4K digitale microscoop met hoge vergroting en verlichting aan de boven- en onderkant

Gaopin GP-307S-4K 4K digitale microscoop met hoge vergroting en verlichting aan de boven- en onderkant. Deze 4K digitale ultrahoge vergroting Microscoop met boven- en onderverlichting en parfocale zoom van 95X tot 614X, het model met de hoogste vergroting in deze serie. Het is uitgerust met een 4K-camera en een hoogwaardige monoculaire zoomlens. De basis integreert dubbele lichtbronnen: toplicht voor micro-oppervlaktemorfologie-inspectie, doorvallend licht van onderen voor semi-transparante dunne monsters. Ingebouwd meting systeem ondersteunt dimensiemeting op micronniveau, snapshot- en video-opslag, ontworpen voor sterke vergroting inspectie van ultrakleine werkstukken.

Verschil met conventionele op het lichaam gemonteerde microscopen

Verschil met gewone microscopen:Standaard digitale microscopen kunnen nauwelijks stabiel worden vergroting rond 600X en de meeste missen doorgelaten bodemlicht om de contouren van semi-transparante monsters te bekijken. Dit 4K digitale microscoop met hoge vergroting en verlichting aan de boven- en onderkant bereikt een parfocale zoom van 95–614x met stabiele scherpe beelden bij hoge vergroting. Dubbele lichtbronnen kunnen vrij worden geschakeld. Eén machine verwerkt beide reflecterende oppervlakte-inspectie en verzonden contourobservatie, ter ondersteuning van precisiemetingen op micronniveau, beter presteren dan gewone digitale microscopen.

Technische specificaties

Producttoepassingen

Toepassingsgebied:Gebruikt voor micro-defectinspectie en meting van afmetingen op micronniveau microchips, snijgereedschapranden, vezeleindvlakken, miniatuur elektronische onderdelen en dunne optische films. Het observeert microkrassen, chippen, lijndikte en lichtdoorlatende contouren. Geschikt voor halfgeleider, optische component en precisiesnijgereedschapindustrieën.

Overzicht productentiteit

95-614 Voor welke producten is dit detectiebereik geschikt?

1. Inspectie van ultrafijne PCB-sporen en BGA-microsoldeerverbindingen:Observeer ultrafijne PCB-sporen en BGA-soldeerballen, detecteren micro-koud soldeer, soldeerbalkraken, circuitgaten en pinholes voor soldeermaskers. 95–614X is geschikt voor fijne defectinspectie op microschaal.

2. Inspectie van halfgeleiderchippennen en verpakking:IC-chips, waferpinnen en precisie connectorpinnen. Controleer pencorrosie, kleine chipjes, overtollig soldeer en verpakkingsscheuren, observeer de micromorfologie van pinnen.

3. Metallografische observatie van de krimpdoorsnede van precisieterminals:Gesneden kabelboom koperen aansluitingen, controleer koperdraadbreuk, krimpholtes, ongelijkmatige plaatdikte en microvervorming van doorsnede voor analyse van kabelboomstoringen.

4. Screening op microdefecten voor miniatuurprecisiehardware:Micro-gedraaide onderdelen, micro-gat componenten en precisiecontacten. Detecteer microscheuren, gaatjes in de coating, fijne bramen en slijpkrassen oppervlakken.

5. Observatie van de micromorfologie van materiaalcoatings en poeders:Metaalbeplating, filmcoating, poeder- en vezelmonsters. Observeer de deeltjesvorm en coatingporiën voor materiaalvergelijking en foutanalyse.

6. Meting van kleine precisieafmetingen:Werk samen met meetsoftware om fijn te meten lijnbreedte, binnendiameter van micro-gaten, kleine openingen en laagdikte, voldoen aan zeer nauwkeurige metingen eisen van laboratoria en kwaliteitscontrolestations.

Bewijs en betrouwbaarheid ter plaatse (testen uit de eerste hand)

1. Stabiele 4K-beelden

Resolutie van 3840×2160, zonder vervorming voor langdurig werk, vangt microdefecten op voor kwaliteitscontrolebewijs.

2. Betrouwbare parfocale zoom

95–614× parfocale zoomlens. Geen frequente herfocussering op vergrotingsverandering, geen beeldafwijking voor uiterst nauwkeurige inspectie.

3. Stabiele dubbele lichtbron

Schakelbaar coaxiaal bovenlicht en doorvallend onderlicht, werkt voor zowel transparante als ondoorzichtige monsters met gelijkmatige verlichting.

4. Stabiele meetuitvoer met meerdere poorten

HDMI+USB3.0+LAN, dynamische beeldmeting, conversie van meerdere eenheden, foto-/video-opname voor traceerbare records.

5. Trillingsbestendige basis

Speciaal monsterplatform en metalen standaard, anti-onscherpte onder kleine trillingen in de werkplaats voor observatie met hoge vergroting.

Unieke ontwerpvoordelen

1. 95X–614X parfocale continue zoomlens

De focus blijft consistent tijdens het zoomen, ideaal voor inspectie van microcomponenten, kleine scheurtjes en precisiepinnen.

2. Dubbele, onafhankelijk instelbare lichtbronnen

Gereflecteerd licht bovenaan de ring + doorvallend licht onderaan met afzonderlijke helderheidsregeling, compatibel met transparant en ondoorzichtige monsters, waardoor reflectie en schaduwen worden verminderd.

3. Native 4K Ultra HD-beeldvorming en ingebouwde metingen

Directe maatmeting op monitor. Ondersteunt lengte-, hoek-, straal- en oppervlaktemetingen, waarvoor geen pc nodig is kwaliteitscontrole ter plaatse.

4. HDMI + USB dubbele synchrone uitgang

HDMI voor realtime preview; USB maakt dieptestapeling, beeldarchivering en export van meetrapporten voor de werkplaats mogelijk en laboratoriumgebruik.

5. Transparant podium en robuuste metalen standaard

Lichtdoorlatende basis voor observatie met doorvallend licht. Trillingsbestendige metalen ondersteuning zorgt voor stabiele beeldvorming tijdens langdurige, continue inspectie.

Dagelijks onderhoud van de elektronenmicroscoop

· Zorg voor optische lenzen:Gebruik uitsluitend professioneel optisch lensdoekje of een stofvrije microvezeldoek veeg de lensoppervlakken af. Gebruik nooit keukenpapier of een ruwe doek om krassen op de lenscoating te voorkomen. Voor vingerafdrukken en olie Bij vlekken kunt u een kleine hoeveelheid optisch schoonmaakmiddel op de doek aanbrengen. Druppel geen vloeistof rechtstreeks op de lens. Vermijd door het optische oppervlak van de lens met de hand aan te raken.

· Onderhoud van camera, lenscilinder en standaard:Reinig de 4K-camera, zoomcilinder en metalen kolom met een droge stofvrije zachte doek. Stel het hele apparaat niet bloot aan water. Houd alcohol, aceton en andere sterke dranken corrosieve oplosmiddelen weg om verf en gedrukte markeringen te beschermen. Houd alle connectoren droog om metaaloxidatie te voorkomen slecht kontakt.

· Zorg voor podium- en dubbele lichtbronnen:Verwijder stof van het witte podium en de bovenste en onderste LED dubbele lichtring met droge, zachte doek. Maak het lichtvenster op dezelfde manier schoon als de lens, gebruik geen bijtende middelen vloeistof. Trek niet met kracht aan de lichtkabel.

· Onderhoud focusmechanisme:Verwijder regelmatig het stof van de focusknoppen en kolomgeleiderails. Een kleine hoeveelheid droog vet kan worden aangebracht. Vloeibare smeermiddelen zijn verboden, om te voorkomen dat olie druipt en vervuilt lenzen, lichtbronnen en monsters. Bedien de focusknop voorzichtig, draai hem niet met kracht om schade aan de versnelling te voorkomen.

· Stroom & Milieu:Gebruik de originele voedingsadapter. Plaats de apparatuur in een droge, stofarme omgeving omgeving, uit de buurt van hoge temperaturen, vochtigheid en zware trillingen. Schakel de adapter uit en koppel deze los als deze niet is aangesloten lange tijd gebruiken.

Hoe u een model kiest

1. Werkstukken met hoge vergroting:Monsters die een vergroting van 95×–614× vereisen voor inspectie van kleine monsters krassen en microscheurtjes.

2. Transparante en ondoorzichtige monsters:Ook geschikt voor ondoorzichtige onderdelen zoals metaal en kunststof als transparante en semi-transparante werkstukken zoals films en glas, dankzij dubbele lichtbronnen.

3. Vereiste maatmeting:Producten waarvoor meting op micronniveau van lengte, hoek en lengte nodig is boog, met het verzamelen van gegevens en het genereren van inspectierecords.

4. Micro-precisiecomponenten:Micro-elektronische componenten, chippennen, kleine mallen, precisie hardware en andere miniatuurwerkstukken.

5. Beeldarchivering nodig:Producten waarvoor foto- en video-opnamen nodig zijn voor bewijs van defecten en kwaliteit rapporten, bewijs van klachten van klanten en traceerbaarheid van processen.

6. Maatwerk:Ondersteunt neutrale verzending

Gezaghebbende partners en klanten

GAOPIN-microscopen worden gebruikt door toonaangevende ondernemingen, onderzoeksinstituten en universiteiten. Onze samenwerking relaties omvatten:

Beijing Institute of Technology – Microscopisch onderzoek naar precisie-apparaten en nieuwe materialen

CATL – Inspectie op microdefecten voor elektroden en cellen van lithiumbatterijen

Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detectie van afmetingen en microfouten voor nauwkeurig machinaal bewerken onderdelen

Fudan University – Microscopische observatie en onderzoek naar materialen en biologische monsters

Huawei Technologies Co., Ltd. – kwaliteitscontrole van inkomend materiaal en productielijn

Tsinghua University - onderwijs, laboratoriumbeeldvorming en experimentele archivering

Over GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., opgericht in 2011, waarvan de oprichter industriële expertise heeft opgebouwd is sinds 2005 een op technologie gerichte onderneming gespecialiseerd in het ontwerp, R&D, verkoop en after-sales service van industriële microscopen. Met een kerntechnisch team met meer dan tien jaar professionele knowhow, beschikt de bedrijf garandeert bewezen technologieën en consistente productbetrouwbaarheid. GAOPIN biedt er meer dan honderd optische productmodellen en bedient klanten over de hele wereld, waarbij hij zich toelegt op het leveren van op maat gemaakte, kosteneffectieve microscopieoplossingen. We bieden snelle wereldwijde technische ondersteuning voor online conferenties, video-ondersteunde bedieningsbegeleiding en trainingssessies op afstand. Onze productiebasis is gevestigd in Kunshan, Provincie Jiangsu, in de nabijheid van Shanghai. Zowel fabrieksinspecties ter plaatse als virtuele rondleidingen door de fabriek zijn mogelijk beschikbaar voor klanten. Neem gerust contact met ons op voor voorbeeldtestbeelden gemaakt met deze 4K Ultra Digitale microscoop met hoge vergroting en verlichting aan de boven- en onderkant, zodat u de beeldprestaties kunt beoordelen direct.

Veelgestelde vragen

Vraag 1: Welke inspectievoordelen biedt het dual-light-ontwerp van de GP-307S-4K-microscoop?

A1: De unit is voorzien van bovenverlichting en doorvallend licht van onderen. Toplicht is voor oppervlaktefunctie observatie, terwijl doorvallend licht van onderen wordt gebruikt om interne contouren van transparant of semi-transparant te bekijken monsters. Eén microscoop verwerkt monsters van verschillende materialen.

Vraag 2: Wat is het vergrotingsbereik en de parfocale zoomfunctie van deze microscoop?

A2: Het biedt een vergroting van 95X tot 614X met parfocale zoom. De focus blijft consistent bij het veranderen van de vergroting, het elimineren van de noodzaak van herhaalde heroriëntatie en het verhogen van de inspectiesnelheid.

V3: Ondersteunt de GP-307S-4K afmetingsmeting en wat is de beeldstandaard?

A3: Het maakt gebruik van een 4K-beeldvormingssysteem met een resolutie van 3840×2160. Matchingsoftware ondersteunt nauwkeurige metingen. Gebruikers kan foto's en video's maken om voorbeeldafbeeldingen en inspectierecords op te slaan voor kwaliteitsarchief.

Vraag 4: Wat zijn de kenmerken van de standaard en basis voor dit systeem?

A4: Het wordt geleverd met een speciale witte inspectiebasis en een verticale standaard met één pilaar. De basis is transparant venster voor doorvallend licht. Het focussamenstel beweegt soepel en blijft stabiel zonder te verschuiven tijdens het scherpstellen langdurige inspectie.

Vraag 5: Welke praktische voordelen biedt de parfocale zoomfunctie voor de kwaliteitscontrole?

A5: De focus blijft ongewijzigd tijdens het wisselen van vergroting. Operators hoeven de weergave niet te verplaatsen herhaaldelijk. Het is ideaal voor snelle batchbemonstering, het verminderen van overbodige handelingen en het verbeteren van de productielijn efficiëntie van de inspectie.