraag 6: Waarom zijn er kleurafwijkingen op de weergegeven afbeelding?

A4: Controleer de witbalansinstelling. Voer een handmatige witbalanskalibratie uit ten opzichte van een standaard witreferentie oppervlak. Controleer ook of de helderheid van de lichtbron stabiel is.

V7: Geen HDMI-scherm en mislukte software-opname van beelden?

A5: Controleer de voeding en de goede aansluiting van de HDMI- en USB-poorten en bevestig de juiste signaaluitvoermodus. Vervang defecte kabels indien nodig. Start het apparaat opnieuw op om de normale beeldweergave en opnamefuncties te herstellen.